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化学分析装置制造方法及图纸

技术编号:40603660 阅读:4 留言:0更新日期:2024-03-12 22:09
本发明专利技术提供一种在故障诊断中容易推定故障位置的化学分析装置。化学分析装置具备多个被分注检体和试剂的反应单元,通过对收容于反应单元的检体和试剂的混合液照射光并对通过了混合液的光进行测光的测光系统来进行吸光度测定,该化学分析装置具备进行故障诊断的诊断部,诊断部存储使用故障诊断用的样品检体和故障诊断用的试剂而测定出的时间序列的测光系统数据,针对每个预定的反应单元生成故障诊断用的测光数据的总体,将针对每个预定的反应单元生成的测光数据的总体的测光数据与预先设定的阈值进行比较来进行故障诊断。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及化学分析装置,特别涉及具备故障诊断功能的化学分析装置。


技术介绍

1、化学分析装置具有:将样品及试剂供给至反应容器的自动样品及试剂供给机构;对反应容器内的样品及试剂进行搅拌的自动搅拌机构;在反应中或反应结束后对样品的物性进行测量的比色测定部;对测量结束的样品进行吸引及排出,对反应容器进行清洗的自动清洗机构;以及对这些动作进行控制的控制部。化学分析装置的处理能力从每小时数百个测试到大型装置情况下的每小时9000个测试以上。

2、在比色测定部中,将来自光源的白色光照射到反应容器内的被测定溶液,通过分光装置对透过的光进行分光。测定分光后的光中特定波长的光强度,将其与预先测定的基准浓度的溶液的光强度进行比较,由此计算吸光度。根据吸光度,分析被测定溶液中的化学成分。

3、在化学分析装置中,使用卤素灯作为光源。卤素灯是覆盖从可见区域到近红外区域的连续光谱光源。另外,具有通过卤素循环而灯丝的寿命较长这样的优异的特性。

4、对光源灯设定了额定寿命。额定寿命被定义为大量灯的寿命的平均值。因此,在到达额定寿命时,并非所有的灯都到达寿命。例如,也存在在到达额定寿命之前不能点亮的情况。

5、因此,对灯设定推荐更换期间。推荐更换期间设定得比额定寿命短。即,针对额定寿命估计余量来设定推荐更换期间。若该余量过大,则灯的更换频度变高,运行成本变大。

6、因此,为了抑制运行成本,只要估计相对于额定寿命较少的余量来设定推荐更换期间即可。然而,在该情况下,已知即使在寿命末期确保了满足规格的光量,也会发生光量在短时间内变动的现象。光量的变动导致测定精度的变动。因此,减少余量来设定灯的推荐更换期间存在限度。

7、在专利文献1中,以提供一种能够延长光源灯的寿命,确保测定精度的化学分析装置为目的,提出了为了延长灯的寿命而将光源驱动电力设定为比额定值低的值,且空白吸光度收敛于预定的允许值内的方法。另外,在专利文献1中,提出了监视向光源供给的光源驱动电力,诊断光源灯的寿命、光源灯的故障,或者监视吸光度,诊断光源灯的故障。

8、在专利文献2中,以能够早期掌握具备光检测器的测定部的异常为目的,提出了一种自动分析装置,其具备:检体容器保持部,其保持收容测定对象的检体的检体容器;试剂容器保持部,其保持收容试剂的试剂容器;反应容器保持部,其保持搅拌检体以及试剂的反应容器;检体分注部,其从检体容器吸引检体,向反应容器分注检体;试剂分注部,其从试剂容器吸引试剂,向反应容器分注试剂;测定部,其测定使分注到反应容器的检体与试剂反应而得到的反应物;控制部,其针对测定部在自动分析装置启动时、预定单位的检体的测定开始时以及预定单位的检体的测定结束时,进行测定部的自我诊断,基于测定部的测定值来判定测定部的正常或者异常;以及显示部,其通过控制部的控制,按时间序列显示测定部进行自我诊断而得到的测定值。

9、现有技术文献

10、专利文献

11、专利文献1:日本特开2008-058151号公报

12、专利文献2:日本特开2019-158738号公报


技术实现思路

1、专利技术所要解决的课题

2、根据专利文献1,能够延长光源灯的寿命,确保测定精度。

3、但是,在专利文献1中没有记载对光源灯以外的故障进行诊断的方法。除了光源灯以外,有时为了满足分注机构、搅拌机构、清洗机构、反应单元等装置的分析性能而分别进行阈值判断等,但各机构的故障诊断独立,难以确定故障部位,有时恢复要花费时间。

4、根据专利文献2,即使在启动时判定为测定部正常,在预定单位的检体的测定开始时以及预定单位的检体的测定结束时判定为测定部异常的情况下,也能够迅速地掌握异常,进行预定的应对,能够消除伴随着持续使用被判定为异常的测定部的测定值的异常。但是,在专利文献2中,没有记载对具备光检测器的测定部的异常以外进行诊断的方法。

5、本专利技术的目的在于提供一种在故障诊断中容易推定故障位置的化学分析装置。

6、用于解决课题的手段

7、为了实现所述课题,本专利技术的化学分析装置如请求专利保护的范围所记载的那样构成。此外,在请求专利保护的范围中,引用形式的请求项中的其他请求项的引用,为了容易理解引用形式的请求项的记载而设为单项引用,但本专利技术包含在引用形式的请求项中引用多个请求项的方式(多项引用项)以及引用多个多项引用项的方式。

8、具体而言,本专利技术的化学分析装置例如是具备多个被分注检体和试剂的反应单元,通过对收容于反应单元的检体与试剂的混合液照射光并对通过了混合液的光进行测光的测光系统来进行吸光度测定的化学分析装置,具备进行故障诊断的诊断部,诊断部存储使用故障诊断用的样品检体和故障诊断用的试剂而测定出的时间序列的测光系统数据,针对每个预定的反应单元生成故障诊断用的测光数据的总体,将针对每个预定的反应单元生成的测光数据的总体的测光数据与预先设定的阈值进行比较来进行故障诊断。

9、另外,诊断部取得分注机构、搅拌机构等构成化学分析装置的各种机构的时序数据,在将针对每个预定的反应单元生成的测光数据的总体的测光数据与预先设定的阈值进行比较而进行了故障判定的情况下,与各种机构的时序数据进行对照来推定故障位置。

10、专利技术效果

11、根据本专利技术,在故障诊断中故障位置的推定变得容易。

12、所述以外的课题、结构以及效果通过以下的实施方式的说明而明确。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种化学分析装置,具备多个被分注检体和试剂的反应单元,通过对收容于所述反应单元的所述检体与所述试剂的混合液照射光并对通过了所述混合液的光进行测光的测光系统来进行吸光度测定,其特征在于,

2.根据权利要求1所述的化学分析装置,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的化学分析装置,其特征在于,

4.根据权利要求2所述的化学分析装置,其特征在于,

5.根据权利要求2所述的化学分析装置,其特征在于,

6.根据权利要求5所述的化学分析装置,其特征在于,

7.根据权利要求5所述的化学分析装置,其特征在于,

8.根据权利要求2所述的化学分析装置,其特征在于,

9.根据权利要求2所述的化学分析装置,其特征在于,

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种化学分析装置,具备多个被分注检体和试剂的反应单元,通过对收容于所述反应单元的所述检体与所述试剂的混合液照射光并对通过了所述混合液的光进行测光的测光系统来进行吸光度测定,其特征在于,

2.根据权利要求1所述的化学分析装置,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的化学分析装置,其特征在于,

4.根据权利要求2所...

【专利技术属性】
技术研发人员:高丽友辅铃木睦三佐佐木幸太吉田悟郎田中裕人纲岛健太
申请(专利权)人:株式会社日立高新技术
类型:发明
国别省市:

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