【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于土壤探测,具体涉及土壤水分综合分析仪。
技术介绍
1、目前测定土壤水分的办法有很多,比如重量法、烘干法和容器法以及电阻率法。传统测量方法中取土样及处理土样等步骤十分复杂繁琐,占据整个测定实验大部分时间,测定的效率也随之降低。其次必须破坏土壤样品,在传统的土壤水分测定方法中,通常需要提取土壤样品进行后续的处理和分析,这意味着必须破坏土壤的完整性。这可能会影响土壤的原始结构和性质,并且对土壤中的微生物和根系等生态系统也会有一定的干扰。同时可能引入误差:在传统土壤水分测定方法中,存在一些可能引入误差的步骤,例如土壤样品的提取、干燥过程中的水分损失、称量过程中的误差等。这些误差可能会影响测量结果的准确性。针对以上问题,目前市面存在一种tdr时域法土壤水分测量仪,但其价格高昂、操作繁琐且功能单一,在使用前需要进行专门的培训,增加使用成本,且对需测量的土壤处理要求高,受土壤性质影响较大等因素,限制了tdr的广泛使用。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供土壤水分综合分析仪,以解决上
...【技术保护点】
1.土壤水分综合分析仪,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的土壤水分综合分析仪,其特征在于:所述安装筒(1)、显示器(2)和探针(3)电性连接。
3.根据权利要求2所述的土壤水分综合分析仪,其特征在于:所述RTK芯片固定安装在安装筒(1)内壁顶部,所述RTK芯片靠近显示器(2)设置。
4.根据权利要求3所述的土壤水分综合分析仪,其特征在于:所述显示器(2)显示内容包括土壤示意图和测量点位信息,所述测量点位信息包括点位深度、土壤水分含量和经纬度值。
5.根据权利要求4所述的土壤水分综合分析仪,其特征在于:所述RTK
...【技术特征摘要】
1.土壤水分综合分析仪,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的土壤水分综合分析仪,其特征在于:所述安装筒(1)、显示器(2)和探针(3)电性连接。
3.根据权利要求2所述的土壤水分综合分析仪,其特征在于:所述rtk芯片固定安装在安装筒(1)内壁顶部,所述rtk芯片靠近显示器(2)设置。
4.根据权利要求3所述的土壤水分综合分析仪,其特征在于:所述显示器(2)显示内容包括土壤示意图和测量点位信息,所述测量点位信息包括点位深度、土壤水分含量和经纬度值。
5.根据权利要求4所述的土壤水分综合分析仪,其特征在于:所述rtk芯片与显示器(2)电性连接,所述显示器(2)上显示有卫星信号和电量信息。
6.根...
【专利技术属性】
技术研发人员:王国芳,刘虎平,李耀宇,郭昭东,徐梦姣,张吴平,黄明镜,
申请(专利权)人:山西农业大学,
类型:发明
国别省市:
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