【技术实现步骤摘要】
本申请涉及岩性密度测井，尤其涉及一种岩性密度测井的刻度方法、系统及电子设备。
技术介绍
1、在地质钻孔中常使用密度测井仪来测量岩层密度，其原理为放射性伽玛射线在物质中的康普顿效应。而钻井上普遍存在泥饼，为了消除泥饼的影响，使用双源距补偿的办法来求得地层密度。为尽量减小井径变化和泥饼的影响，补偿密度测井仪器采用了源距不同的2个或3个探测器，贴井壁进行测量。其中，采用两个探测器：长源距探测器和短源距探测器的测井仪为补偿密度测井仪，可以补偿钻孔内泥浆、孔壁泥饼等因素对密度测量的影响。而采用第三个探测器：近探测器的测井仪，其结果用来校正井径变化和泥饼对长源距探测器的影响。
2、密度测井之前必须进行正确的刻度，而目前的方案主要是针对密度测井仪的硬件和电子设计进行的改进，例如，现有技术cn111764886a提供的密度测井方法，通过在测量时使密度探头与井壁预贴靠，由于重力偏心件通过转接组件安装于密度探头上，重力偏心件的重心朝向井壁偏离密度探头的轴线预设距离，重力偏心件的重力对密度探头产生扭矩作用，使密度探头与井壁贴靠紧密，提高了密度探头测井结果的准确度。然而在密度测井的刻度阶段却暂无相关整体方案以提高刻度精度，进而提高密度测井仪在实际测井时的密度测量精度。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种岩性密度测井的刻度方法、系统及电子设备，以解决或者部分解决如何提高密度测井仪的刻度精度，实现提高测井时的密度测量精度的技术问题。
2、为解决上述技术问题，第一方面，根据本专利技术
3、获取标准井的标准密度和测井数据；
4、对所述测井数据进行能量窗口划分，获得目标窗口数据；所述目标窗口数据包括选定能量窗口内的重泥饼长源距计数率、重泥饼短源距计数率、轻泥饼长源距计数率、轻泥饼短源距计数率、无泥饼长源距计数率和无泥饼短源距计数率；
5、根据所述目标窗口数据，确定重泥饼长源距密度、重泥饼短源距密度、轻泥饼长源距密度和轻泥饼短源距密度；
6、基于所述标准密度、所述重泥饼长源距密度、所述重泥饼短源距密度、所述轻泥饼长源距密度和所述轻泥饼短源距密度，获得重泥饼校正方程和轻泥饼校正方程；所述重泥饼校正方程为第一参数与第二参数之间的线性拟合方程，所述轻泥饼校正方程为第三参数与第四参数之间的多项式拟合方程；所述第一参数为所述重泥饼长源距密度与所述重泥饼短源距密度的对数差，所述第二参数为所述标准密度与所述重泥饼长源距密度的对数差，所述第三参数为所述轻泥饼长源距密度与所述轻泥饼短源距密度的对数差，所述第四参数为所述标准密度与所述轻泥饼长源距密度的对数差；
7、基于所述重泥饼短源距密度、所述重泥饼长源距密度和所述重泥饼校正方程，确定所述标准井在重泥饼影响下的第一密度；基于所述轻泥饼短源距密度、所述轻泥饼长源距密度和所述轻泥饼校正方程，确定所述标准井在轻泥饼影响下的第二密度；
8、基于所述第一密度、所述第二密度和所述标准密度进行刻度。
9、可选的，所述根据所述目标窗口数据，确定重泥饼长源距密度、重泥饼短源距密度、轻泥饼长源距密度和轻泥饼短源距密度，包括：
10、根据所述重泥饼长源距计数率、所述重泥饼短源距计数率、所述轻泥饼长源距计数率、所述轻泥饼短源距计数率、所述无泥饼长源距计数率和所述无泥饼短源距计数率，获得脊肋图；
11、在所述脊肋图满足设定条件时，根据所述目标窗口数据，确定所述重泥饼长源距密度、所述重泥饼短源距密度、所述轻泥饼长源距密度和所述轻泥饼短源距密度；
12、在所述脊肋图不满足设定条件时，调整所述测井数据的能量窗口划分，并根据调整窗口数据，确定所述重泥饼长源距密度、所述重泥饼短源距密度、所述轻泥饼长源距密度和所述轻泥饼短源距密度；
13、其中，所述设定条件包括：所述脊肋图中的所述无泥饼长源距计数率的对数与所述无泥饼短源距计数率的对数满足线性关系，所述重泥饼长源距计数率的对数与所述重泥饼短源距计数率的对数满足线性关系，且所述轻泥饼长源距计数率的对数与所述轻泥饼短源距计数率的对数满足非线性关系。
14、可选的，所述目标窗口数据还包括选定能量窗口内的本底刻度长源距计数率、本底刻度短源距计数率、铝块刻度长源距计数率和铝块刻度短源距计数率；
15、所述根据所述目标窗口数据，确定所述重泥饼长源距密度、所述重泥饼短源距密度、所述轻泥饼长源距密度和所述轻泥饼短源距密度，包括：
16、根据所述本底刻度长源距计数率、所述本底刻度短源距计数率、所述铝块刻度长源距计数率、所述铝块刻度短源距计数率、所述无泥饼长源距计数率和所述无泥饼短源距计数率，确定长源距密度方程和短源距密度方程；
17、根据所述短源距密度方程、所述轻泥饼短源距计数率、所述本底刻度短源距计数率和所述铝块刻度短源距计数率，确定所述轻泥饼短源距密度；
18、根据所述长源距密度方程、所述轻泥饼长源距计数率、所述本底刻度长源距计数率和所述铝块刻度长源距计数率，确定所述轻泥饼长源距密度；
19、根据所述短源距密度方程、所述重泥饼短源距计数率、所述本底刻度短源距计数率和所述铝块刻度短源距计数率，确定所述重泥饼短源距密度；
20、根据所述长源距密度方程、所述重泥饼长源距计数率、所述本底刻度长源距计数率和所述铝块刻度长源距计数率，确定所述重泥饼长源距密度。
21、可选的，所述短源距密度方程为：
22、rho_ess＝ρal-d1×ln[(sw1-bsw1)/(asw1-bsw1)]；
23、其中，rho_ess为短源距密度，sw1为短源距计数率，bsw1为所述本底刻度短源计数率，asw1为所述铝块刻度短源计数率，ρal为铝块密度，d1为短源距系数；
24、所述长源距密度方程为：
25、rho_els＝ρal-d2×ln[(lw1-blw1)/(alw1-blw1)]；
26、其中，rho_els为长源距密度，lw1为长源距计数率，blw1为所述本底刻度长源距计数率，alw1为所述铝块刻度长源距计数率，d2为长源距系数。
27、可选的，所述基于所述重泥饼短源距密度、所述重泥饼长源距密度和所述重泥饼校正方程，确定所述标准井在重泥饼影响下的第一密度，包括：
28、获得所述重泥饼长源距密度与所述重泥饼短源距密度之间的第一差值；根据所述第一差值和所述重泥饼校正方程，确定重泥饼校正量；根据所述重泥饼长源距密度和所述重泥饼校正量，获得所述第一密度；
29、所述基于所述轻泥饼短源距密度、所述轻泥饼长源距密度和所述轻泥饼校正方程，确定所述标准井在轻泥饼影响下的第二密度，包括：
30、获得所述轻泥饼长源距密度与所述轻泥饼短源距密度之间的第二差值；根据所述第二差值和所述轻泥饼校正方程，确定轻泥饼校正量；根据所述轻泥饼长源距密度和所述轻泥饼校正量，获得本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种岩性密度测井的刻度方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标窗口数据，确定重泥饼长源距密度、重泥饼短源距密度、轻泥饼长源距密度和轻泥饼短源距密度，包括：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述目标窗口数据还包括选定能量窗口内的本底刻度长源距计数率、本底刻度短源距计数率、铝块刻度长源距计数率和铝块刻度短源距计数率；
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述短源距密度方程为：
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述重泥饼短源距密度、所述重泥饼长源距密度和所述重泥饼校正方程，确定所述标准井在重泥饼影响下的第一密度，包括：
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一差值和所述重泥饼校正方程，确定重泥饼校正量，包括：
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，若所述第一差值小于或等于0，则kh1＝0.421，b1＝-0.001；
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一密度、所述第二密度和所述标准密度
9.一种岩性密度测井的刻度系统，其特征在于，包括：
10.一种电子设备，所述电子设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8中任一项所述方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种岩性密度测井的刻度方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标窗口数据，确定重泥饼长源距密度、重泥饼短源距密度、轻泥饼长源距密度和轻泥饼短源距密度，包括：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述目标窗口数据还包括选定能量窗口内的本底刻度长源距计数率、本底刻度短源距计数率、铝块刻度长源距计数率和铝块刻度短源距计数率；
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述短源距密度方程为：
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述重泥饼短源距密度、所述重泥饼长源距密度和所述重泥饼校正方程，确定所述标准井在重泥饼影响下的第一...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐绘宏，林南粤，柳宁花，宋宇，周正志，贾占军，邵琨，刘东，赵长锋，谢昱北，闫俊杰，
申请(专利权)人：中国石油天然气集团有限公司，
类型：发明
国别省市：
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