System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种液晶玻璃基板挠度检测的方法技术_技高网

一种液晶玻璃基板挠度检测的方法技术

技术编号:40580266 阅读:9 留言:0更新日期:2024-03-06 17:23
本发明专利技术公开了一种液晶玻璃基板挠度检测的方法,属于液晶玻璃挠度检测技术领域。所述方法包括如下步骤S1.控制系统发出定位指令;S2.定位支撑装置进行液晶玻璃基板定位;S3.激光检测器进行液晶玻璃基板挠度测试;S4.计算系统分析数据后反馈。在本发明专利技术的检测方法中,通过设置定位支撑装置可有效减少不必要作业,实现不同尺寸液晶玻璃基板挠度检测的需求;通过设置激光检测器,可实现不同尺寸液晶玻璃基板的数据测量,并通过一体化的检测数据输出实现液晶玻璃基板挠度品质的精准掌控,保证液晶玻璃生产线玻璃基板挠度品质稳定受控。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于玻璃加工设备,具体涉及一种液晶玻璃基板挠度检测的方法


技术介绍

1、基板玻璃作为全球显示器发展中不可或缺的一部分,其品质高低是制约显示器发展的关键因素之一。玻璃挠度是衡量玻璃产品质量的重要指标,玻璃基板的挠度会导致光线折射不规则,从而影响显示器产品的视觉效果。同时挠度变形会导致玻璃板在受力或温度变化时发生破裂,从而造成安全隐患。因此,在生产玻璃基板时,应严格管控基板挠度,确保挠度品质符合要求。

2、传统挠度检测方式较为单一,一般是通过支撑块支撑玻璃,人工读取高度规度数,但该测量方法对玻璃基板尺寸有一定限定,无法测量尺寸较大的玻璃基板挠度,同时人工读数对测试结果造成的影响较大,并且测试前需要在玻璃上对支撑块进行放置点标记,耗费时间过长,工作效率低下。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种液晶玻璃基板挠度检测的方法,以解决对不同尺寸的液晶玻璃基板挠度检测效率低、检测精度差的问题。

2、本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现:

3、一种液晶玻璃基板挠度检测的方法,包括如下步骤:

4、s1.控制系统发出定位指令;

5、s2.定位支撑装置进行液晶玻璃基板定位;

6、s3.激光检测器进行液晶玻璃基板挠度测试;

7、s4.计算系统分析数据后反馈。

8、进一步的,所述s2中定位支撑装置设置有移动定位块,所述移动定位块通过接收定位指令实现对不同尺寸的液晶玻璃基板进行定位。>

9、进一步的,所述s3中激光检测器设置有激光检测探头和固定装置,所述激光检测探头由所述固定装置固定于所述定位支撑装置上。

10、进一步的,所述s4中计算系统分析数据后判断数据是否满足要求,满足要求则通过计算系统中设置的显示器输出合格数据信息;如果不满足要求,所述显示器报警,人工反馈异常数据。

11、进一步的,所述定位支撑装置、所述激光检测器和计算系统均设置有控制器,通过控制器与控制系统电连接,所述控制器内部包括主控制板、信息传输器、网络适配器和电力控制器,所述信息传输器通过网络与控制系统连接。

12、进一步的,所述控制系统通过控制器控制定位支撑装置、激光检测器和计算系统。

13、本专利技术的有益效果:

14、1.本专利技术提供一种液晶玻璃基板挠度检测的方法,所述方法利用控制系统发出指令使得定位支撑装置对液晶玻璃基板进行定位后,激光检测器对其进行挠度检测所得数据传输至计算系统进行数据分析整理,从而实现对液晶玻璃挠度的监控与异常报警。

15、2.本专利技术可精准检测玻璃基板因自身重力下垂的挠度数据,避免人工读数误差;无需人工对支撑块进行放置点标记,减少繁琐的人工操作流程及过多的人力支出,并实现挠度检测信息的远程传递。

16、3.本专利技术通过定位支撑装置的移动定位,可实现不同尺寸液晶玻璃基板的数据测量,并通过一体化的检测数据输出实现液晶玻璃基板挠度品质的精准掌控,保证液晶玻璃生产线玻璃基板挠度品质稳定受控。

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【技术保护点】

1.一种液晶玻璃基板挠度检测的方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种液晶玻璃基板挠度检测的方法,其特征在于,所述S2中定位支撑装置设置有移动定位块,对不同尺寸的液晶玻璃基板定位。

3.根据权利要求1所述的一种液晶玻璃基板挠度检测的方法,其特征在于,所述S3中激光检测器设置有激光检测探头和固定装置,所述激光检测探头由所述固定装置固定于定位支撑装置上。

4.根据权利要求1所述的一种液晶玻璃基板挠度检测的方法,其特征在于,所述S4中计算系统分析数据后判断数据是否满足要求,满足要求则输出合格数据信息;不满足要求则报警,人工反馈异常数据。

5.根据权利要求1所述的一种液晶玻璃基板挠度检测的方法,其特征在于,所述S1中控制系统通过设置控制器控制定位支撑装置、激光检测器和计算系统。

【技术特征摘要】

1.一种液晶玻璃基板挠度检测的方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种液晶玻璃基板挠度检测的方法,其特征在于,所述s2中定位支撑装置设置有移动定位块,对不同尺寸的液晶玻璃基板定位。

3.根据权利要求1所述的一种液晶玻璃基板挠度检测的方法,其特征在于,所述s3中激光检测器设置有激光检测探头和固定装置,所述激光检测探头由所述固定装...

【专利技术属性】
技术研发人员:张秋瑾俞秀雅颜晓娟侯静刘姣刘文婧吴晓娟
申请(专利权)人:彩虹合肥液晶玻璃有限公司
类型:发明
国别省市:

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