反射率校正方法、装置、计算机可读存储介质及终端设备制造方法及图纸

技术编号：40579804 阅读：4 留言：0更新日期：2024-03-06 17:22

一种反射率校正方法、装置、计算机可读存储介质及终端设备，该反射率校正方法在获取到激光雷达对目标物体进行测量得到的距离测量值和反射率测量值之后(S301)，会对距离测量值进行判断，若距离测量值大于预设的距离阈值(S302)，则认为激光的衰减程度已影响到反射率测量值的准确性，需要对其进行校正。在预设的参数表中查询与距离测量值对应的校正系数(S304)，并根据校正系数对反射率测量值进行校正，从而得到目标物体的反射率校正值(S305)。与反射率测量值相比，这一反射率校正值与实际的反射率更为接近，具有较好的实用价值。

全部详细技术资料下载

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术介绍

技术实现思路

【技术保护点】

PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

pct国内申请，权...

【专利技术属性】
技术研发人员：皮兴俊，
申请(专利权)人：深圳市速腾聚创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：

全部详细技术资料下载我是这个专利的主人