【技术实现步骤摘要】
本申请属产品检测，尤其涉及一种外观缺陷检测的调参方法、装置及可读存储介质。
技术介绍
1、3c类产品、石墨片、石墨卷、金属制品等工业制品的生产制造是一个及其复杂的过程，包含了一系列工序，例如，外观缺陷检测。外观缺陷的产生主要涉及产品的生产制造过程以及运输过程。除了对生产工艺各个环节都严格把控外，也需要对其外观缺陷进行检测。现有技术中，外观检测主要是通过设计各种繁琐复杂的算法来实现，且生产制造工厂给出了缺陷检出标准往往非常理想化，往往需要花费冗长的时间去调试算以满足生产要求的过杀漏检率，极大的影响了工厂的生产效能；且外观检测方法的产品针对性强，无法快速复刻到其他同类型产品的检测，也极大的抑制了产品外观检测的效率，反而会降低工厂的生产效率，增加生产成本。
2、综上所述，现有产品外观检测技术存在外观缺陷检测效率偏低的技术问题。
3、申请内容
4、针对上述现有技术存在的不足，本申请提供一种外观缺陷检测的调参方法、装置及可读存储介质，以提升产品外观检测的检测效率，加速满足产品品控的外观检测功能的快速上线，提高产品质量，满足生产制造端的检测要求以及产能要求，实现降本增效。
5、第一方面，本申请提供一种外观缺陷检测的调参方法，包括以下步骤：
6、配置充电头所有待检测面的每一个缺陷类型的参数信息和需要使用的特征类型；
7、根据所述充电头的外观缺陷检出标准，对每个所述待检测面的所有缺陷类型进行所述特征类型匹配；
8、根据所述待检测面的每个缺陷类型的特征类型的匹配结
9、根据实际生产检出数据，对特征阈值参数进行微调或者新增，以满足产线检出要求。
10、进一步，所述缺陷类型的参数信息包括缺陷名称和与所述缺陷名称对应的唯一标识码；所述特征类型包括缺陷的分数、前景亮度值、背景亮度值、前后景亮度差值、缺陷面积、最小外接矩形的长度、最小外接矩形的宽度、正矩形高度、正矩形宽度、长宽比、散度、感兴趣区域、缺陷个数、缺陷距离以及检出状态。
11、进一步，所述检出状态为ok或者ng，默认为ng；所述缺陷个数和所述缺陷距离是服务于缺陷检出涉及的集群操作；所述感兴趣区域为矩形坐标，表示形式为[x,y,w,h]，其中x为矩形中心点水平坐标值，y为矩形中心点垂直坐标值，w为矩形宽度，h为矩形高度。
12、进一步，外观缺陷检测的调参方法，还包括：
13、当需要新增所述充电头的新缺陷类型时，在对应待检测面中新增外观缺陷类型；
14、当需要屏蔽所述充电头的某个缺陷类型时，在对应待检测面中删除需要屏蔽的缺陷类型。
15、进一步，所述充电头的待检测面包括a面、b面、c面以及d面；所述a面为所述充电头公头的设置面，所述b面为所述充电头的公头表面，所述c面为所述充电头的壳主体侧面，所述d面为所述充电头的充电线接口设置面。
16、进一步，所述a面的缺陷类型包括划伤、压伤、黑点、凹坑、亮印以及异色；所述b面的缺陷类型包括pin划伤、pin压伤、pin露铜以及亮印；所述c面的缺陷类型包括划伤、压伤、黑点、凹坑、异物、膜点以及料花；所述d面的缺陷类型包括划伤、黑点以及亮印。
17、进一步，所述充电头a面划伤所匹配的特征类型包括分数、前景亮度值、面积、最小外接矩形的长度、最小外接矩形的宽度、长宽比以及感兴趣区域；所述充电头a面黑点所匹配的特征类型包括分数、前景亮度值、背景亮度值、前后景亮度差值、面积、正矩形高度、正矩形宽度以及感兴趣区域。
18、进一步，所述充电头c面异物所匹配的特征类型包括分数、前景亮度值、背景亮度值、前后景亮度差值、面积、正矩形高度、正矩形宽度以及散度。
19、第二方面，本专利技术提供一种外观缺陷检测的调参装置，包括：
20、缺陷参数配置模块，用于配置充电头所有待检测面的每一个缺陷类型的参数信息和需要使用的特征类型；
21、缺陷和特征匹配模块，用于根据所述充电头的外观缺陷检出标准，对每个所述待检测面的所有缺陷类型进行所述特征类型匹配；
22、特征阈值参数设置模块，用于根据所述待检测面的每个缺陷类型的特征类型的匹配结果，设置所述待检测面的缺陷检出的特征阈值参数；
23、特征阈值参数调整模块，用于根据实际生产检出数据，对特征阈值参数进行微调或者新增，以满足产线检出要求。
24、第三方面，本专利技术提供一种可读存储介质，所述可读存储介质储存计算机程序，所述计算机程序在处理器运行时实现上述任一项所述的外观缺陷检测的调参方法。
25、本申请与现有技术相比，其有益效果如下：
26、本申请提供一种外观缺陷检测的调参方法、装置及可读存储介质，通过配置充电头所有待检测面的每一个缺陷类型的参数信息和需要使用的特征类型，根据所述充电头的外观缺陷检出标准，对每个所述待检测面的所有缺陷类型进行所述特征类型匹配，根据所述待检测面的每个缺陷类型的特征类型的匹配结果，设置所述待检测面的缺陷检出的特征阈值参数，根据实际生产检出数据，对特征阈值参数进行微调或者新增，以满足产线检出要求，从而提升产品外观检测的检测效率，加速满足产品品控的外观检测功能的快速上线，提高产品质量，满足生产制造端的检测要求以及产能要求，实现降本增效。
技术实现思路
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，所述缺陷类型的参数信息包括缺陷名称和与所述缺陷名称对应的唯一标识码；所述特征类型包括缺陷的分数、前景亮度值、背景亮度值、前后景亮度差值、缺陷面积、最小外接矩形的长度、最小外接矩形的宽度、正矩形高度、正矩形宽度、长宽比、散度、感兴趣区域、缺陷个数、缺陷距离以及检出状态。
3.如权利要求2所述的外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，所述检出状态为OK或者NG，默认为NG；所述缺陷个数和所述缺陷距离是服务于缺陷检出涉及的集群操作；所述感兴趣区域为矩形坐标，表示形式为[x,y,w,h]，其中x为矩形中心点水平坐标值，y为矩形中心点垂直坐标值，w为矩形宽度，h为矩形高度。
4.如权利要求1所述的外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，还包括：
5.如权利要求1所述的外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，所述充电头的待检测面包括A面、B面、C面以及D面；所述A面为所述充电头公头的设置面，所述B面为所述充电头的公头表面，所述C面为所述充电
6.如权利要求5所述的外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，所述A面的缺陷类型包括划伤、压伤、黑点、凹坑、亮印以及异色；所述B面的缺陷类型包括pin划伤、pin压伤、pin露铜以及亮印；所述C面的缺陷类型包括划伤、压伤、黑点、凹坑、异物、膜点以及料花；所述D面的缺陷类型包括划伤、黑点以及亮印。
7.如权利要求6所述的外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，所述充电头A面划伤所匹配的特征类型包括分数、前景亮度值、面积、最小外接矩形的长度、最小外接矩形的宽度、长宽比以及感兴趣区域；所述充电头A面黑点所匹配的特征类型包括分数、前景亮度值、背景亮度值、前后景亮度差值、面积、正矩形高度、正矩形宽度以及感兴趣区域。
8.如权利要求6所述的外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，所述充电头C面异物所匹配的特征类型包括分数、前景亮度值、背景亮度值、前后景亮度差值、面积、正矩形高度、正矩形宽度以及散度。
9.一种外观缺陷检测的调参装置，其特征在于，包括：
10.一种可读存储介质，所述可读存储介质储存计算机程序，其特征在于，所述计算机程序在处理器运行时实现如权利要求1-8任一项所述的外观缺陷检测的调参方法。
...【技术特征摘要】
1.一种外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，所述缺陷类型的参数信息包括缺陷名称和与所述缺陷名称对应的唯一标识码；所述特征类型包括缺陷的分数、前景亮度值、背景亮度值、前后景亮度差值、缺陷面积、最小外接矩形的长度、最小外接矩形的宽度、正矩形高度、正矩形宽度、长宽比、散度、感兴趣区域、缺陷个数、缺陷距离以及检出状态。
3.如权利要求2所述的外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，所述检出状态为ok或者ng，默认为ng；所述缺陷个数和所述缺陷距离是服务于缺陷检出涉及的集群操作；所述感兴趣区域为矩形坐标，表示形式为[x,y,w,h]，其中x为矩形中心点水平坐标值，y为矩形中心点垂直坐标值，w为矩形宽度，h为矩形高度。
4.如权利要求1所述的外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，还包括：
5.如权利要求1所述的外观缺陷检测的调参方法，其特征在于，所述充电头的待检测面包括a面、b面、c面以及d面；所述a面为所述充电头公头的设置面，所述b面为所述充电头的公头表面，所述c面为所述充电头的壳主体侧面，所述d面为所述充电头的充电线接口设置面。<...
【专利技术属性】
技术研发人员：周志刚，陈志忠，段芳芳，李俊良，王逊，
申请(专利权)人：深圳市玻尔智造科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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