测试转接板及测试系统技术方案

技术编号:40571893 阅读:10 留言:0更新日期:2024-03-05 20:57
本技术公开一种测试转接板及测试系统,涉及设备测试技术领域,其中,该测试转接板包括:多个测试区域和多个切换模块,每个测试区域包括用于连接待测背光模组的多个测试接口,每个切换模块连接两个测试区域,用于将其连接的两个测试区域之一中的测试接口接入测试设备,以对待测背光模组进行分区测试。本技术能够解决测试设备检测路数不够用的问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及设备测试,特别涉及一种测试转接板及测试系统


技术介绍

1、显示设备的localdimming(背光模组的区域调光,即局部背光调节)产品测试,需要检测背光模组的每一路的电信号,例如电流。目前测试设备的检测背光模组的路数是有限的,当背光模组的路数超出测试设备的最大路数时,无法对背光模组进行检测。因此,如何解决测试设备检测路数不够用,成为了亟需解决的问题。


技术实现思路

1、本技术的实施例提供了一种测试转接板及测试系统,能够解决测试设备检测路数不够用的问题。

2、第一方面,本技术提出的一种测试转接板,包括:

3、m个测试区域,每个所述测试区域包括用于连接待测背光模组的多个测试接口,m大于或者等于2;

4、n个切换模块,n大于或者等于1;

5、其中,对于所述n个切换模块中的任一切换模块,所述切换模块连接两个测试区域,所述切换模块用于将其连接的两个测试区域之一中的测试接口接入测试设备,以对所述待测背光模组进行分区测试。

6、结合第一方面,在某些可能的实现方式中,所述切换模块包括控制电路和开关电路,所述控制电路与所述开关电路均与所述测试设备连接;

7、其中,所述控制电路用于在接收到所述测试设备发送的测试指令的情况下,控制所述开关电路导通所述切换模块连接的两个测试区域之一中的测试接口与所述测试设备之间的连接。

8、结合第一方面和上述实现方式,在某些可能的实现方式中,所述控制电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、电容,三极管和mos管;其中,所述第一电阻的第一端与所述测试设备连接,所述第二电阻的第一端、所述电容的第一端以及所述三极管的基极均与所述第一电阻的第二端连接;所述第二电阻的第二端、所述电容的第二端、所述三极管的发射极、所述第五电阻的第一端以及所述mos管的源极均接地;所述三极管的集电极和所述第三电阻的第一端均与所述第四电阻的第一端连接,所述第三电阻的第二端接电源,所述第四电阻的第二端、所述第五电阻的第二端均与所述mos管的栅极连接,所述mos管的漏极与所述开关电路连接。

9、结合第一方面和上述实现方式,在某些可能的实现方式中,所述开关电路包括第一二极管、第二二极管和继电器;所述第一二极管和所述第二二极管的正极均与所述继电器的负极以及所述mos管的漏极连接,所述第一二极管和所述第二二极管的负极均与所述继电器的正极以及电源连接,所述继电器的第一个常开触点与所述切换模块连接的一个测试区域中的测试接口连接,所述继电器的第二个常开触点与所述切换模块连接的另一个测试区域中的测试接口连接。

10、结合第一方面和上述实现方式,在某些可能的实现方式中,所述开关电路包括第一gt门、第二gt门和反相器;其中,所述第一gt门和所述第二gt门的输入端均与所述测试设备连接,所述第一gt门的输出端与所述切换模块连接的一个测试区域中的测试接口连接,所述第二gt门的输出端与所述切换模块连接的另一个测试区域中的测试接口连接,所述第一gt门的控制端与所述反相器的输出端连接,所述第二gt门的控制端和所述反相器的输入端均与所述mos管的漏极连接。

11、结合第一方面和上述实现方式,在某些可能的实现方式中,所述开关电路包括电磁铁、可被磁铁吸引的导电连接件、绝缘弹簧和导向柱;其中,所述导向柱的本体上间隔设有第一组件和第二组件,所述第二组件位于第一组件的下方;所述第一组件包括第一导电部件和第二导电部件,所述第一导电部件和所述第二导电部件之间具有间隔,且位于同一水平线上;所述第二组件包括第三导电部件和第四导电部件,所述第三导电部件和所述第四导电部件之间具有间隔,且位于同一水平线上;所述电磁铁与所述导向柱固定连接,且位于所述第二组件的下方;所述绝缘弹簧的一端与所述电磁铁靠近所述第二组件的一端固定连接,所述绝缘弹簧的另一端与所述导电连接件固定连接,所述导电连接件位于所述第一组件与所述第二组件之间;所述第一导电部件与所述切换模块连接的一个测试区域中的测试接口连接,所述第三导电部件与所述切换模块连接的另一个测试区域中的测试接口连接;所述第二导电部件和所述第四导电部件连接,所述第四导电部件与所述测试设备连接,所述电磁铁的负极接地,所述电磁铁的正极与所述mos管的漏极连接。

12、结合第一方面和上述实现方式,在某些可能的实现方式中,所述导电连接件与所述导向柱滑动连接,所述第一导电部件和所述第二导电部件具有磁性,所述第三导电部件和所述第四导电部件不具有磁性,且不可被磁铁吸引,所述电磁铁的磁力大于所述第一导电部件和所述第二导电部件的磁力。

13、结合第一方面和上述实现方式,在某些可能的实现方式中,所述导电连接件为可导电的永久性磁铁,所述导电连接件与所述第一导电部件和所述第二导电部件互相吸引,所述导电连接件与所述电磁铁互相吸引。

14、结合第一方面和上述实现方式,在某些可能的实现方式中,所述切换模块为单刀双掷开关,所述单刀双掷开关的公共端与所述测试设备连接,所述单刀双掷开关的第一个触点与所述切换模块连接的一个测试区域中的测试接口连接,所述单刀双掷开关的第二个触点与所述切换模块连接的另一个测试区域中的测试接口连接。

15、第二方面,本技术提出的一种测试系统,包括:

16、上述的测试转接板;

17、测试设备,所述测试设备与所述测试转接板连接。

18、结合第二方面,在某些可能的实现方式中,,所述测试系统还包括:电源电路,所述电源电路与所述测试设备和所述待测背光模组连接。

19、本申请实施例的测试转接板包括:多个测试区域和多个切换模块,每个测试区域包括用于连接待测背光模组的多个测试接口,每个切换模块连接两个测试区域,用于将其连接的两个测试区域之一中的测试接口接入测试设备,以对待测背光模组进行分区测试。通过切换模块可以将其连接的两个测试区域中的测试接口切换接入测试设备,从而完成待测背光模组上各个分区的测试,解决了测试设备检测路数不够用的问题,如果测试转接板上的测试接口不够用,则可以灵活的扩展测试转接板,在测试转接板上新增测试接口和切换模块,不需要更换后测试设备,不仅实现了背光模组上多分区的测试,还降低了测试成本,以及还加快了测试效率。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试转接板,其特征在于,所述测试转接板包括:

2.如权利要求1所述的测试转接板,其特征在于,所述切换模块包括控制电路和开关电路,所述控制电路与所述开关电路均与所述测试设备连接;

3.如权利要求2所述的测试转接板,其特征在于,所述控制电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、电容,三极管和MOS管;

4.如权利要求3所述的测试转接板,其特征在于,所述开关电路包括第一二极管、第二二极管和继电器;

5.如权利要求3所述的测试转接板,其特征在于,所述开关电路包括第一GT门、第二GT门和反相器;

6.如权利要求3所述的测试转接板,其特征在于,所述开关电路包括电磁铁、可被磁铁吸引的导电连接件、绝缘弹簧和导向柱;

7.如权利要求6所述的测试转接板,其特征在于,所述导电连接件与所述导向柱滑动连接,所述第一导电部件和所述第二导电部件具有磁性,所述第三导电部件和所述第四导电部件不具有磁性,且不可被磁铁吸引,所述电磁铁的磁力大于所述第一导电部件和所述第二导电部件的磁力。

8.如权利要求7所述的测试转接板,其特征在于,所述导电连接件为可导电的永久性磁铁,所述导电连接件与所述第一导电部件和所述第二导电部件互相吸引,所述导电连接件与所述电磁铁互相吸引。

9.如权利要求1所述的测试转接板,其特征在于,所述切换模块为单刀双掷开关,所述单刀双掷开关的公共端与所述测试设备连接,所述单刀双掷开关的第一个触点与所述切换模块连接的一个测试区域中的测试接口连接,所述单刀双掷开关的第二个触点与所述切换模块连接的另一个测试区域中的测试接口连接。

10.一种测试系统,其特征在于,所述测试系统包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种测试转接板,其特征在于,所述测试转接板包括:

2.如权利要求1所述的测试转接板,其特征在于,所述切换模块包括控制电路和开关电路,所述控制电路与所述开关电路均与所述测试设备连接;

3.如权利要求2所述的测试转接板,其特征在于,所述控制电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、电容,三极管和mos管;

4.如权利要求3所述的测试转接板,其特征在于,所述开关电路包括第一二极管、第二二极管和继电器;

5.如权利要求3所述的测试转接板,其特征在于,所述开关电路包括第一gt门、第二gt门和反相器;

6.如权利要求3所述的测试转接板,其特征在于,所述开关电路包括电磁铁、可被磁铁吸引的导电连接件、绝缘弹簧和导向柱;

7.如权利要求6所述的测试转接板,其特征在于,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:李端
申请(专利权)人:广州视源电子科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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