一种基于Key-Value的差分DEM统计分析方法及系统技术方案

技术编号:40564366 阅读:32 留言:0更新日期:2024-03-05 19:28
本发明专利技术公开了一种Key‑Value的差分DEM统计分析方法及系统,方法包括:读取矢量数据图层中的每个要素,并得到要素范围内的差分DEM掩膜数据,通过对像元灰度值进行整形和去重,得到像元灰度值列表并构建字典;将字典中的灰度值和像元个数分别转换为列表并升序排列;通过像元个数列表得到像元总数,并按照预设比例计算得到无效像元值个数;利用无效像元值个数剔除极大值和极小值,得到新字典;根据新字典的灰度值和像元个数计算得到统计分析结果。通过本发明专利技术的技术方案,能够对现有的、大区域的、多期的、感兴趣区的DEM数据进行差分统计分析,仅需提供对应的矢量数据即可完成统计分析,可直观高效地将差分DEM地形地貌的变化结果直观呈现。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及数据处理,尤其涉及一种key-value的差分dem统计分析方法以及一种key-value的差分dem统计分析系统。


技术介绍

1、数字高程模型(digital elevation model,dem),是通过有限的地形高程数据实现对地面地形的数字化模拟,差分dem是指将同一区域,不同时相的两期dem进行差值运算得到的数据,本质上也是dem,但表示的是地形地貌发生的变化量。

2、为提高差分dem的地面变形精度,传统的统计分析方法是对差值前dem数据源进行处理,如数据平滑、中值滤波;区域较小时,可以使用多视角激光雷达避免建筑物、树木等,重新获取准确地面高程信息;或使用大气校正和大地纪元对比的方法提出大气折射率变化带来的精度误差;或使用同源点匹配的方法保证像元对应地块相同。当这些处理完成后,再对dem进行差分运算,随后进行相关统计分析,现有的大多数gis软件基本都具有针对dem数据的最大值、最小值、一般值和平均值统计分析工具。

3、但上述方法还存在以下缺陷:

4、(1)从数据源提高dem精度再进行差分是提高地形本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于Key-Value的差分DEM统计分析方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于Key-Value的差分DEM统计分析方法,其特征在于,所述利用所述无效像元值个数剔除所述灰度值列表中的极大值和极小值,得到新字典,具体过程包括:

3.根据权利要求2所述的基于Key-Value的差分DEM统计分析方法,其特征在于,所述根据所述新字典的灰度值和像元个数计算得到统计分析结果的具体过程包括:

4.根据权利要求3所述的基于Key-Value的差分DEM统计分析方法,其特征在于,所述通过像元个数列表得到像元总数,并按照预设比例计算得到无效像元...

【技术特征摘要】

1.一种基于key-value的差分dem统计分析方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于key-value的差分dem统计分析方法,其特征在于,所述利用所述无效像元值个数剔除所述灰度值列表中的极大值和极小值,得到新字典,具体过程包括:

3.根据权利要求2所述的基于key-value的差分dem统计分析方法,其特征在于,所述根据所述新字典的灰度值和像元个数计算得到统计分析结果的具体过程包括:

4.根据权利要求3所述的基于key-value的差分dem统计分析方法,其特征在于,所述通过像元个数列表得到像元总数,并按照预设比例计算得到...

【专利技术属性】
技术研发人员:王海恒张茂省梁爽郭兰勤谢飞朱仁义黄波陈重豪王腾龙
申请(专利权)人:自然资源部第一地理信息制图院陕西省第六测绘地理信息工程院
类型:发明
国别省市:

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