【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于图像检测的，尤其涉及一种笔记本电脑外壳的缺陷检测方法及装置。
技术介绍
1、外壳缺陷检测是指通过使用各种技术和方法来检测物体(如机械设备、电子产品、汽车等)外表面是否存在缺陷或损伤。这些外壳缺陷可能是裂纹、划痕、磨损、变形等。外壳的缺陷可能会导致产品的结构弱化，影响其性能和寿命，甚至带来安全隐患。
2、在传统技术中，往往采用超声波检测技术进行外壳缺陷检测，超声波检测技术通过将高频声波传递到外壳中，然后分析声波在物体内部传播的特征来检测缺陷。当声波遇到缺陷时，会发生反射或散射，从而可以确定缺陷的位置和性质。
3、然而，传统的超声波检测无法分别外壳缺陷的缺陷类型，且检测精度也较低，这是一个亟需解决的技术问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种笔记本电脑外壳的缺陷检测方法、缺陷检测装置和存储介质，以解决传统的超声波检测无法分别外壳缺陷的缺陷类型，且检测精度也较低的技术问题。
2、本专利技术实施例的第一方面提供了一种笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，所述笔记本电脑外壳的缺陷检测方法包括：
3、获取待检测物体在同一位置上，顶面光源对应的第一待检测图像和侧面光源对应的第二待检测图像；所述待检测物体包括所述笔记本电脑外壳；
4、将所述第一待检测图像和所述第二待检测图像，分别与标准图像进行比对；
5、分别提取所述第一待检测图像和所述第二待检测图像中差异区域的目标外接矩形框；所述差异区域是指所述第
6、根据所述目标外接矩形框对应的位置信息，分别在所述第一待检测图像和所述第二待检测图像中，截取第一子图像和第二子图像；
7、提取所述第一子图像和所述第二子图像中的差异像素点，并计算所述差异像素点对应的两个像素点之间的像素差；所述差异像素点是指所述第一子图像、所述第二子图像与标准图像中相同像素位置的像素差值大于第一阈值的像素点；
8、根据所述差异像素点的位置和所述像素差值，形成差异图像；
9、将所述第一待检测图像输入缺陷检测模型的第一特征提取层，将所述第二待检测图像输入缺陷检测模型的第二特征提取层，将所述差异图像输入缺陷检测模型的第三特征提取层，得到由所述缺陷检测模型输出的缺陷检测结果；所述缺陷检测结果包括划痕、刮痕、凹凸、变形、异物和变色。
10、进一步地，所述分别提取所述第一待检测图像和所述第二待检测图像中差异区域的目标外接矩形框的步骤包括：
11、遍历所述第一待检测图像和所述标准图像之间的差异区域；
12、遍历所述第二待检测图像和所述标准图像之间的差异区域；
13、选择具有最多像素点的差异区域对应的最小外接矩形框，作为所述目标外接矩形框。
14、进一步地，所述遍历所述第一待检测图像和所述标准图像之间的差异区域的步骤包括：
15、将所述第一待检测图像和所述标准图像进行灰度化处理，得到第一灰度图像和第二灰度图像；
16、通过轮廓识别算法，识别所述第一灰度图像和第二灰度图像中的第一轮廓区域和第二轮廓区域；
17、将所述第一轮廓区域和所述第二轮廓区域对齐，并遍历所述第一轮廓区域和所述第二轮廓区域之间的差异像素点；
18、若所述差异像素点的像素差值大于第二阈值，且相邻的差异像素点的数量超过预设数量，则将对应区域作为所述差异区域。
19、进一步地，所述根据所述差异像素点的位置和所述像素差值，形成差异图像的步骤包括：
20、根据所述目标外接矩形框的图像尺寸，生成空白图像；所述空白图像是指没有像素值的图像；
21、在所述空白图像中，根据第一子图像对应的差异像素点的第一像素位置，将所述第一像素位置的像素点设置为所述像素差值，得到第一图像；
22、在所述空白图像中，根据第二子图像对应的差异像素点的第二像素位置，将所述第二像素位置的像素点设置为所述像素差值，得到第二图像；
23、将所述第一图像和所述第二图像合并，得到所述差异图像。
24、进一步地，所述缺陷检测模型包括第一特征提取层、第二特征提取层、第三特征提取层、第四特征提取层、下采样层和分类器；
25、所述第一待检测图像经过第一特征提取层处理，得到第一特征图像；
26、所述第二待检测图像经过第二特征提取层处理，得到第二特征图像；
27、所述差异图像经过第三特征提取层处理，得到第三特征图像；
28、计算所述第三特征图像和所述第一特征图像之间的第一相似度；
29、计算所述第三特征图像和所述第二特征图像之间的第二相似度；
30、若所述第一相似度大于所述第二相似度，则将所述第三特征图像和所述第一特征图像融合，得到融合图像；
31、若所述第一相似度小于所述第二相似度，则将所述第三特征图像和所述第二特征图像融合，得到融合图像；
32、所述融合图像经过所述第四特征提取层处理，得到第四特征图像；
33、所述第四特征图像经过所述下采样层和所述分类器处理，得到所述缺陷检测结果。
34、进一步地，在所述获取待检测物体在同一位置上，顶面光源对应的第一待检测图像和侧面光源对应的第二待检测图像的步骤之前，还包括：
35、获取初始模型和多个训练样本，每个所述训练样本包括第一样本图像、第二样本图像、样本差异图像和标签；
36、在多个所述训练样本中随机选取预设数量的训练样本，对所述预设数量的训练样本进行干扰处理，得到多个干扰样本；
37、通过多个所述训练样本和多个所述干扰样本，训练所述初始模型，得到所述缺陷检测模型。
38、进一步地，所述在多个所述训练样本中随机选取预设数量的训练样本，对所述预设数量的训练样本进行干扰处理，得到多个干扰样本的步骤包括：
39、在多个所述训练样本中随机选取预设数量的训练样本；
40、将所述训练样本输入代入如下公式，经过k次迭代，得到所述目标迭代干扰样本；
41、所述公式为：
42、
43、其中，表示当前迭代干扰样本，其中，第k次迭代的当前迭代干扰样本为所述目标迭代干扰样本，表示上一个迭代干扰样本，α表示控制迭代步长的超参数，表示求所述训练样本的梯度，l表示损失函数，y表示原始样本对应的标签，∏x+s表示投影操作，sign()表示sign函数。
44、本专利技术实施例的第二方面提供了一种笔记本电脑外壳的缺陷检测装置，包括：
45、获取单元，用于获取待检测物体在同一位置上，顶面光源对应的第一待检测图像和侧面光源对应的第二待检测图像；所述待检测物体包括所述笔记本电脑外壳；
46、比对单元，用于将所述第一待检测图像和所述第二待检测图像，分别与标准图像进行比对；
47、本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，所述笔记本电脑外壳的缺陷检测方法包括：
2.如权利要求1所述的笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，所述分别提取所述第一待检测图像和所述第二待检测图像中差异区域的目标外接矩形框的步骤包括：
3.如权利要求2所述的笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，所述遍历所述第一待检测图像和所述标准图像之间的差异区域的步骤包括：
4.如权利要求1所述的笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述差异像素点的位置和所述像素差值，形成差异图像的步骤包括：
5.如权利要求1所述的笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测模型包括第一特征提取层、第二特征提取层、第三特征提取层、第四特征提取层、下采样层和分类器；
6.如权利要求1所述的笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，在所述获取待检测物体在同一位置上，顶面光源对应的第一待检测图像和侧面光源对应的第二待检测图像的步骤之前，还包括：
7.如权利要求6所述的笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，所
8.一种笔记本电脑外壳的缺陷检测装置，其特征在于，所述笔记本电脑外壳的缺陷检测装置包括：
9.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，所述笔记本电脑外壳的缺陷检测方法包括：
2.如权利要求1所述的笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，所述分别提取所述第一待检测图像和所述第二待检测图像中差异区域的目标外接矩形框的步骤包括：
3.如权利要求2所述的笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，所述遍历所述第一待检测图像和所述标准图像之间的差异区域的步骤包括：
4.如权利要求1所述的笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述差异像素点的位置和所述像素差值，形成差异图像的步骤包括：
5.如权利要求1所述的笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测模型包括第一特征提取层、第二特征提取层、第三特征提取层、第四特征提取层、下采样层和分类器；
6.如权利要求1所述的笔记本电脑外壳的缺陷检测方...
【专利技术属性】
技术研发人员：雷晓宇，潘效田，李喜国，陈建华，余江，
申请(专利权)人：深圳市英伟胜科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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