System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种集成电路静电放电模拟器校准组件和方法技术_技高网

一种集成电路静电放电模拟器校准组件和方法技术

技术编号:40559599 阅读:9 留言:0更新日期:2024-03-05 19:21
本申请公开了一种集成电路静电放电模拟器校准组件,包括固定在非金属壳体内部的电阻、电流探头、衰减器。所述金属壳体设置有端口A、端口B、端口地。端口A和端口B之间连接所述电阻;所述端口B和端口地之间连接有导线。所述导线设置有所述电流探头,所述电流探头经所述衰减器连接到设置在金属壳体的测试端。本申请还包含使用所述组件进行测试的方法。本申请解决现有技术的测试过程中人工操作时存在不可靠性的问题。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及电磁兼容性测试,尤其涉及一种基于hbm模型的集成电路放电模拟器的脉冲校准组件和校准方法。


技术介绍

1、静电放电敏感度测试是关键的电磁兼容性测试项目,目前市面上常见的静电放电测试模拟器主要对设备级的产品完成静电放电敏感度试验。针对集成电路中用来模拟静电放电过程的模拟器校准研究较为匮乏。在校准集成电路静电放电模拟器时,各校准实验室大多使用分立式的校准设备。但是这种校准手段由于校准用电流探头孔径尺寸小、短路电流电缆容易弯折、500ω放电负载连接方式不可靠等原因,会给校准引入新的不必要的干扰。尤其是在执行外检工作时容易损坏校准组件,影响溯源的准确性。


技术实现思路

1、本申请提出一种集成电路静电放电模拟器校准组件和方法,特别是设计一种基于hbm模型下的集成电路放电模拟器的脉冲校准组件,解决现有技术的测试过程中人工操作时存在不可靠性的问题。

2、本申请实施例提出一种集成电路静电放电模拟器校准组件,包括固定在非金属壳体内部的电阻、电流探头、衰减器;

3、所述金属壳体设置有端口a、端口b、端口地;

4、端口a和端口b之间连接所述电阻;所述端口b和端口地之间连接有导线;

5、所述导线设置有所述电流探头,所述电流探头经所述衰减器连接到设置在金属壳体的测试端。

6、优选的,所述测试端为bnc接头的测试端子。

7、优选的,所述电阻为无感电阻。

8、优选的,所述电阻为500ω。

9、优选的,所述导线为单向对插连接结构。

10、优选的,所述电流探头为环绕所述导线的线圈。

11、优选的,用于所述连接的线缆为镀锡单芯铜线。

12、优选的,所述非金属壳体是绝缘的。

13、本申请实施例还提出一种集成电路静电放电模拟器校准方法,使用本申请任意一项实施例所述集成电路静电放电模拟器校准组件,包含以下步骤:在所述非金属壳体内侧通过对插结构断开所述导线,更换所述电流探头。

14、本申请实施例还提出一种集成电路静电放电模拟器校准方法,使用本申请任意一项实施例所述集成电路静电放电模拟器校准组件,包含以下至少1个步骤:

15、被校设备的地端连接至所述组件的端口地,被校设备测试端的放电端子连接至所述组件的端口a;所述组件的监测端子通过同轴线连接至采样示波器,设定被校设备的放电电压并触发,在示波器读取电流波形实现校准;

16、被校设备的地端连接至所述组件的端口地,被校设备测试端的放电端子连接至所述组件的端口b;所述组件的监测端子通过同轴线连接至采样示波器,设定被校设备的放电电压并触发,在示波器读取电流波形实现校准。

17、本申请实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果:

18、本申请设计的集成电路静电放电校准组件采用集成化思路,壳体使用绝缘的非金属材料,内置校准回路及监测探头。该校准组件可以解决上述校准时遇到的常见问题。在使用时,只需将待检静电放电设备连接至该校准组件上,依照校准规范要求的校准步骤,即可实现集成电路静电放电模拟器放电电流的校准工作,操作便利、可靠性高,重复测试结果稳定。本申请设计的校准组件可用于国内军工、汽车、电子等行业的电磁兼容计量单位和试验机构。能够给集成电路研制各阶段静电试验过程中出现的敏感现象提供溯源依据。该校准组件的典型特点是体积小、重量轻、校准效率高、集成度高、精度高,可以为集成电路静电放电模拟器的校准工作提供重要技术手段,且给外场校准工作提供了便利的校准工具。

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【技术保护点】

1.一种集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,包括固定在非金属壳体内部的电阻、电流探头、衰减器;

2.如权利要求1所述的集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,所述测试端为BNC接头的测试端子。

3.如权利要求1所述的集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,所述电阻为无感电阻。

4.如权利要求1所述的集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,所述电阻为500Ω。

5.如权利要求1所述的集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,所述导线为单向对插连接结构。

6.如权利要求1所述的集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,所述电流探头为环绕所述导线的线圈。

7.如权利要求1所述的集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,用于所述连接的线缆为镀锡单芯铜线。

8.如权利要求1所述的集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,所述非金属壳体是绝缘的。

9.一种集成电路静电放电模拟器校准方法,使用权利要求1~8任意一项所述组件,其特征在于,包含以下至少1个步骤:

10.一种集成电路静电放电模拟器校准方法,使用权利要求1~8任意一项所述组件,其特征在于,包含以下步骤:

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【技术特征摘要】

1.一种集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,包括固定在非金属壳体内部的电阻、电流探头、衰减器;

2.如权利要求1所述的集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,所述测试端为bnc接头的测试端子。

3.如权利要求1所述的集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,所述电阻为无感电阻。

4.如权利要求1所述的集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,所述电阻为500ω。

5.如权利要求1所述的集成电路静电放电模拟器校准组件,其特征在于,所述导线为单向对插连接结构。

6.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:纪翔杨金涛范伯昊王硕康宁李犇
申请(专利权)人:北京无线电计量测试研究所
类型:发明
国别省市:

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