本发明专利技术实施例提供一种波的偏移量的确定方法、装置、设备和存储介质。其中，所述方法包括：获取所述波在第一工作温度下的损耗数据；判断所述损耗数据是否满足预设指标的要求；在所述损耗数据满足所述预设指标的要求的情况下，基于所述损耗数据和所述预设指标确定所述波在所述第一工作温度下的目标偏移量。通过获取所述波在第一工作温度下的损耗数据，结合所述损耗数据对应的所述预设指标的要求，确定所述波在所述第一工作温度下的目标偏移量，根据所述目标偏移量筛选芯片，保证了成品合格率的同时，也提升了芯片的利用率。
1、在光通信系统中，尤其是波分复用(wavelength division multiplexing，wdm)光网络中，滤波器是核心器件。通常可将滤波器放在光探测器的前端构成一个调谐接收机，也可将滤波器放在激光腔体内构成波长可调光源，滤波器有广泛的应用场景。
2、在实际应用中，环境温度的变化会引起滤波器插入损耗(insertion loss)变化与波长偏移，而且波长偏移会进一步引起滤波器的插损、带宽与串扰指标的变化，因此在常温器件指标筛选或者芯片指标筛选时需要考虑一定的冗余，必要时还需要采用一定的温度补偿封装方案，使得工作温度范围内滤波器的指标满足一定的要求，从而保证光通信网络的正常运行。
3、常温指标的筛选需要考虑一定的指标冗余，由于芯片在产品的成本中占得比重非常大，为保证芯片的利用率，通常指标冗余越小越好；然而在生产中，产品合格率是关键指标，而且滤波器产品的生产工序复杂且多，前一道工序是后一道工序的原材料，加上考虑到生产工艺的波动性，芯片指标筛选的冗余越小，后续工序的合格率越低，进而造成最终成品合格率越低的矛盾现象。因此如何在保证后续工序合格率的基础上，提升前面工序芯片的利用率是亟待解决的问题。
>2、为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：3、本专利技术实施例提供一种波的偏移量的确定方法，包括：
4、获取所述波在第一工作温度下的损耗数据；
5、判断所述损耗数据是否满足预设指标的要求；
6、在所述损耗数据满足所述预设指标的要求的情况下，基于所述损耗数据和所述预设指标确定所述波在所述第一工作温度下的目标偏移量。
7、在上述方案中，所述损耗数据包括所述波的精度数据；所述预设指标包括精度指标；所述方法还包括：
8、确定所述波在所述第一工作温度下的第一波长数据；
9、基于预设方式对所述第一波长数据进行处理，确定所述波在所述第一工作温度下的精度数据；
10、在所述精度数据满足所述精度指标的要求的情况下，基于所述精度数据和所述精度指标确定所述波在所述第一工作温度下的目标偏移量。
11、在上述方案中，所述损耗数据包括所述波的插损数据；所述预设指标包括插损指标；所述方法还包括：
12、基于所述插损数据，确定所述波在所述第一工作温度下的第二波长数据；
13、基于所述插损指标，确定所述波在所述第一工作温度下的第三波长数据；
14、在所述插损数据满足所述插损指标的要求的情况下，基于述第二波长数据和所述第三波长数据，确定所述波在所述第一工作温度下的目标偏移量。
15、在上述方案中，所述损耗数据包括所述波的带宽数据，所述带宽数据包括第一带宽数据和第二带宽数据；所述预设指标包括带宽指标；所述方法还包括：
16、确定所述波在所述第一工作温度下的第四波长数据；
17、基于所述第四波长数据确定所述第一带宽数据和所述第二带宽数据；
18、在所述第一带宽数据和所述第二带宽数据满足所述带宽指标的要求的情况下，基于所述带宽指标确定所述波在所述第一工作温度下的目标偏移量。
19、在上述方案中，所述损耗数据包括所述波的串扰数据；所述预设指标包括串扰指标；所述方法还包括：
20、在所述串扰数据满足所述串扰指标的要求的情况下，基于所述串扰数据和所述串扰指标确定所述波在所述第一工作温度下的目标偏移量。
21、在上述方案中，所述方法还包括：
22、获取所述波在第一工作温度下多个所述损耗数据中的第一损耗数据；其中，所述第一损耗数据为所述多个损耗数据中任一损耗数据；
23、基于所述第一损耗数据和多个所述预设指标中的第一预设指标确定所述波在所述第一工作温度下的第一偏移量；其中，所述第一预设指标表征与所述第一损耗数据对应的指标；
24、基于所述第一偏移量和所述多个损耗数据中第二损耗数据，确定所述波在所述第一工作温度下的目标偏移量；其中，所述第二损耗数据表征所述多个损耗数据中除所述第一损耗数据以外的任一损耗数据。
25、在上述方案中，在基于所述第一工作温度下的损耗数据和所述预设指标确定所述波在所述第一工作温度下的目标偏移量之后，所述方法还包括：
26、获取所述波在第二工作温度下的损耗数据；其中，所述第二工作温度表征除所述第一工作温度以外的任一工作温度；
27、判断所述第二工作温度下的损耗数据是否满足预设指标的要求；
28、在所述第二工作温度下的损耗数据满足所述预设指标的要求的情况下，基于所述第二工作温度下的损耗数据和所述预设指标确定所述波在所述第二工作温度下的目标偏移量；
29、基于所述第一工作温度下的目标偏移量和所述第二工作温度下的目标偏移量，确定所述波的工作偏移量。
30、本专利技术实施例提供一种波的偏移量的确定装置，所述装置包括：交互模块、控制模块、存储模块和运算模块；所述控制模块分别与所述交互模块、所述存储模块和所述运算模块连接；
31、所述交互模块，用于输入运算指令，并将所述运算指令发送至所述控制模块；
32、所述控制模块，用于接收所述运算指令，调取所述存储模块中与所述运算指令对应的运算任务，将所述运算任务分配至所述运算模块；
33、所述运算模块，用于接收所述运算任务，基于所述运算任务进行计算得到所述波的偏移量，并将所述波的偏移量作为运算结果存储至所述存储模块；
34、所述存储模块，用于存储所述运算指令对应的运算任务，以及存储所述运算结果。
35、在上述方案中，所述装置包括：
36、所述控制模块，还用于将存储在所述存储模块中的运算结果发送至所述交互模块；
37、所述交互模块，还用于接收并展示所述控制模块发送的运算结果。
38、在上述方案中，所述运算模块包括：激光发射单元、偏振控制单元、分光单元、待测滤波器、功率监测单元和运算单元；
39、所述激光发射单元，用于发出带有波长的激光；
40、所述偏振控制单元，用于控制所述激光遍历偏振态；
41、所述分光单元，用于对所述激光进行分路；
42、所述待测滤波器，用于通过所述激光；
43、所述功率监测单元，用于监测所述激光的光功率；
44、所述运算单元，用于基于所述光功率对应的波长-透射率数据对所述波的偏移量进行运算。
45、本专利技术实施例提供一种波的偏移量的确定装置，包括：
46、第一获取模块，用于获取所述波在第一工作温度下的损耗本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种波的偏移量的确定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述损耗数据包括所述波的精度数据；所述预设指标包括精度指标；所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述损耗数据包括所述波的插损数据；所述预设指标包括插损指标；所述方法还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述损耗数据包括所述波的带宽数据，所述带宽数据包括第一带宽数据和第二带宽数据；所述预设指标包括带宽指标；所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述损耗数据包括所述波的串扰数据；所述预设指标包括串扰指标；所述方法还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基于所述第一工作温度下的损耗数据和所述预设指标确定所述波在所述第一工作温度下的目标偏移量之后，所述方法还包括：
8.一种波的偏移量的确定装置，其特征在于，所述装置包括：交互模块、控制模块、存储模块和运算模块；所述控制模块分别与所述交互模块、所述存储模块和所述运算模块连接；
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，包括：
10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述运算模块包括：激光发射单元、偏振控制单元、分光单元、待测滤波器、功率监测单元和运算单元；
11.一种波的偏移量的确定装置，其特征在于，包括：
12.一种波的偏移量的确定设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1至7任一项所述方法中的步骤。
13.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7任一项所述方法中的步骤。
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【技术特征摘要】
1.一种波的偏移量的确定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述损耗数据包括所述波的精度数据；所述预设指标包括精度指标；所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述损耗数据包括所述波的插损数据；所述预设指标包括插损指标；所述方法还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述损耗数据包括所述波的带宽数据，所述带宽数据包括第一带宽数据和第二带宽数据；所述预设指标包括带宽指标；所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述损耗数据包括所述波的串扰数据；所述预设指标包括串扰指标；所述方法还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基于所述第一工作温度下的损耗数据和所述预设指标确定所述波在所述第一工作温度...
【专利技术属性】
技术研发人员：孔祥健，胡家艳，张慕婵，陈宏刚，张博，罗勇，马卫东，
申请(专利权)人：武汉光迅科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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