半导体装置制造方法及图纸

技术编号:40541285 阅读:21 留言:0更新日期:2024-03-05 18:57
本发明专利技术涉及半导体装置。使上电复位电路对电源电压的变化的响应特性成为与所搭载的产品的利用环境相应的响应特性。半导体装置具备检测电源电压的电压值的变化而生成复位信号并输出时的对电源电压的变化的响应特性不同的两个POR电路11、12和选择器20。选择器20基于输入的选择控制信号102,选择从两个POR电路11、12中的任一个输出的复位信号,作为复位信号101输出。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及具备上电复位电路的半导体装置


技术介绍

1、在lsi(large-scale integratedcircuit:大规模集成电路)等半导体装置中,为了防止电源接通时和电源切断时的误动作,而使用上电复位电路(以下简称为por(poweronreset)电路。)。该por电路检测电源电压的电压值的变化,生成复位信号并输出。具体而言,por电路生成并输出在电源接通时当电源电压达到动作保证电压时成为非有效(非活性状态:复位被解除的状态)、在电源切断时在电源电压成为动作保证电压以下之前成为有效(活性状态:使半导体装置的动作停止的状态)的复位信号。

2、例如,在专利文献1中公开了能够可靠地检测电源电压的降低的上电复位电路。

3、一般,当lsi等半导体装置的电源电压降低时,通过por电路使lsi成为复位状态,但por电路对电源电压的变化的响应特性(发出复位信号的阈值电压、从电源电压达到阈值电压到发出复位信号为止的时间等)针对一个lsi被固定。

4、但是,根据搭载lsi的产品、利用环境,por电路的最佳响应特性有时不同,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体装置,其中,具备:

2.一种半导体装置,其中,具备:

3.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其中,所述响应特性是用于检测电源电压的变化的阈值电压、以及从电源电压的电压值达到阈值电压到输出复位信号为止的延迟时间中的至少一个或两个。

4.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其中,

5.根据权利要求4所述的半导体装置,其中,所述内部电源由恒压电路生成,所述恒压电路将所述外部电源作为输入。

6.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其中,还具备:

7.根据权利要求6所述的半导体装置,其中,所述锁存电路在内部具有...

【技术特征摘要】

1.一种半导体装置,其中,具备:

2.一种半导体装置,其中,具备:

3.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其中,所述响应特性是用于检测电源电压的变化的阈值电压、以及从电源电压的电压值达到阈值电压到输出复位信号为止的延迟时间中的至少一个或两个。

4.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其中,

5.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:岛崎广野
申请(专利权)人:蓝碧石科技株式会社
类型:发明
国别省市:

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