【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体激光测距,具体为一种轻量化矩形激光发射窗及多光路共孔径测距仪。
技术介绍
1、半导体激光测距是一种利用半导体激光器发射激光束,并通过测量激光束的反射时间来确定目标物体与测距设备之间距离的技术。它是一种常用的非接触式测量距离的方法,广泛应用于工业、测绘、建筑、机器人等领域,半导体激光测距原理基于光的速度恒定和光的反射原理,首先,半导体激光器发射一束激光束,该激光束照射到目标物体上并反射回来,然后,接收器接收到反射的激光束,并测量从发射到接收的时间间隔,称为往返时间,半导体激光测距具有快速、高精度、非接触等特点,适用于测量不同距离范围内的目标物体,它在自动化系统、测绘测量、距离控制和精确定位等应用中发挥着重要的作用,半导体激光测距需要通过半导体激光测距设备进行测量,现有的半导体激光测距设备多样,其中就包括手持式半导体测距机。
2、然而,现有的手持式半导体测距机在使用的过程中存在以下的问题:传统的手持式半导体测距机在实际应用中仍存在一些劣势和缺点,例如测距精度受到环境光干扰的影响,测距范围较短,重量较重,操作复
...【技术保护点】
1.一种轻量化矩形激光发射窗及多光路共孔径测距仪,其特征在于:包括测距仪外壳(1)、半导体激光器(2)、矩形激光发射窗(3)、多光路共孔径系统(4)、操作按钮(5)和密封Type-C接口(6),所述测距仪外壳(1)的内部形成有安装内腔(7),所述半导体激光器(2)内置于安装内腔(7)内且作为光源,所述矩形激光发射窗(3)位于半导体激光器(2)的发射端且安装于测距仪外壳(1)的端部,所述矩形激光发射窗(3)由若干组发射透镜组成,所述多光路共孔径系统(4)安装于测距仪外壳(1)内,所述多光路共孔径系统(4)包括共孔径物镜组(8)、倒像棱镜组(9)、分光棱镜组(10)、接收
...【技术特征摘要】
1.一种轻量化矩形激光发射窗及多光路共孔径测距仪,其特征在于:包括测距仪外壳(1)、半导体激光器(2)、矩形激光发射窗(3)、多光路共孔径系统(4)、操作按钮(5)和密封type-c接口(6),所述测距仪外壳(1)的内部形成有安装内腔(7),所述半导体激光器(2)内置于安装内腔(7)内且作为光源,所述矩形激光发射窗(3)位于半导体激光器(2)的发射端且安装于测距仪外壳(1)的端部,所述矩形激光发射窗(3)由若干组发射透镜组成,所述多光路共孔径系统(4)安装于测距仪外壳(1)内,所述多光路共孔径系统(4)包括共孔径物镜组(8)、倒像棱镜组(9)、分光棱镜组(10)、接收透镜组(11)和目镜组(12),所述共孔径物镜组(8)由多透镜组成,所述倒像棱镜组(9)由施密特棱镜与半五棱镜组成,所述分光棱镜组(10)由直角棱镜组成,所述接收透镜组(11)位于分光棱镜组(10)的一侧,所述目镜组(12)位于接收透镜组(11)的一侧,所述操作按钮(5)安装于测距仪外壳(1)上,所述测距仪外壳(1)的内部设置有电池(13),所述密封type-c接口(6)安装于测距仪外壳(1)的端部且与电池(13)相连接,所述电池(13)为测距仪供电。
<...【专利技术属性】
技术研发人员:郭林炀,杨润贤,郭胜君,李丹,王丽霞,张燃,张博,崔宇,崔艺涵,王坤宇,
申请(专利权)人:扬州工业职业技术学院,
类型:发明
国别省市:
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