System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种锁相环的锁定检测电路制造技术_技高网

一种锁相环的锁定检测电路制造技术

技术编号:40540031 阅读:10 留言:0更新日期:2024-03-05 18:55
本发明专利技术公开一种锁相环的锁定检测电路。本发明专利技术实施例的锁定检测电路包括信号处理模块,用于连接锁相环,接收并处理输入时钟信号和参考时钟信号。比较模块,比较模块与信号处理模块连接,用于比较输入时钟信号和参考时钟信号的时间同步状态,并输出第一电平信号;第一电平信号用于确定锁相环处于锁定状态或失锁状态。检测模块,检测模块与比较模块连接,用于根据第一电平信号对检测模块的锁定信号进行采样,并通过采样结果确定锁相环的锁定状态或失锁状态是否发生改变。本实施例的技术方案通过设置比较模块对输入时钟信号和参考时钟信号进行比较,从而确定锁相环处于锁定状态或失锁状态,提高了对锁相环的锁定状态判断的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及锁相环,尤其涉及一种锁相环的锁定检测电路


技术介绍

1、电荷泵锁相环广泛应用于无线通信、频率综合器和时钟恢复电路等领域中。随着芯片设计集成化和电路设计的简洁化,锁相环芯片通常都集成了环路锁定检测电路。然而,现有的检测电路存在电路参数选择不合理,设计方面不够灵活等问题,导致检测电路的经常出现误判。因此,如何提高检测电路的准确度成为亟需解决的问题。


技术实现思路

1、本专利技术提供了一种锁相环的锁定检测电路,以解决现有的锁定检测电路准确度较低的问题。

2、根据本专利技术的一方面,提供了一种锁相环的锁定检测电路,包括:

3、信号处理模块,信号处理模块用于连接锁相环,接收并处理输入时钟信号和参考时钟信号;

4、比较模块,比较模块与信号处理模块连接,比较模块用于比较输入时钟信号和参考时钟信号的时间同步状态,并输出第一电平信号;第一电平信号用于确定锁相环处于锁定状态或失锁状态;

5、检测模块,检测模块与比较模块连接,检测模块用于根据第一电平信号对检测模块的锁定信号进行采样,并通过采样结果确定锁相环的锁定状态或失锁状态是否发生改变。

6、可选的,信号处理模块,包括:

7、第一输入单元和第二输入单元;

8、第一输入单元和第二输入单元包括第一输出端和第二输出端,比较模块包括两个第一输入端和两个第二输入端;第一输入单元的第一输出端和第二输入单元的第一输出端分别与比较模块的两个第一输入端连接,第一输入单元的第二输出端和第二输入单元的第二输出端分别与比较模块的两个第二输入端连接;

9、第一输入单元用于接收并处理输入时钟信号,第二输入单元用于接收并处理参考时钟信号。

10、可选的,比较模块,包括:

11、第一触发器、第二触发器和与非门电路;

12、第一触发器的第一输入端与第二输入单元的第一输出端连接,第一触发器的第二输入端与第一输入单元的第二输出端连接,第一触发器的输出端与与非门电路的第一输入端连接,第二触发器的第一输入端与第一输入单元的第一输出端连接,第二触发器的第二输入端与第二输入单元的第二输出端连接,第二触发器的输出端与与非门电路的第二输入端连接,与非门电路的输出端与检测模块连接;

13、第一触发器用于根据延时后的输入时钟信号和整形后的参考时钟信号的时间同步状态输出第二电平信号,第二触发器用于根据延时后的参考时钟信号和整形后的输入时钟信号的时间同步状态输出第三电平信号,与非门电路用于根据第二电平信号和第三电平信号输出第一电平信号。

14、可选的,第一输入单元的结构与第二输入单元的结构相同;第一输入单元,包括:

15、第一整形子单元、第二整形子单元和延时子单元;

16、第一整形子单元的第一输出端与比较模块连接,第一整形子单元的第二输出端与延时子单元的输入端连接,延时子单元的输出端与第二整形子单元的输入端连接,第二整形子单元的输出端与比较模块连接;

17、第一整形子单元用于获取输入时钟信号或参考时钟信号,并对输入时钟信号或参考时钟信号进行整形处理,延时子单元用于对输入时钟信号或参考时钟信号进行延时处理,第二整形子单元用于对延时后的输入时钟信号或参考时钟信号进行整形处理。

18、可选的,延时子单元,包括:

19、第一晶体管、电流源电路、电流镜和反相器电路;

20、第一晶体管的第一端和控制端与电源输入端连接,第一晶体管的第二端与电流源电路的输入端连接,电流源电路的输出端与电流镜的输入端连接,电流镜的输出端与反相器电路连接,反相器电路的信号输入端与第一整形子单元连接,反相器电路的信号输出端与第二整形子单元连接;

21、第一晶体管用于根据电源输入端的基准电流导通,电流源电路用于对基准电流的幅值进行调节,电流镜用于复制调节后的基准电流,反相器电路用于根据调节后的基准电流对输入时钟信号或参考时钟信号进行延时处理。

22、可选的,电流源电路,包括:

23、至少一个第二晶体管和至少一个第三晶体管;

24、第二晶体管的第一端与第一晶体管的第二端连接,第二晶体管的第二端与第三晶体管的第一端连接,第二晶体管的控制端与电源输入端连接,第三晶体管的第二端与电流镜的输入端连接,第三晶体管的控制端与信号发射端连接;

25、第二晶体管用于对基准电流的幅值进行调节,第三晶体管用于根据信号发射端的数字信号导通或断开。

26、可选的,反相器电路,包括:

27、第四晶体管、第五晶体管、一级反相器和二级反相器;

28、第四晶体管的第一端与第一晶体管的第二端连接,第四晶体管的第二端与一级反相器连接,第四晶体管的控制端与电流镜连接,第五晶体管的第一端与一级反相器连接,第五晶体管的第二端接地,第五晶体管的控制端与电流镜连接,一级反相器的信号输入端与第一整形子单元连接,一级反相器的信号输出端与二级反相器的信号输入端连接,二级反相器的信号输出端与第二整形子单元连接;

29、第四晶体管和第五晶体管用于获取电流镜复制的调节后的基准电流,一级反相器用于根据调节后的基准电流对输入时钟信号或参考时钟信号进行延时处理和一次反相处理,二级反相器用于对延时后的输入时钟信号或参考时钟信号进行二次反相处理。

30、可选的,检测模块,包括:

31、采样单元和判断单元;

32、采样单元连接在比较模块和判断单元的输入端之间,判断单元的输出端与采样单元的输入端连接;

33、采样单元用于根据第一电平信号对锁定信号进行采样,并输出第四电平信号,判断单元用于根据第四电平信号输出锁定信号;锁定信号用于确定锁相环的锁定状态或失锁状态是否发生改变。

34、可选的,采样单元,包括:

35、输入子单元和至少两个第三触发器;

36、输入子单元的输入端与比较模块的输出端和判断单元的输出端连接,输入子单元的输出端与第三触发器的置位端连接,第三触发器的输出端与判断单元的输入端连接;

37、输入子单元用于获取第一电平信号和锁定信号,第三触发器用于根据第一电平信号对锁定信号进行采样,并输出第四电平信号。

38、可选的,判断单元,包括:

39、选择电路和第四触发器;

40、选择电路连接在第三触发器和第四触发器之间,选择电路用于选择第三触发器输出的第四电平信号,第四触发器用于根据第四电平信号输出锁定信号。

41、本专利技术实施例的锁相环的锁定检测电路包括信号处理模块、比较模块和检测模块。比较模块与信号处理模块连接,检测模块与比较模块连接。信号处理模块用于连接锁相环,接收并处理输入时钟信号和参考时钟信号。比较模块用于比较输入时钟信号和参考时钟信号的时间同步状态,并输出第一电平信号。检测模块用于根据第一电平信号对输入时钟信号进行采样,并通过采样结果确定锁相环的锁定状态或失锁状本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种锁相环的锁定检测电路,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的锁定检测电路,其特征在于,所述信号处理模块,包括:

3.根据权利要求2所述的锁定检测电路,其特征在于,所述比较模块,包括:

4.根据权利要求2所述的锁定检测电路,其特征在于,所述第一输入单元的结构与所述第二输入单元的结构相同;所述第一输入单元,包括:

5.根据权利要求4所述的锁定检测电路,其特征在于,所述延时子单元,包括:

6.根据权利要求5所述的锁定检测电路,其特征在于,所述电流源电路,包括:

7.根据权利要求5所述的锁定检测电路,其特征在于,所述反相器电路,包括:

8.根据权利要求1所述的锁定检测电路,其特征在于,所述检测模块,包括:

9.根据权利要求8所述的锁定检测电路,其特征在于,所述采样单元,包括:

10.根据权利要求9所述的锁定检测电路,其特征在于,所述判断单元,包括:

【技术特征摘要】

1.一种锁相环的锁定检测电路,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的锁定检测电路,其特征在于,所述信号处理模块,包括:

3.根据权利要求2所述的锁定检测电路,其特征在于,所述比较模块,包括:

4.根据权利要求2所述的锁定检测电路,其特征在于,所述第一输入单元的结构与所述第二输入单元的结构相同;所述第一输入单元,包括:

5.根据权利要求4所述的锁定检测电路,其特征在于,所述延时子单...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨安郝沁汾
申请(专利权)人:无锡芯光互连技术研究院有限公司
类型:发明
国别省市:

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