【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于滤波器领域。
技术介绍
1、在发射机指标测试中，谐波抑制是一项重要的考核指标，现已经对谐波抑制做了明确规定，但是在实际测试中，往往会遇到问题。目前普遍使用频谱分析仪进行谐波抑制指标测试，原理是将信号直接接入频谱仪，在频谱仪上标记主频点和谐波频点的电平值，记录其差值。但是一些性能较差的频谱仪，如果按上述方法测试，其底噪会被主信号拉高，造成真实的谐波功率被底噪淹没，无法真实地在频谱仪上呈现出来。
技术实现思路
1、专利技术目的：为了解决上述现有技术存在的问题，本专利技术提供了一种用于l波段发射机谐波抑制指标测量的滤波器。
2、技术方案：本专利技术提供了一种用于l波段发射机谐波抑制指标测量的滤波器，包括介质基板、第一金属层、第二金属层和带通滤波器，所述第一金属层，第二金属层和介质基板的截面积相等，第二金属层位于介质基板的底部，第一金属层位于介质基板的表面，所述第一金属层上设有开槽，所述带通滤波器放置在介质基板上，设置在第一金属层的开槽内；所述介质基板上设有若干个金属化通...
【技术保护点】
1.一种用于L波段发射机谐波抑制指标测量的滤波器，其特征在于，包括介质基板、第一金属层、第二金属层和带通滤波器，第二金属层位于介质基板的底部，第一金属层位于介质基板的表面，所述第一金属层上设有开槽，所述带通滤波器放置在介质基板上，并设置在第一金属层的开槽内；所述介质基板、第一金属层和第二金属层上相应位置处均设有若干个金属化通孔，所述带通滤波器为平行耦合微带线结构。
2.根据权利要求1所述的一种用于L波段发射机谐波抑制指标测量的滤波器，其特征在于，所述带通滤波器包括第一波端口，第二波端口和n个微带线；所述微带线从上至下依次设置，且该n个微带线相互平行；第一波...
【技术特征摘要】
1.一种用于l波段发射机谐波抑制指标测量的滤波器，其特征在于，包括介质基板、第一金属层、第二金属层和带通滤波器，第二金属层位于介质基板的底部，第一金属层位于介质基板的表面，所述第一金属层上设有开槽，所述带通滤波器放置在介质基板上，并设置在第一金属层的开槽内；所述介质基板、第一金属层和第二金属层上相应位置处均设有若干个金属化通孔，所述带通滤波器为平行耦合微带线结构。
2.根据权利要求1所述的一种用于l波段发射机谐波抑制指标测量的滤波器，其特征在于，所述带通滤波器包括第一波端口，第二波端口和n个微带线；所述微带线从上至下依次设置，且该n个微带线相互平行；第一波端口连接第一个微带线，第二波端口连接第n个微带线。
3.根据权利要求2所述的一种用于l波段发射机谐波抑制指标测量的滤波器，其特征在于，第...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖定，陈喜杨，颜磊，王健，时金林，
申请(专利权)人：南京熊猫电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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