一种高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置及方法制造方法及图纸

技术编号:40520237 阅读:16 留言:0更新日期:2024-03-01 13:38
本发明专利技术公开了一种高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置及方法,通过设置屏蔽罩和射线管道提供辐射耦合环境,实现为振动传感器的测试提供高低温和辐射耦合环境,保证振动传感器测试的全面性。本发明专利技术的主要技术方案为:一种高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,射线管道与屏蔽罩连接;温控箱设置在屏蔽罩内腔中,加热件位于测试内腔中,射线管道的第一端位于测试内腔中,第二端用于连接辐射源;温度检测器用于检测测试内腔中的温度;冷气管道的第一端位于测试内腔中,第二端用于连接冷气源;可控阀用于控制冷气管道的流量;振动发生组件位于测试内腔与射线管道相对,用于连接待测试振动传感器施加振动激励。本发明专利技术主要用于传感器辐射耦合测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及振动测试,尤其涉及一种高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置及方法


技术介绍

1、为监测高低温和辐射耦合环境下的设备工作状态,需在高低温耐辐射设备上安装振动传感器,如振动加速度、振动速度和振动位移传感器。振动传感器安装在设备上后,在整个设备运行周期内因安装位置空间及辐射剂量原因,人员将很难到达传感器安装位置进行检查或更换等,因此,保证振动传感器的性能十分重要。

2、为了综合考验振动传感器的稳定性和可靠性,通常在振动传感器出厂前需进行测试,现有技术中仅能对振动传感器进行高低温振动测试,却没有对振动传感器进行辐射耦合环境下的辐射性能测试,不能寻找出在耦合环境条件下振动传感器灵敏度曲线,导致振动传感器的测试不够全面。


技术实现思路

1、有鉴于此,为解决上述至少一项技术问题,本专利技术提供一种高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置及方法,用于解决不能对高低温和辐射耦合环境下的传感器进行高温辐射性能测试、低温辐射性能测试的问题。

2、为达到上述目的,本专利技术主要提供如下技术方案:<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求2所述的高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,其特征在于,

4.根据权利要求2所述的高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,其特征在于,

5.根据权利要求1所述的高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,其特征在于,

6.根据权利要求1所述的高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,其特征在于,

7.根据权利要求6所述的高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,其特征...

【技术特征摘要】

1.一种高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求2所述的高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,其特征在于,

4.根据权利要求2所述的高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,其特征在于,

5.根据权利要求1所述的高低温耐辐射耦合的振动传感器测试装置,其特征在于,

6.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡建荣蒋兆翔罗婷周成宁杨泰波刘才学
申请(专利权)人:中国核动力研究设计院
类型:发明
国别省市:

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