【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于绝缘测试，尤其涉及一种绝缘电阻测试仪。
技术介绍
1、对于测发控电气系统，绝缘性能良好是一个关系到信号数据可靠传输、现场安全运行的重要因素，航天大型装备中的绝缘测试是系统测试中的重要测试环节。当前，系统绝缘测试依旧以人工逐点测量方式为主。对于目前规模日趋庞大的电气系统来说，这种方法工作量大、效率低下、精度较差、容易出现人为因素造成的误判和漏判等。对于目前规模日趋庞大的电气系统来说，依靠传统的人工测试方法已经跟不上系统测试快速化、自动化的需求。
技术实现思路
1、本专利技术解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供了一种绝缘电阻测试仪，能够进行绝缘电阻的快速自动测量，大大提高了绝缘的自动化程度。
2、本专利技术目的通过以下技术方案予以实现：一种绝缘电阻测试仪，包括：主机控制器单元、测试总线单元、逻辑控制模块和恒压测量模块；其中，所述主机控制器单元、所述逻辑控制模块、所述恒流测量模块、所述恒压测量模块和所述继电器矩阵模块均与所述测试总线单元相连接；所述主机控制器单元发出控制命令，将控制命令通过所述测试总线单元传输给所述逻辑控制模块；所述逻辑控制模块接收控制命令，将控制命令经过译码产生控制信号，将控制信号经过光电隔离后得到隔离后的控制信号，将隔离后的控制信号通过所述测试总线单元传输给所述恒压测量模块；所述恒压测量模块接收隔离后的控制信号，根据隔离后的控制信号测量出测试电路的绝缘电阻，将测试电路的绝缘电阻通过所述测试总线单元传输给所述主机控制器单元。
4、上述绝缘电阻测试仪中，所述逻辑控制模块包括译码驱动电路和光电隔离电路；其中，所述译码驱动电路接收控制命令，将控制命令经过译码产生控制信号，将控制信号传输给所述光电隔离电路；所述光电隔离电路接收控制信号，对控制信号经过光电隔离后得到隔离后的控制信号。
5、上述绝缘电阻测试仪中，测试电路的绝缘电阻通过如下公式得到：
6、rx＝110*r2/uo-(r1+r2)；
7、其中，rx为测试电路的绝缘电阻，r1为已知的标准限流电阻，r2为已知的标准分压电阻，uo为已知的标准分压电阻两端的电压。
8、上述绝缘电阻测试仪中，所述恒压测量模块包括无冲击高压源投切电路和二级低通滤波电路。
9、上述绝缘电阻测试仪中，所述无冲击高压源投切电路包括电阻r71、电阻r72、电阻r73、电阻r74、电阻r75、电阻r76、电阻r77、第一稳压二极管、电容c71、开关k1和开关k2；其中，所述电阻r71的一端分别与所述电阻r72的一端、所述第一稳压二极管的负极、所述电容c71的一端、所述电阻r73的一端相连接；所述电阻r72的另一端通过所述开关k2分别与所述电阻r74的一端、所述电阻r75的一端相连接；所述电阻r73的另一端通过所述开关k1与agnd端相连接；所述电阻r76的一端与所述电阻r74的另一端相连接，所述电阻r77的一端与所述电阻r75的另一端相连接；所述第一稳压二极管的正极、所述电容c71的另一端、所述电阻r76的另一端、所述电阻r77的另一端均与agnd端相连接。
10、上述绝缘电阻测试仪中，所述二级低通滤波电路包括第二稳压二极管d2、电阻r81、电容c14、第一运算放大器u5、第二运算放大器u4、电容c2、电容c5、电阻r7、电阻r8、电容c12、电容c13、电阻r83、电阻r84、电容c6和电容c8；其中，所述电阻r81的一端与第二稳压二极管d2的负极相连接，所述第二稳压二极管d2的正极与agnd端相连接；所述电阻r81的另一端均与所述电容c14的一端、第一运算放大器u5的正输入端相连接；所述电容c14的另一端与agnd端相连接；所述第一运算放大器u5的负输入端与所述第一运算放大器u5的输出端相连接；所述第一运算放大器u5的负电源端、电容c2的一端、电容c5的一端均与vcc5v2端相连接，电容c2的另一端、电容c5的另一端均与agnd端相连接；所述第一运算放大器u5的正电源端与agnd端相连接；所述电阻r7的一端与所述第一运算放大器u5的输出端相连接；所述电阻r7的另一端分别与所述电阻r8的一端、所述电容c12的一端相连接；所述电阻r8的另一端分别与所述电容c13的一端、第二运算放大器u4的正输入端相连接；所述电容c13的另一端与agnd端相连接；所述电阻r83的一端与agnd端相连接，所述电阻r83的另一端分别与所述第二运算放大器u4的负输入端、电阻r84的一端相连接；所述电阻r84的另一端、所述电容c12的另一端均与所述第二运算放大器u4的输出端相连接；所述第二运算放大器u4的负电源端、电容c6的一端、电容c8的一端均与vcc5v2端相连接，电容c6的另一端、电容c8的另一端均与agnd端相连接。
11、上述绝缘电阻测试仪中，所述电阻r71为51k欧姆，所述电阻r72为2.2k欧姆，所述电容c71为100nf。
12、上述绝缘电阻测试仪中，所述电阻r81为16k欧姆，所述电阻r7为16k欧姆，所述电阻r8为16k欧姆，所述电阻r83为4.99k欧姆，所述电阻r84为4.99k欧姆。
13、上述绝缘电阻测试仪中，所述电容c14为100nf，所述电容c2为100nf，所述电容c5为10uf，所述电容c12为10nf，所述电容c13为10nf，所述电容c6为10uf，所述电容c8为100nf。
14、本专利技术与现有技术相比具有如下有益效果：
15、(1)本专利技术自动化水平高、测试精度高，可实现实时判读；即可测试导通，也可测试绝缘，根据不同需求可切换档位，满足测试的要求；
16、(2)本专利技术提出了无冲击高压源投切技术，避免了切换过程中形成的高压直接加在系统中，提高了系统的使用安全性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种绝缘电阻测试仪，其特征在于包括：主机控制器单元、测试总线单元、逻辑控制模块和恒压测量模块；其中，
2.根据权利要求1所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于还包括：恒流测量模块；其中，
3.根据权利要求1所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于：所述逻辑控制模块包括译码驱动电路和光电隔离电路；其中，
4.根据权利要求1所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于：测试电路的绝缘电阻通过如下公式得到：
5.根据权利要求1所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于：所述恒压测量模块包括无冲击高压源投切电路和二级低通滤波电路。
6.根据权利要求5所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于：所述无冲击高压源投切电路包括电阻R71、电阻R72、电阻R73、电阻R74、电阻R75、电阻R76、电阻R77、第一稳压二极管、电容C71、开关K1和开关K2；其中，
7.根据权利要求5所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于：所述二级低通滤波电路包括第二稳压二极管D2、电阻R81、电容C14、第一运算放大器U5、第二运算放大器U4、电容C2、电容C5、电阻R7、电阻R8、电容
8.根据权利要求6所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于：所述电阻R71为51K欧姆，所述电阻R72为2.2K欧姆，所述电容C71为100nF。
9.根据权利要求7所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于：所述电阻R81为16K欧姆，所述电阻R7为16K欧姆，所述电阻R8为16K欧姆，所述电阻R83为4.99K欧姆，所述电阻R84为4.99K欧姆。
10.根据权利要求7所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于：所述电容C14为100nF，所述电容C2为100nF，所述电容C5为10uF，所述电容C12为10nF，所述电容C13为10nF，所述电容C6为10uF，所述电容C8为100nF。
...【技术特征摘要】
1.一种绝缘电阻测试仪，其特征在于包括：主机控制器单元、测试总线单元、逻辑控制模块和恒压测量模块；其中，
2.根据权利要求1所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于还包括：恒流测量模块；其中，
3.根据权利要求1所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于：所述逻辑控制模块包括译码驱动电路和光电隔离电路；其中，
4.根据权利要求1所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于：测试电路的绝缘电阻通过如下公式得到：
5.根据权利要求1所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于：所述恒压测量模块包括无冲击高压源投切电路和二级低通滤波电路。
6.根据权利要求5所述的绝缘电阻测试仪，其特征在于：所述无冲击高压源投切电路包括电阻r71、电阻r72、电阻r73、电阻r74、电阻r75、电阻r76、电阻r77、第一稳压二极管、电容c71、开关k1和开关k2；其中，
7.根据权利要求5所述的绝缘电阻测试仪，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：王慎航，陈平，杨名军，林瑞仕，田琨，温亚，屈辰，姚润润，刘孟语，马赛，
申请(专利权)人：北京航天自动控制研究所，
类型：发明
国别省市：
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