天线辐射效率测量方法、系统及电子设备技术方案

本申请提供一种天线辐射效率测量方法、系统及电子设备，涉及电磁场测量技术领域，该系统包括：横电磁波室和矢量网络分析仪VNA；其中，横电磁波室包括：外防护罩、金属板隔膜、第一负载端口和第二负载端口；金属板隔膜设置于外防护罩围成的腔室内，第一负载端口和第二负载端口设置于外防护罩两端；金属板隔膜上用于分别放置待测天线和参考天线；VNA的输出端口连接待测天线和参考天线的馈电端口，以提供发射信号；VNA的输入端口连接第一负载端口，获取传输信号，以基于传输信号完成天线辐射效率测量。本申请降低了测量系统的搭建难度和成本，并能实现构造成一个高度反射性的环境，提升确定天线辐射效率的精确度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及电子通信，特别涉及电磁场测量，尤其涉及一种天线辐射效率测量方法、系统及电子设备。

技术介绍

1、天线辐射效率是无线电通信与雷达系统的主要指标。目前已有多种用于辐射效率测量的方法，其中包括场积分法、滑动壁腔法、惠勒帽法以及混响室测量法。这些传统测量方法各有优缺点，例如场积分法测量时间长、设备昂贵、占地面积大且搭建难度较大，惠勒帽法只合适电小天线，而混响室测量法耗时较长。因此，缺少一种简单快捷且精确测量天线辐射效率的方案。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种天线辐射效率测量方法、系统及电子设备，以解决如何实现简单快捷并精确测量天线辐射效率的问题。

2、第一方面，本申请实施例提供了一种天线辐射效率测量系统，包括：横电磁波室和矢量网络分析仪（vector network analyzers，vna）；

3、其中，所述横电磁波室包括：外防护罩、金属板隔膜、第一负载端口和第二负载端口；所述金属板隔膜设置于所述外防护罩围成的腔室内，所述第一负载端口和第二负载端口设置于所述外防护罩两端本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种天线辐射效率测量系统，其特征在于，包括：横电磁波室和矢量网络分析仪VNA；

2.根据权利要求1所述的天线辐射效率测量系统，其特征在于，还包括：移相器；

3.根据权利要求1或2所述的天线辐射效率测量系统，其特征在于，还包括：短路元件；

4.一种基于权利要求1至3任一项所述天线辐射效率测量系统的天线辐射效率测量方法，其特征在于，包括：

5.根据权利要求4所述的天线辐射效率测量方法，其特征在于，所述第一反射参数包括第一反射损耗和第一传输损耗，所述第二反射参数包括第二反射损耗和第二传输损耗；所述根据所述第一反射参数、所述第二反射参数和所述参...

【技术特征摘要】

1.一种天线辐射效率测量系统，其特征在于，包括：横电磁波室和矢量网络分析仪vna；

2.根据权利要求1所述的天线辐射效率测量系统，其特征在于，还包括：移相器；

3.根据权利要求1或2所述的天线辐射效率测量系统，其特征在于，还包括：短路元件；

4.一种基于权利要求1至3任一项所述天线辐射效率测量系统的天线辐射效率测量方法，其特征在于，包括：

5.根据权利要求4所述的天线辐射效率测量方法，其特征在于，所述第一反射参数包括第一反射损耗和第一传输损耗，所述第二反射参数包括第二反射损耗和第二传输损耗；所述根据所述第一反射参数、所述第二反射参数和所述参考天线的辐射效率，确定待测天线辐射效率，包括：

6.根据权利要求5所述的天线辐射效率测量方法，其特征在于，多个传输信...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋凯，黄漪，肖飞，
申请(专利权)人：人天通信集团有限公司，
类型：发明
国别省市：