【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种半导体器件、尤其是一种用于在故障情况下保护变流器的半导体器件。
技术介绍
1、诸如igbt模块(igbt=绝缘栅双极型晶体管(insulated gate bipolartransistor))那样的功率半导体模块通常具有一个或多个续流二极管。在此,越来越频繁地使用碳化硅(sic)二极管,作为续流二极管。由此,功率密度例如可以在变流器中被显著提高,以在光伏或风力发电设施中使用。然而,续流二极管、尤其是碳化硅二极管,只能在很小的程度上超载。在故障情况下,可能出现非常高的短路电流,该短路电流可能导致续流二极管的爆炸,由此,高导电等离子体可能会逸出,该高导电等离子体可能导致变流器中的进一步的后续短路。这可能导致相对应的设施的火灾并且最终导致彻底失效。
2、因而,功率半导体模块通常具有诸如磁功率开关或者熔断器等机械保护元件,在短路情况下,通过这些机械保护元件来切断模块。然而,这种保护元件所具有的500μs左右的切换时间是比较慢的,并且因而在故障情况下无法总是及时将模块切断,使得无法可靠地防止在该模块处的损坏。利用半
...【技术保护点】
1.一种半导体器件,其具有:
2.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述失效区(320)在水平面内的截面积介于所述半导体本体(100)的总面积的10%与50%之间。
3.根据权利要求1或2所述的半导体器件,其中,所述多个短路区域(32)中的每个短路区域都被设计成柱状,并且沿水平方向具有圆形、椭圆形或多边形截面。
4.根据权利要求3所述的半导体器件,其中,所述多个短路区域(32)中的每个短路区域的延伸尺寸沿水平方向为最大200μm。
5.根据权利要求3或4所述的半导体器件,其中
6.根据权利要求3至5中任一项
...【技术特征摘要】
1.一种半导体器件,其具有:
2.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述失效区(320)在水平面内的截面积介于所述半导体本体(100)的总面积的10%与50%之间。
3.根据权利要求1或2所述的半导体器件,其中,所述多个短路区域(32)中的每个短路区域都被设计成柱状,并且沿水平方向具有圆形、椭圆形或多边形截面。
4.根据权利要求3所述的半导体器件,其中,所述多个短路区域(32)中的每个短路区域的延伸尺寸沿水平方向为最大200μm。
5.根据权利要求3或4所述的半导体器件,其中
6.根据权利要求3至5中任一项所述的半导体器件,其中,所述多个短路区域(32)中的每个短路区域在水平面内具有相同的截面积。
7.根据权利要求1或2所述的半导体器件,其中,所述多个短路区域(32)中的每个短路区域都被设计成环形,使得所述前侧发射极(30)通过所述短路区域(32)被分成各个同心环。
8.根据权利要求7所述的半导体器件,其中,所述多个短路区域(32)中的每个短路区域沿...
【专利技术属性】
技术研发人员:M·德罗德纳,C·德里林,U·凯尔纳韦尔德豪森,S·P·索莫,M·斯泰尔特,
申请(专利权)人:英飞凌科技两极有限两合公司,
类型:发明
国别省市:
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