一种用于TR组件测试的本振信号源结构制造技术

技术编号:40491268 阅读:3 留言:0更新日期:2024-02-26 19:21
本技术涉及本振信号源技术领域,且公开了一种用于TR组件测试的本振信号源结构,包括底板,底板一侧开设有数量为两个的滑槽,滑槽内侧插入有滑块,滑块顶部固定有壳体,壳体内壁开设有限位槽,限位槽内侧插入有电路板,底板顶部固定有若干个支撑柱,底板顶部固定有若干个信号源模块,底板的顶部左侧和壳体之间固定有第一挡板,底板的顶部右侧和壳体之间固定有第二挡板,本技术通过将多个信号源模块集成在同一个设备中,并统一提供参考信号、供电和控制等,使其可同时提供四路本振信号和两路参考信号。在TR组件测试中,该设备可取代多台射频信号源,使得测试系统组成复杂度降低,并减小了系统体积和功耗。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及本振信号源,具体为一种用于tr组件测试的本振信号源结构。


技术介绍

1、tr组件即收发组件,通常用于通信或雷达的信号发射或者信号接收电路中。tr组件通常包含两条通路,发射通路将基带或者中频信号搬移到射频,然后通过天线进行发射;接收通路将天线接收到的信号变频到基带或者中频。在tr组件的相关测试中,需要向其提供本地振荡信号,在多级混频架构的tr组件中,通常还需要提供多路本地振荡信号。

2、现有的tr组件测试中,通常采用射频信号源为其提供本地振荡信号激励,对多级混频架构的tr组件,通常需要多个射频信号源同时工作,从而使得整个测试系统构成复杂、体积庞大、功耗高,为此,提出一种用于tr组件测试的本振信号源结构。


技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种用于tr组件测试的本振信号源结构,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

2、为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种用于tr组件测试的本振信号源结构,包括底板,所述底板一侧开设有数量为两个的滑槽,所述滑槽内侧插入有滑块,所述滑块顶部固定有壳体,所述壳体内壁开设有限位槽,所述限位槽内侧插入有电路板,所述底板顶部固定有若干个支撑柱,所述底板顶部固定有若干个信号源模块,所述底板的顶部左侧和壳体之间固定有第一挡板,所述底板的顶部右侧和壳体之间固定有第二挡板。

3、作为优选,上述壳体外侧设有若干个散热齿,所述支撑柱顶部通过螺栓连接于电路板的一侧。

4、作为优选,上述第一挡板一侧分别安装有ref-10m接口端、数据接口端、网口lan端和电源接口端。

5、作为优选,上述第二挡板一侧分别安装有参考输出信号ref1端、参考输出信号ref2端、本振信号lo-b1接口端、本振信号lo-b2接口端、电源指示灯、运行指示灯、本振信号lo-a1端和本振信号lo-a2端。

6、作为优选,上述ref-10m接口端、数据接口端、网口lan端和电源接口端输出端分别电性连接于电路板的输入端,所述信号源模块输出轴电性连接于电路板的输入端。

7、作为优选,上述电路板输出端分别电性连接于参考输出信号ref1端、参考输出信号ref2端、本振信号lo-b1接口端、本振信号lo-b2接口端、电源指示灯、运行指示灯、本振信号lo-a1端和本振信号lo-a2端的输入端。

8、本技术采用以上技术方案与现有技术相比,具有以下技术效果:本技术通过将多个信号源模块集成在同一个设备中,并统一提供参考信号、供电和控制等,使其可同时提供四路本振信号和两路参考信号,在tr组件测试中,该设备可取代多台射频信号源,使得测试系统组成复杂度降低,并减小了系统体积和功耗。

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【技术保护点】

1.一种用于TR组件测试的本振信号源结构,包括底板(1),其特征在于:所述底板(1)一侧开设有数量为两个的滑槽(19),所述滑槽(19)内侧插入有滑块(18),所述滑块(18)顶部固定有壳体(8),所述壳体(8)内壁开设有限位槽(20),所述限位槽(20)内侧插入有电路板(21),所述底板(1)顶部固定有若干个支撑柱(23),所述底板(1)顶部固定有若干个信号源模块(22),所述底板(1)的顶部左侧和壳体(8)之间固定有第一挡板(5),所述底板(1)的顶部右侧和壳体(8)之间固定有第二挡板(9)。

2.根据权利要求1所述的一种用于TR组件测试的本振信号源结构,其特征在于:所述壳体(8)外侧设有若干个散热齿(2),所述支撑柱(23)顶部通过螺栓连接于电路板(21)的一侧。

3.根据权利要求1所述的一种用于TR组件测试的本振信号源结构,其特征在于:所述第一挡板(5)一侧分别安装有REF-10M接口端(3)、数据接口端(4)、网口LAN端(6)和电源接口端(7)。

4.根据权利要求3所述的一种用于TR组件测试的本振信号源结构,其特征在于:所述第二挡板(9)一侧分别安装有参考输出信号REF1端(10)、参考输出信号REF2端(11)、本振信号LO-B1接口端(12)、本振信号LO-B2接口端(13)、电源指示灯(14)、运行指示灯(15)、本振信号LO-A1端(16)和本振信号LO-A2端(17)。

5.根据权利要求4所述的一种用于TR组件测试的本振信号源结构,其特征在于:所述REF-10M接口端(3)、数据接口端(4)、网口LAN端(6)和电源接口端(7)输出端分别电性连接于电路板(21)的输入端,所述信号源模块(22)输出轴电性连接于电路板(21)的输入端。

6.根据权利要求5所述的一种用于TR组件测试的本振信号源结构,其特征在于:所述电路板(21)输出端分别电性连接于参考输出信号REF1端(10)、参考输出信号REF2端(11)、本振信号LO-B1接口端(12)、本振信号LO-B2接口端(13)、电源指示灯(14)、运行指示灯(15)、本振信号LO-A1端(16)和本振信号LO-A2端(17)的输入端。

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【技术特征摘要】

1.一种用于tr组件测试的本振信号源结构,包括底板(1),其特征在于:所述底板(1)一侧开设有数量为两个的滑槽(19),所述滑槽(19)内侧插入有滑块(18),所述滑块(18)顶部固定有壳体(8),所述壳体(8)内壁开设有限位槽(20),所述限位槽(20)内侧插入有电路板(21),所述底板(1)顶部固定有若干个支撑柱(23),所述底板(1)顶部固定有若干个信号源模块(22),所述底板(1)的顶部左侧和壳体(8)之间固定有第一挡板(5),所述底板(1)的顶部右侧和壳体(8)之间固定有第二挡板(9)。

2.根据权利要求1所述的一种用于tr组件测试的本振信号源结构,其特征在于:所述壳体(8)外侧设有若干个散热齿(2),所述支撑柱(23)顶部通过螺栓连接于电路板(21)的一侧。

3.根据权利要求1所述的一种用于tr组件测试的本振信号源结构,其特征在于:所述第一挡板(5)一侧分别安装有ref-10m接口端(3)、数据接口端(4)、网口lan端(6)和电源接口端(7)。

4.根据权利要求3所述的一种用于tr组...

【专利技术属性】
技术研发人员:梁浩冯洋吴兴平
申请(专利权)人:苏州华创朗仪科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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