【技术实现步骤摘要】
本申请涉及锂离子电池制造，尤其涉及一种极片的涂层厚度检测方法及装置。
技术介绍
1、锂离子电池的极片的涂层厚度是评价锂电池工作效率及稳定性的重要参数，直接影响电池内阻、容量、充放电性能及电池装配过程，需要在生产时对极片的涂层厚度进行有效控制与精准测量。
2、由于极片的涂覆过程中工艺参数的波动、外界扰动引起涂层厚度不均匀，因此检测极片的涂层厚度具有重要意义。
技术实现思路
1、本申请提供一种极片的涂层厚度检测方法及装置。
2、本申请的技术方案是这样实现的：
3、第一方面，本申请提供了一种极片的涂层厚度检测方法，所述方法包括：
4、通过控制器接收到清洗指令的情况下，控制激光清洗振镜系统对待清洗区域内的涂层进行清洗，得到清洗区域；
5、通过所述控制器接收到第一测量指令的情况下，控制第一激光测距仪测量所述第一激光测距仪距离所述清洗区域的第一距离；
6、通过所述控制器接收到第二测量指令的情况下，控制第二激光测距仪测量所述第二激光测距仪距离涂层区域的第二距离；其中，所述第二激光测距仪位于所述第一激光测距仪的对侧；
7、通过控制器根据所述第一距离、所述第二距离、所述极片的基材厚度以及所述第一激光测距仪与所述第二激光测距仪之间的总距离，确定所述极片的涂层厚度。
8、根据上述技术手段，通过激光清洗振镜系统清洗极片的单面涂层，通过第一激光测距仪测量的自身距离清洗区域的第一距离，以及第二激光测距仪测量的自身距
9、上述方案中，所述通过控制器根据所述第一距离、所述第二距离、所述极片的基材厚度以及所述第一激光测距仪与所述第二激光测距仪之间的总距离，确定所述极片的涂层厚度，包括：
10、通过所述控制器将所述第一距离、所述第二距离、所述极片的基材厚度的相加，得到第三距离；通过所述控制器确定所述总距离与所述第三距离的差值，得到所述极片的第二涂层的涂层厚度。
11、根据上述技术手段，本申请实施例中采用对射激光测距仪测量清洗区域的整体厚度（即第一距离、第二距离相加后，与总距离的差值的绝对值），即第二涂层＋基材厚度，在计算整体厚度与基材厚度的差值得到第二涂层的涂层厚度，这样虽无法避免基材的影响，但可以避免测试平台或者极片平整度的影响。
12、上述方案中，所述第一激光测距仪或所述第二激光测距仪的扫描方式包括：点激光扫描或者线激光扫描。
13、根据上述技术手段，线激光扫描是使用一个激光线进行扫描，这样可一次性测量距离清洗区域的第一距离和距离涂层区域的第二距离，提高测量效率。
14、上述方案中，还包括：在所述极片放置在载具且位于相机感应区域内的情况下，通过所述控制器控制所述相机左右寻边，确定所述待清洗区域的多个待清洗位置；
15、所述控制激光清洗振镜系统对待清洗区域内的涂层进行清洗，包括：
16、通过所述控制器根据所述待清洗区域的多个待清洗位置，控制所述激光清洗振镜系统对所述待清洗区域内的涂层进行清洗。
17、根据上述技术手段，通过相机左右寻边先确定待清洗区域的多个待清洗位置，再通过激光清洗振镜系统根据多个待清洗位置对待清洗区域内的涂层进行清洗，保证对清洗区域的涂层的准确清洗。
18、上述方案中，所述通过所述控制器控制所述相机左右寻边，确定所述待清洗区域的多个待清洗位置，包括：
19、通过所述控制器控制所述相机采集极片图像；
20、通过所述相机对所述极片图像进行边缘检测，得到所述极片图像中所述待清洗区域的左右边缘位置；
21、通过所述相机基于所述待清洗区域的左右边缘位置，确定所述待清洗区域的多个待清洗位置。
22、根据上述技术手段，通过相机采集极片图像，并对极片图像进行边缘检测，得到极片图像中待清洗区域的左右边缘位置，进而保证待清洗区域的多个待清洗位置的准确获取。
23、上述方案中，还包括：在所述极片放置在载具且位于相机感应区域内的情况下，通过所述控制器控制所述相机左右寻边，确定所述清洗区域的多个第一测距位置；及通过所述控制器控制所述相机左右寻边，确定所述涂层区域的多个第二测距位置；
24、所述控制第一激光测距仪测量所述第一激光测距仪距离所述清洗区域的第一距离，包括：通过所述控制器根据所述清洗区域的多个第一测距位置，控制所述第一激光测距仪测量所述第一激光测距仪距离所述清洗区域的多个第一距离；
25、所述控制第二激光测距仪测量所述第二激光测距仪距离涂层区域的第二距离，包括：通过所述控制器根据所述涂层区域的多个第二测距位置，控制所述第二激光测距仪测量所述第二激光测距仪距离所述涂层区域的多个第二距离。
26、根据上述技术手段，通过相机左右寻边先确定清洗区域的多个第一测距位置，再通过第一激光测距仪根据多个第一测距位置，测量第一激光测距仪距离清洗区域的多个第一距离，保证第一激光测距仪距离清洗区域的高度的准确测量。通过相机左右寻边先确定涂层区域的多个第二测距位置，再通过第二激光测距仪根据多个第二测距位置，测量第二激光测距仪距离涂层区域的多个第二距离，保证第二激光测距仪距离涂层区域的高度的准确测量。
27、上述方案中，还包括：
28、通过存储器将所述极片的涂层厚度进行存储。
29、根据上述技术手段，存储极片的涂层厚度，便于后续根据极片的涂层厚度确定是否需要对涂层进行削薄处理，进而保证生产的极片的涂层厚度符合设计要求。
30、上述方案中，还包括：
31、通过所述控制器获取所述极片的涂层厚度；
32、通过所述控制器根据中心位置的涂层厚度，与除所述中心位置之外的其余位置的涂层厚度之间的差异，确定所述极片的涂层削薄量和宽度值。
33、根据上述技术手段，极片的不同位置涂层的涂层厚度要求不一致，本申请根据其余位置的涂层厚度与中心位置的涂层厚度的差异，对对应位置的涂层进行削薄处理，提高极片的生产质量。
34、上述方案中，所述通过所述控制器根据中心位置的涂层厚度，与除所述中心位置之外的其余位置的涂层厚度之间的差异，确定所述极片的涂层削薄量和宽度值，包括：
35、通过所述控制器确定所述差异小于预设差异阈值的情况下，将所述预设差异阈值与所述差异之间的差值作为所述极片的其余位置处的涂层削薄量；
36、通过所述控制器确定连续相邻且涂层削薄量相同的至少两个其余位置的间距，得到所述宽度值。
37、根据上述技术手段，本申请将其余位置的涂层厚度与中心位置的涂层厚度的差异，与标准极片对应的预设差异阈值作比较，从而保证生产的极片的涂层厚度标准化，提高极片的生产质量。
38、第二方面，本申请提供本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种极片的涂层厚度检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，所述通过控制器根据所述第一距离、所述第二距离、所述极片的基材厚度以及所述第一激光测距仪与所述第二激光测距仪之间的总距离，确定所述极片的涂层厚度，包括：
3.根据权利要求1或2所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，所述第一激光测距仪或所述第二激光测距仪的扫描方式包括：点激光扫描或者线激光扫描。
4.根据权利要求1或2所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求4所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，所述通过所述控制器控制所述相机左右寻边，确定所述待清洗区域的多个待清洗位置，包括：
6.根据权利要求1或2所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，还包括：
7.根据权利要求1或2所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，还包括：
8.根据权利要求7所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，还包括：
9.根据权利要求8所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，所述通过所述控制器根据中心位置的
10.一种极片的涂层厚度检测装置，其特征在于，所述涂层厚度检测装置包括：激光清洗振镜系统、载物台、载具、第一支架、第二支架、第一导轨、第二导轨、第三导轨和控制器；还包括第一激光测距仪和第二激光测距仪；
11.根据权利要求10所述的涂层厚度检测装置，其特征在于，所述涂层厚度检测装置还包括相机，所述相机与所述激光清洗振镜系统集成在一起；所述控制器还用于控制所述第一导轨和所述第三导轨将所述相机移动至所述极片的上方；
12.根据权利要求10所述的涂层厚度检测装置，其特征在于，所述涂层厚度检测装置还包括相机，所述相机与所述激光清洗振镜系统集成在一起；所述控制器还用于控制所述第一导轨和所述第三导轨将所述相机移动至所述极片的上方；
13.根据权利要求11或12所述的涂层厚度检测装置，其特征在于，所述涂层厚度检测装置还包括吸尘装置，所述吸尘装置与所述激光清洗振镜系统集成在一起；
...【技术特征摘要】
1.一种极片的涂层厚度检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，所述通过控制器根据所述第一距离、所述第二距离、所述极片的基材厚度以及所述第一激光测距仪与所述第二激光测距仪之间的总距离，确定所述极片的涂层厚度，包括：
3.根据权利要求1或2所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，所述第一激光测距仪或所述第二激光测距仪的扫描方式包括：点激光扫描或者线激光扫描。
4.根据权利要求1或2所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求4所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，所述通过所述控制器控制所述相机左右寻边，确定所述待清洗区域的多个待清洗位置，包括：
6.根据权利要求1或2所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，还包括：
7.根据权利要求1或2所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，还包括：
8.根据权利要求7所述的涂层厚度检测方法，其特征在于，还包括：
9.根据权利要求8所述的涂层厚度检测方法，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈静，罗东升，
申请(专利权)人：宁德时代新能源科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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