【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数字处理，具体涉及一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统。
技术介绍
1、电子元器件是电子元件、机器、仪器的重要组成部分，由若干个零件构成，是电容、晶体管、游丝和发条等电子器件的总称，电子元器件的表面缺陷直接影响电子元器件的合格率，还存在性能表现不佳的风险，由此，对电子元器件表面缺陷检测是必要的。在现阶段，主要有人工目测检测、红外检测等相关检测手段，但人工目检效率低下，红外检测的受限制条件较多。
2、现有技术中存在电子元器件表面缺陷检测的算力资源利用率低，检测效率低且准确性低的技术问题。
技术实现思路
1、本申请通过提供了一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统，解决了电子元器件表面缺陷检测的算力资源利用率低，检测效率低且准确性低的技术问题，达到了针对缺陷检测的需求，针对性的搭建不同精度的检测模型，提高算力资源利用率的同时，提升检测效率和准确性的技术效果。
2、鉴于上述问题，本申请提供了一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统。
3、本申请的第一个方面，提供了一种电子元器件表面缺陷检测方法，其中，所述方法包括：采集待检测元器件主板的图像信息，获得待检测图像信息，其中，所述待检测元器件主板上包括待进行表面缺陷检测的多个目标元器件；按照所述多个目标元器件，对所述待检测图像信息进行划分，获得多个元器件图像信息；分析所述多个目标元器件进行表面缺陷检测的需求度，获得多个需求度信息；根据所述多个目标元器件，构建多个元器件图像生成式对抗网络模型；将所述多个
4、本申请的第二个方面，提供了一种电子元器件表面缺陷检测系统，其中，所述系统包括：图像信息采集单元，所述图像信息采集单元用于采集待检测元器件主板的图像信息，获得待检测图像信息，其中，所述待检测元器件主板上包括待进行表面缺陷检测的多个目标元器件；信息划分单元，所述信息划分单元用于按照所述多个目标元器件，对所述待检测图像信息进行划分，获得多个元器件图像信息；需求度获得单元，所述需求度获得单元用于分析所述多个目标元器件进行表面缺陷检测的需求度，获得多个需求度信息；对抗模型构建单元，所述对抗模型构建单元用于根据所述多个目标元器件，构建多个元器件图像生成式对抗网络模型；图像集合获得单元，所述图像集合获得单元用于将所述多个元器件图像信息分别输入所述多个元器件图像生成式对抗网络模型，获得多个元器件生成图像集合；性能要求获得单元，所述性能要求获得单元用于根据所述多个需求度信息，分析获得多个模型性能要求信息；检测模型构建单元，所述检测模型构建单元用于获取所述多个目标元器件的基础图像集合，结合所述多个元器件生成图像集合获得多个构建数据集，根据所述多个模型性能需求信息，构建多个元器件表面缺陷检测模型；检测结果获得单元，所述检测结果获得单元用于将所述多个元器件图像信息输入所述多个元器件表面缺陷检测模型内，获得多个元器件表面缺陷质量检测结果。
5、本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
6、由于采用了获得待检测图像信息；对待检测图像信息进行划分，获得多个元器件图像信息；获得多个需求度信息；构建多个元器件图像生成式对抗网络模型；获得多个元器件生成图像集合；分析获得多个模型性能要求信息；获取多个目标元器件的基础图像集合，根据多个模型性能需求信息，构建多个元器件表面缺陷检测模型；将多个元器件图像信息输入多个元器件表面缺陷检测模型内，获得多个元器件表面缺陷质量检测结果。本申请达到了针对缺陷检测的需求，针对性的搭建不同精度的检测模型，提高算力资源利用率的同时，提升检测效率和准确性的技术效果。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种电子元器件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，分析所述多个目标元器件进行表面缺陷检测的需求度，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述构建检测需求度分析模型，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述多个目标元器件，构建多个元器件图像生成式对抗网络模型，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述多个需求度信息，分析获得多个模型性能要求信息，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，获取所述多个目标元器件的基础图像集合，结合所述多个元器件生成图像集合获得多个构建数据集，根据所述多个模型性能需求信息，构建多个元器件表面缺陷检测模型，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，根据所述多个构建数据集和所述多个模型准确率要求信息，构建所述多个元器件表面缺陷检测模型，包括：
8.一种电子元器件表面缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括：
【技术特征摘要】
1.一种电子元器件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，分析所述多个目标元器件进行表面缺陷检测的需求度，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述构建检测需求度分析模型，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述多个目标元器件，构建多个元器件图像生成式对抗网络模型，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述多个需求度信息，分析...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐鑫，
申请(专利权)人：南通朗顺智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。