【技术实现步骤摘要】
本专利涉及半导体工艺和设备,高温氢化物气相外延装置的生长方法及结构,具体涉及一种氮化铝晶体生长所用的高温氢化物气相外延的生长方法。
技术介绍
1、氮化铝(aln)是典型的第三代半导体材料,因其具有高禁带宽度、高热导率和高载流子迁移率等特性,在深紫外光电器件和高频高功率电子器件等方面具有不可替代的作用,而有关大尺寸高质量氮化铝单晶的生长方法一直是国际上的研究热点。当前获得aln单晶的主流方法有pvt和hvpe方法。其中氢化物气相外延(hvpe)氮化铝(aln)厚膜在生长速率,外延膜质量,紫外透过率等方面具有优势。
2、在氢化物气相外延(hvpe)生长氮化铝晶体过程中,一般采用金属铝,氯化氢(hcl)气体与金属铝反应生成氯化铝为金属源,然后再与氨气(nh3)高温反应生成aln。此过程面临两大困境:一是hcl与固态铝源反应不充分,金属源利用率低;二是氯化铝源极活泼,易与氨气发生预反应,极大降低生长速率。同时大量未反应的氯化氢气体在高温反应室中会刻蚀晶体表面导致外延厚膜质量下降。因此,如何改进hvpe设备中的铝舟及喷嘴结构,并配合相
...【技术保护点】
1.一种外延氮化铝厚膜的生长方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.如权利要求1所述的外延氮化铝厚膜的生长方法,其特征在于,所述步骤1)中金属Al颗粒的纯度≥99.99%,单个金属Al颗粒小于等于1cm3。
3.如权利要求1所述的外延氮化铝厚膜的生长方法,其特征在于,所述石英舟盖子上的孔的直径范围为1-8mm。
4.如权利要求1所述的外延氮化铝厚膜的生长方法,其特征在于,所述步骤2)所述多路分隔喷嘴结构与样品台前端距离50-300mm。
5.如权利要求1所述的外延氮化铝厚膜的生长方法,其特征在于,所述步骤3)、步骤4)和步
...【技术特征摘要】
1.一种外延氮化铝厚膜的生长方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.如权利要求1所述的外延氮化铝厚膜的生长方法,其特征在于,所述步骤1)中金属al颗粒的纯度≥99.99%,单个金属al颗粒小于等于1cm3。
3.如权利要求1所述的外延氮化铝厚膜的生长方法,其特征在于,所述石英舟盖子上的孔的直径范围为1-8mm。
4.如权利要求1所述的外延氮化铝厚膜的生长方法,其特征在于,所述步骤2)所述多路分隔喷嘴结构与样品台前端距离50-300mm。
5.如权利要求1所述的外延氮化铝厚膜的生长方法,其...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴洁君,王泽人,于彤军,刘云琪,张皇澍,陈加昊,沈波,
申请(专利权)人:北京大学,
类型:发明
国别省市:
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