【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于安检图像材料性能测试的装置，同时也涉及相应的测试方法，属于功能检验。
技术介绍
1、在安检设备出厂安装或运行一段时间后，可能出现安检图像的质量退化现象。分析其原因，大致包括以下几方面：
2、1.结构因素
3、安检设备出厂解体运输及现场重新组装时，安检设备内部与x射线光路相关的结构发生肉眼难以察觉的形变，使安检设备光路无法按设计方案发挥最佳效果；
4、2.射线剂量因素
5、因安检设备现场使用的主客观条件限制或因射线剂量测定仪表选择或使用不当，导致单次检查剂量未达产品标准，或单次检查剂量虽达标，但探测器和射线扇面未能严格对正。上述状况会造成射线剂量利用率偏低，导致图像信噪比降低
6、3.物理因素
7、具体包括：x射线管的工作参数因电子元器件的参数漂移而发生漂移；x射线管因钨靶和灯丝在高热环境下逐渐蒸发损耗导致剂量率逐渐降低、能谱逐渐漂移；闪烁体材料因辐照损伤导致转换效率降低等。上述状况将导致图像信噪比降低，高低能信号比例关系变化。
8、4.算法因素
9、即使是同一型号、同一批次的不同安检设备，物理平台差异客观存在、并会随时间缓慢变化，在安检设备生命周期内，如果不根据物理平台状况适时调整算法参数，安检图像质量就难以始终保持最佳状态，对图像视觉效果和检查人员判读图像造成影响。因此，对安检设备的图像质量做出准确评价，对于了解当前安检设备性能，比较不同安检设备差异，分析安检设备存在的问题，具有十分重要的意义。
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技术实现思路
1、本专利技术所要解决的首要技术问题在于提供一种用于安检图像材料性能测试的装置。
2、本专利技术所要解决的另一技术问题在于提供一种用于安检图像材料性能测试的方法。
3、为实现上述技术目的，本专利技术采用以下的技术方案：
4、根据本专利技术实施例的第一方面，提供一种用于安检图像材料性能测试的装置，包括：主测试箱、第一附加测试箱和第二附加测试箱；
5、其中，所述主测试箱包括第一基底和至少3个测试卡；
6、所述第一附加测试箱包括第二基底和至少2个测试卡；
7、所述第二附加测试箱包括第三基底和至少2个测试卡。
8、其中较优地，所述第一基底、所述第二基底和所述第三基底的射线投影灰度值均大于或等于安检设备投影饱和度的90％；所述测试卡包括6个不同厚度、相同面积的阶梯块。
9、其中较优地，所述主测试箱的阶梯块材质至少包括有机玻璃和低碳钢的组合材质、铝材质、低碳钢材质三种；
10、所述第一附加测试箱的阶梯块材质至少包括有机玻璃和低碳钢的组合材质、有机玻璃材质两种。
11、其中较优地，将所述铝材质替换为有效原子序数为大于或等于12且小于或等于14的物质；将所述低碳钢材质替换为有效原子序数为大于或等于24且小于或等于27的物质；将有机玻璃材质替换为有效原子序数为大于或等于6.0且小于或等于8.0的物质。
12、其中较优地，6个所述阶梯块按照x射线投影值由高到低进行排列；其中，一侧阶梯块的有机玻璃片与低碳钢片组合形成的x射线投影灰度值，为安检设备投影饱和值的80％；另外一侧阶梯块的有机玻璃片与低碳钢片组合形成的投影灰度值，为大于或等于安检设备投影饱和值的5％且小于或等于安检设备投影饱和值的10％；中间4个阶梯块的有机玻璃片与低碳钢片组合形成的投影灰度值，依次为安检设备投影饱和值的60％、40％、25％、15％。
13、根据本专利技术实施例的第二方面，提供一种用于安检图像材料性能测试的方法，包括如下步骤：
14、s1：通过安检设备采集获得安检图像；
15、s2：对安检图像进行处理，识别测试装置图像；
16、s3：分割不同有效原子序数测试卡区域；
17、s4：分割各个测试卡中不同厚度的阶梯区域；
18、s5：测试安检图像材料性能；
19、s6：将步骤s5中得到的所有测试结果进行汇总并输出。
20、其中较优地，所述识别测试装置图像包括如下子步骤：
21、s21：将安检图像进行阈值分割，并将分割结果二值化；其中，所述阈值为安检设备投影饱和值的85％；
22、s22：将二值化后的分割结果进行形态学处理，得到连通区图像；
23、s23：判断连通区各数据是否在规定误差范围内；
24、s24：当所有判据都满足要求时，则识别为测试装置图像；当任意一个判据不满足要求时，则排除该安检图像。
25、其中较优地，所述步骤s23的判断内容包括以下情况：
26、1.连通区面积大小与经验值的差异是否在规定误差范围内；
27、2.各个连通区主轴方向长宽比值与经验值的差异是否在规定误差范围内；
28、3.各个连通区面积与其外接矩形面积比值与经验值的差异是否在规定误差范围内；
29、4.两两连通区中心距离值与经验值的差异是否在规定误差范围内；
30、5.连通区的位置分布关系与经验值的差异是否在规定误差范围内。
31、其中较优地，所述步骤s4的分割过程包括如下子步骤：
32、s41：采集步骤s3中得到的不同等效原子序数测试卡的分割区域；
33、s42：在图像中抑制局部像素非最大梯度点之后，设定一个阈值函数，往基准灰度两侧呈单调递减，只保留不低于此阈值函数的像素点；
34、其中，所述阈值函数为安检设备投影饱和值的50％；
35、s43：边缘连通区分析与过滤，得到各测试卡中不同阶梯区域的边界；
36、s44：基于边界，分割各测试卡中不同厚度的阶梯区域。
37、其中较优地，所述测试安检图像材料性能包括如下子步骤：
38、s51：采集步骤s4得到的测试卡中各阶梯区域分割结果；
39、s52：彩色图像模型转换；
40、s53：统计各阶梯区域分割结果的颜色与材料值信息；
41、s54：汇总统计各测试卡材本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于安检图像材料性能测试的装置，其特征在于包括：主测试箱、第一附加测试箱和第二附加测试箱；
2.如权利要求1所述的装置，其特征在于：
3.如权利要求2所述的装置，其特征在于：
4.如权利要求3所述的装置，其特征在于：
5.如权利要求4所述的装置，其特征在于：
6.一种用于安检图像材料性能测试的方法，其特征在于包括如下步骤：
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于所述步骤S2包括如下子步骤：
8.如权利要求7所述的方法，其特征在于所述步骤S4包括如下子步骤：
9.如权利要求8所述的方法，其特征在于所述步骤S5包括如下子步骤：
10.如权利要求9所述的方法，其特征在于测试安检图像材料性能包括如下测试内容：
【技术特征摘要】
1.一种用于安检图像材料性能测试的装置，其特征在于包括：主测试箱、第一附加测试箱和第二附加测试箱；
2.如权利要求1所述的装置，其特征在于：
3.如权利要求2所述的装置，其特征在于：
4.如权利要求3所述的装置，其特征在于：
5.如权利要求4所述的装置，其特征在于：
6.一种用于安检图像材料性能测试的...
【专利技术属性】
技术研发人员：孔维武，张勇，赵刚，廖建新，董明文，
申请(专利权)人：公安部第一研究所，
类型：发明
国别省市：
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