一种激光直接测量浮选泡沫厚度的装置及其方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种激光直接测量浮选泡沫厚度的装置及其方法，固定支架（６）一端设在浮选槽（３）上，所述的固定支架（６）的另一端滑动套装有处于所述的浮选槽（３）内的滑杆（７），所述的滑杆（７）的下端连接有与矿浆液面直接接触的浮子，所述的滑杆（７）的顶端设有反射激光的激光反射平台（５），一台便携式激光测距传感器（４）与所述的激光反射平台（５）和所述的浮选槽（３）对应工作。便携式激光测距传感器测量出浮选泡沫距便携式激光测距传感器４的距离Ｌ２；在同一高度处，使便携式激光测距传感器测量矿浆液面的位置距便携式激光测距传感器４的距离Ｌ１；计算公式：Ｌ１－Ｌ２浮选泡沫的厚度。本发明专利技术能直接精确测量浮选泡沫厚度且测量精度高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种激光测量浮选泡沫厚度的装置，涉及选矿(浮选)液位检测控制 领域，本专利技术还涉及一种利用激光能够精确直接测量浮选泡沫厚度的方法。
技术介绍
浮选是资源加工中最重要的技术，可加工处理各种矿物资源、二次资源及非矿物 资源。目前，国内很多的小型选矿厂，调节泡沫层厚度采用的方法还在靠操作工的经验，用 视觉来判断泡沫层的厚度，相当的落后。在一些规模比较大的选场中，也没有直接测量泡沫 层厚度的有效方法，一般采用浮选槽液面的检测，控制泡沫产品的刮出量，间接的控制泡沫 层厚度，这种自动调控应用的主要方法有(1)用浮子式液位计测量液位；(2)用静压式液 位计测量液位；(3)用超声波物位计控制液位。无论是现存的哪种检测浮选液面的方法，均存在着比较大的缺陷，不能直接测量 出浮选泡沫的厚度，直接便捷的指导实际生产的进行。同时，在生产过程中，浮选介质的密度、浓度、pH值等变化很大，是一个复杂的溶液 体系。要想实现准确的测量必须实现无接触测量，浮子液位计和静压式液位计满足不了条 件，易腐蚀而且精度很差。同时，超声波物位计对生产条件也有较高的要求，其浮选搅拌过 程容易导致超声波信号的丢失，更重本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光直接测量浮选泡沫厚度的装置，其特征在于：固定支架（６）一端设在浮选槽（３）上，所述的固定支架（６）的另一端滑动套装有处于所述的浮选槽（３）内的滑杆（７），所述的滑杆（７）的下端连接有与矿浆液面直接接触的浮子，所述的滑杆（７）的顶端设有反射激光的激光反射平台（５），一台便携式激光测距传感器（４）与所述的激光反射平台（５）和所述的浮选槽（３）对应工作。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙伟，黄红军，杨越，黄红梅，田永华，吕薇，
申请(专利权)人：中南大学，
类型：发明
国别省市：43[中国|湖南]