本公开实施例是关于一种无源干扰设备的精度校准‑测试装置及其使用方法。该装置包括：天线方位角调节机构包括第一升降台、滑轨、天线固定台、水平仪、双路测距仪、校瞄镜靶标、第一单路测距仪和激光接收器；无源干扰设备固定机构包括第二升降台、设备固定台、校瞄镜、第二单路测距仪和激光尺；集成控制机构分别与双路测距仪、第一单路测距仪、激光接收器、第二单路测距仪和激光尺电连接。本公开实施例通过各个测量部件的复合测量，保证了校准精度的准确性。通过集成控制机构来自动化调节无源干扰机构和待测天线之间的相对位置并调节平行度、进行零位校准和方位角计算，进而高效地实现对无源干扰设备的校核和测量工作。
【技术实现步骤摘要】
本公开实施例涉及无源干扰设备的校准，尤其涉及一种无源干扰设备的精度校准-测试装置及其使用方法。
技术介绍
1、无源干扰设备是对有源设备进行探测的一种设备，其可以根据有源设备发射出的电磁波、红外线等信号来准确测量有源设备的方位、距离等参数，进而实现目标识别，其在工业设备、军用设备和部分民用设备中都有应用。在无源设备的调试生产过程中，需要对其测量参数进行校准以提高设备测量的准确性。
2、目前主要通过角度和距离测量装置(如全站仪、经纬仪等)或在安装着众多不同波段天线的大型微波实验室中对干扰设备的测量方位角进行校核，这两种方式都具有较高的准确性，但是也具有诸多缺点。全站仪和经纬仪的缺点体现在以下几点：1)仪器使用需要专业的测量知识，对操作规范有较高的要求，通常需要专业人员来操作；2)测试时间长，且测量所得数据需要再次处理，耗时长，降低了工作效率；3)仪器使用不方便，调试校准时设备不能移动，否则基准点出现偏差会导致校准参数失效。微波实验室的缺点体现在：1)无法移动，不具备便携性；2)需要专业人员进行操作调整，使用周期长，设备使用灵活性差。
技术实现思路
1、为了避免现有技术的不足之处，本专利技术提供一种无源干扰设备的精度校准-测试装置，用以解决现有技术中存在操作专业要求高、测试时间长和灵活性差等问题。
2、根据本公开实施例的第一方面，提供一种无源干扰设备的精度校准-测试装置，该装置包括：
3、天线方位角调节机构、无源干扰设备固定机构和集成控制机构；
4、所述天线方位角调节机构包括第一升降台、滑轨、天线固定台、两个水平仪、两个双路测距仪、两个校瞄镜靶标、两个第一单路测距仪和两个激光接收器；其中，
5、所述滑轨设置在所述第一升降台上，所述天线固定台活动设置在所述滑轨上，所述天线固定台用于固定待测天线，调节所述天线固定台能够使所述天线固定台沿所述滑轨的轴向方向移动，两个所述水平仪分别设置在所述滑轨的两端，两个所述双路测距仪、两个所述校瞄镜靶标、两个所述第一单路测距仪和两个所述激光接收器均设置在所述滑轨上；
6、所述无源干扰设备固定机构包括第二升降台、设备固定台、两个校瞄镜、两个第二单路测距仪和两个激光尺；其中，
7、所述设备固定台设置在所述第二升降台上，两个所述校瞄镜、两个所述第二单路测距仪和两个所述激光尺均设置在所述设备固定台，所述设备固定台用于固定无源干扰设备；
8、所述集成控制机构分别与所述双路测距仪、所述第一单路测距仪、所述激光接收器、所述第二单路测距仪和所述激光尺电连接。
9、两个所述校瞄镜和两个所述校瞄镜靶标的位置相对应，以使能够通过所述校瞄镜观察到所述校瞄镜靶标。
10、两个所述激光尺和两个所述激光接收器的位置相对应，以使所述激光接收器能够接收到所述激光尺发出的激光。
11、两个所述双路测距仪分别设置在所述待测天线的两侧，用于测量所述待测天线距离水平地面的高度和所述待测天线与所述无源干扰设备之间的距离。
12、两个所述第一单路测距仪分别设置在所述待测天线的两侧，用于测量所述待测天线与所述滑轨的位置关系。
13、两个所述第二单路测距仪分别设置在所述设备固定台的两侧，用于测量所述源干扰设备距离水平地面的高度。
14、根据本公开实施例的第二方面，提供一种无源干扰设备的精度校准-测试装置的使用方法，应用于上述任一权利要求所述无源干扰设备的精度校准-测试装置，该方法包括：
15、对天线方位角调节机构和无源干扰设备固定机构进行零位校准，具体包括：
16、将天线固定台移动到滑轨的中心位置；
17、调节第一升降台和第二升降台，以对所述天线固定台上的待测天线距离水平地面的高度和无源干扰设备距离水平地面的高度进行粗调；
18、利用水平仪将滑轨调节到与水平面平行；
19、调节所述校瞄镜观察所述校瞄镜靶标，以对所述待测天线的平面和所述无源干扰设备的平面的平行度进行粗调；
20、打开激光尺，以使所述激光尺发射出的激光能够打在激光接收器上激光点；
21、利用双路测距仪测量所述待测天线距离水平地面的高度、所述待测天线与所述无源干扰设备之间的距离，利用第二测距仪测量测量所述无源干扰设备距离水平地面的高度；
22、利用集成控制机构计算所述激光点与激光接收器中心位置的差值、所述待测天线距离水平地面的高度和所述无源干扰设备距离水平地面的高度之差，以得到测量参数；
23、所述集成控制机构根据所述测量参数调节所述第一升降台和所述第二升降台，使所述待测天线距离水平地面的高度和所述无源干扰设备的高度相同，且使所述待测天线的平面和所述无源干扰设备的平面平行，从而找到零位；
24、对所述待测天线进行测试，具体包括：
25、记录所述零位的位置；
26、利用所述集成控制机构控制所述天线固定台沿所述滑轨的轴向移动，以调节所述待测天线在所述滑轨上的相对位置；
27、利用第一测距仪测量所述待测天线在所述滑轨上位置的相对变化，利用所述双路测距仪测量所述待测天线与所述无源干扰设备之间的距离；
28、根据计算所述待测天线在所述滑轨上位置的相对变化、所述待测天线与所述无源干扰设备之间的距离，计算所述待测天线与无源干扰设备之间的实际方位角；
29、所述无源干扰设备接收所述待测天线发射出的信号，并计算理论方位角，根据所述理论方位角和所述实际方位角进行对比，以进行校核工作。
30、该方法还包括：
31、利用所述校瞄镜观察所述校瞄镜靶标，确认所述零位的准确性；
32、若观察点处于正中心，则所述零点位置准确。
33、本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
34、本公开的实施例中，通过上述无源干扰设备的精度校准-测试装置及其使用方法，一方面，通过校瞄镜和校瞄镜靶标、激光尺和激光接收器、双路测距仪、第一单路测距仪及第二单路测距仪的复合测量，保证了校准精度的准确性。另一方面，通过集成控制机构来自动化调节无源干扰机构和待测天线之间的相对位置并调节平行度、进行零位校准和方位角计算，进而高效地实现对无源干扰设备的校核和测量工作。
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【技术保护点】
1.一种无源干扰设备的精度校准-测试装置，其特征在于，该装置包括：
2.根据权利要求1所述无源干扰设备的精度校准-测试装置，其特征在于，两个所述校瞄镜和两个所述校瞄镜靶标的位置相对应，以使能够通过所述校瞄镜观察到所述校瞄镜靶标。
3.根据权利要求1所述无源干扰设备的精度校准-测试装置，其特征在于，两个所述激光尺和两个所述激光接收器的位置相对应，以使所述激光接收器能够接收到所述激光尺发出的激光。
4.根据权利要求1所述无源干扰设备的精度校准-测试装置，其特征在于，两个所述双路测距仪分别设置在所述待测天线的两侧，用于测量所述待测天线距离水平地面的高度和所述待测天线与所述无源干扰设备之间的距离。
5.根据权利要求1所述无源干扰设备的精度校准-测试装置，其特征在于，两个所述第一单路测距仪分别设置在所述待测天线的两侧，用于测量所述待测天线与所述滑轨的位置关系。
6.根据权利要求1所述无源干扰设备的精度校准-测试装置，其特征在于，两个所述第二单路测距仪分别设置在所述设备固定台的两侧，用于测量所述源干扰设备距离水平地面的高度。
7.一种无源干扰设备的精度校准-测试装置的使用方法，应用于权利要求1～6任一所述无源干扰设备的精度校准-测试装置，其特征在于，该方法包括：
8.根据权利要求7所述无源干扰设备的精度校准-测试装置的使用方法，其特征在于，该方法还包括：
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【技术特征摘要】
1.一种无源干扰设备的精度校准-测试装置，其特征在于，该装置包括：
2.根据权利要求1所述无源干扰设备的精度校准-测试装置，其特征在于，两个所述校瞄镜和两个所述校瞄镜靶标的位置相对应，以使能够通过所述校瞄镜观察到所述校瞄镜靶标。
3.根据权利要求1所述无源干扰设备的精度校准-测试装置，其特征在于，两个所述激光尺和两个所述激光接收器的位置相对应，以使所述激光接收器能够接收到所述激光尺发出的激光。
4.根据权利要求1所述无源干扰设备的精度校准-测试装置，其特征在于，两个所述双路测距仪分别设置在所述待测天线的两侧，用于测量所述待测天线距离水平地面的高度和所述待测天线与所述无源干扰设备之...
【专利技术属性】
技术研发人员：张天宁，耿少航，杨一帆，胡耀辉，
申请(专利权)人：西安电子工程研究所，
类型：发明
国别省市：
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