一种测试连接器制造技术

本技术公开了一种测试连接器，包括主体、外导体、第一绝缘体、第二绝缘体、中心针、弹簧及导电硅胶，所述外导体套设在所述主体的下侧，且外导体上侧设有凸台结构，所述弹簧套设在所述主体的外侧，弹簧下端与凸台结构抵接；所述中心针贯穿设置于所述主体和外导体内部，所述中心针通过所述第一绝缘体与所述主体绝缘相接，所述中心针通过所述第二绝缘体与所述外导体绝缘相接；其中，所述外导体的下侧内表面设有凹槽，所述凹槽内嵌导电硅胶。通过在外导体下侧增设柔性的环圈导电硅胶，在测试探针下压偏斜时由于导电硅胶的可伸缩性，可整圈接触到射频座的接地外壳，既不影响性能又能做到更可靠的接地，降低误测率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电连接器，特别是涉及一种测试连接器。

技术介绍

1、随着通讯信息技术的迅速发展，手机已经成为人们日常生活中不可或缺的一部分。射频开关测试连接器在手机主板上应用也越来越多，测试射频的探针接地均为金属硬接触，由于射频座在与pcb贴片及射频探针在测试夹治具上安装时均存在偏中心问题，射频探针下压过程中导体斜面与射频座存在偏斜接触，长期的偏斜单点接触、刮伤镀层易导致接触电阻偏大，导致测试过程中接触不良。由此，射频座误测率也越来越高，进而导致效率低、成本高。

2、因此，当前急需一款性能可靠并能减少误测、提高效率的射频开关测试连接器。

技术实现思路

1、本申请提供一种测试连接器，具有优异的伸缩性能及导电性能，能够避免探针接触不良，降低误测率。

2、为了实现上述目的，本技术采取的技术方案是：一种测试连接器，包括主体、外导体、第一绝缘体、第二绝缘体、中心针、弹簧及导电硅胶，

3、所述外导体套设在所述主体的的下侧，且外导体上侧设有凸台结构，所述弹簧套设在所述主体的外侧，弹簧下端与凸台结构抵接；所述中心针贯穿设置于所述主体和外导体内部，所述中心针通过所述第一绝缘体与所述主体绝缘相接，所述中心针通过所述第二绝缘体与所述外导体绝缘相接，其中，所述外导体的下侧内表面设有凹槽，所述凹槽内嵌导电硅胶。

4、优选地，所述导电硅胶为环圈结构，且环圈结构的外部直径与所述凹槽最大直径相同。

5、优选地，还包括金属外壳，所述金属外壳内壁设有第一螺纹结构，所述主体外壁设有第二螺纹结构，所述第一螺纹结构和第二螺纹结构配合螺旋相接。

6、优选地，所述金属外壳外表面还设有防滑结构和台阶结构，所述防滑结构用于转动金属外壳，所述台阶结构设置在防滑结构下侧。

7、优选地，所述外导体上还设有爪状结构，所述爪状结构设置在凸台结构的上侧，所述爪状结构套设在所述主体与所述弹簧之间。

8、优选地，还包括十字形结构的固定法兰，所述主体套设在所述固定法兰的下侧。

9、优选地，还包括设置在所述固定法兰内部的第三绝缘体，所述中心针通过所述第三绝缘体与所述固定法兰绝缘相接。

10、优选地，所述中心针包括固定探针、内置弹簧与活动探针，所述固定探针的上侧通过所述第三绝缘体固定在所述固定法兰的内部，所述固定探针的下侧具有凹陷结构，所述内置弹簧位于所述凹陷结构内，所述内置弹簧的下端与所述活动探针连接。

11、本技术的有益效果在于：通过在外导体下侧增设柔性的环圈导电硅胶，在测试探针下压偏斜时由于导电硅胶的可伸缩性，可整圈接触到射频座的接地外壳，既不影响性能又能做到更可靠的接地，降低误测率。

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【技术保护点】

1.一种测试连接器，其特征在于，包括主体、外导体、第一绝缘体、第二绝缘体、中心针、弹簧及导电硅胶；所述外导体套设在所述主体的下侧，且外导体上侧设有凸台结构，所述弹簧套设在所述主体的外侧，弹簧下端与凸台结构抵接；所述中心针贯穿设置于所述主体和外导体内部，并通过所述第一绝缘体与主体绝缘相接，通过所述第二绝缘体与外导体绝缘相接；其中，所述外导体的下侧内表面设有凹槽，所述凹槽内嵌导电硅胶。

2.根据权利要求1所述的测试连接器，其特征在于，所述导电硅胶为环圈结构，且环圈结构的外部直径与所述凹槽最大直径相同。

3.根据权利要求1所述的测试连接器，其特征在于，还包括金属外壳，所述金属外壳内壁设有第一螺纹结构，所述主体外壁设有第二螺纹结构，所述第一螺纹结构和第二螺纹结构配合螺旋相接。

4.根据权利要求3所述的测试连接器，其特征在于，所述金属外壳外表面还设有防滑结构和台阶结构，所述台阶结构设置在防滑结构下侧。

5.根据权利要求1所述的测试连接器，其特征在于，所述外导体上还设有爪状结构，所述爪状结构设置在凸台结构的上侧，所述爪状结构套设在所述主体与所述弹簧之间。

6.根据权利要求1所述的测试连接器，其特征在于，还包括十字形结构的固定法兰，所述主体套设在所述固定法兰的下侧。

7.根据权利要求6所述的测试连接器，其特征在于，还包括设置在所述固定法兰内部的第三绝缘体，所述中心针通过所述第三绝缘体与固定法兰绝缘相接。

8.根据权利要求7所述的测试连接器，其特征在于，所述中心针包括固定探针、内置弹簧与活动探针，所述固定探针的上侧通过所述第三绝缘体固定在所述固定法兰的内部，所述固定探针的下侧具有凹陷结构，所述内置弹簧位于所述凹陷结构内，所述内置弹簧的下端与所述活动探针连接。

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【技术特征摘要】

1.一种测试连接器，其特征在于，包括主体、外导体、第一绝缘体、第二绝缘体、中心针、弹簧及导电硅胶；所述外导体套设在所述主体的下侧，且外导体上侧设有凸台结构，所述弹簧套设在所述主体的外侧，弹簧下端与凸台结构抵接；所述中心针贯穿设置于所述主体和外导体内部，并通过所述第一绝缘体与主体绝缘相接，通过所述第二绝缘体与外导体绝缘相接；其中，所述外导体的下侧内表面设有凹槽，所述凹槽内嵌导电硅胶。

2.根据权利要求1所述的测试连接器，其特征在于，所述导电硅胶为环圈结构，且环圈结构的外部直径与所述凹槽最大直径相同。

3.根据权利要求1所述的测试连接器，其特征在于，还包括金属外壳，所述金属外壳内壁设有第一螺纹结构，所述主体外壁设有第二螺纹结构，所述第一螺纹结构和第二螺纹结构配合螺旋相接。

4.根据权利要求3所述的测试连接器，其特征在于，所述金属外壳外...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡宁伟，吕银涛，黄颗，尹绪引，邓忠诚，胡卫杰，
申请(专利权)人：电连技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：