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山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法技术

技术编号:40430528 阅读:27 留言:0更新日期:2024-02-20 22:52
本发明专利技术属于遥感技术领域,涉及山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法。本发明专利技术基于辐射计观测特性,通过视域分析方法提取山地辐射计站点观测足迹,并基于地表反射特性计算像元反射辐射贡献度,分解站点观测上行短波辐射通量,基于局地地形特征分解山地地表站点观测下行短波辐射,得到高分辨率像元尺度地表反照率。本发明专利技术提出的基于辐射计观测特性、地表反射特性及局地地形特征的山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法能够有效实现山地地表反照率辐射计站点观测降尺度,得到较高精度高分辨率像元尺度地表反照率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于遥感,具体而言,涉及山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法


技术介绍

1、地表反照率是决定地表能量平衡的重要参数,太阳辐射计的站点观测是获得地表反照率的重要手段,也是开展地表反照率遥感产品验证的重要数据源之一。传统地表反照率站点观测主要用于验证低空间分辨率卫星遥感产品精度,在高空间分辨率遥感产品验证中存在突出的尺度不匹配问题。此外,山地地表反照率站点观测范围显著区别于平坦地表,且随着辐射计架设高度的变化,其观测足迹往往大于高分辨率像元空间分辨率。随着中高分辨率地表反照率产品算法发展和产品生产的快速发展,山区高分辨率像元尺度地表反照率参考“真值”数据已成为真实性检验的迫切需求。

2、在平坦均一地表条件下,辐射计站点观测没有尺度效应,能够直接应用于像元尺度地表反照率验证。然而,真实地表很难满足平坦均一条件,异质地表或山地辐射计站点观测与粗分辨率像元之间存在明显尺度差异。

3、一方面,由于山地地形起伏,站点观测的足迹范围受地形影响呈现不规则特征;另一方面,不同站点观测架设高度的不同导致站点观测覆盖多个高分辨率遥感像元。山本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法,其特征在于,站点观测上行短波辐射通量与下行短波辐射通量的比值即为站点观测地表反照率,设为地表反照率,为辐射计观测下行太阳短波辐射,为辐射计观测上行太阳短波辐射,计算公式为:

3.根据权利要求1所述山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法,其特征在于,卫星遥感反射率数据选择Sentinel-2多光谱高分辨率数据;数字高程模型数据由机载激光雷达数据生成。

4.根据权利要求1所述山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法,其特征在于...

【技术特征摘要】

1.山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法,其特征在于,站点观测上行短波辐射通量与下行短波辐射通量的比值即为站点观测地表反照率,设为地表反照率,为辐射计观测下行太阳短波辐射,为辐射计观测上行太阳短波辐射,计算公式为:

3.根据权利要求1所述山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法,其特征在于,卫星遥感反射率数据选择sentinel-2多光谱高分辨率数据;数字高程模型数据由机载激光雷达数据生成。

4.根据权利要求1所述山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法,其特征在于,根据辐射计观测特性与数字高程模型数据,利用视域分析方法提取山地辐射计站点观测足迹,包括:

5.根据权利要求1所述山地地表反照率站点观测遥感空间降尺度方法,其特征在于,根据辐射计站点观测足迹各像元观测角度,计算辐射计观测余弦响应度,并对辐射计观测短波上行辐照度进行校正,包括:辐射计观测余弦响应为对于太阳辐射计的任意观测天顶角,设观测天顶角为,设站点观测足迹辐射计余弦响应度为,辐射计观测像元中心位置相对垂直方向的角度为,观测角度为,像元在观测角度下对应的辐射计余弦响应误差为,辐射计观测足迹内高分辨率像元个数为,辐射计观测上行短波辐照度为,余弦响应校...

【专利技术属性】
技术研发人员:边金虎邓易李爱农张正健
申请(专利权)人:中国科学院水利部成都山地灾害与环境研究所
类型:发明
国别省市:

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