一种DDR测试系统及方法技术方案

技术编号:40418443 阅读:35 留言:0更新日期:2024-02-20 22:36
本发明专利技术属于DDR测试技术领域,其目的在于提供一种DDR测试系统及方法。本发明专利技术基于主控模块通过编码的方式生成DDR测试指令,在对被测DDR进行测试时,可通过指令译码控制模块对所述DDR测试指令进行译码,得到所述DDR测试指令中的所有分测试指令,最后通过DDR控制模块将所有分测试指令转换为符合指定接口协议的控制信号,并通过所述DDR物理层对被测DDR进行测试操作。在此过程中,由于DDR测试指令通过编码的方式生成,相比于传统技术中内存控制器直接基于CPU的读写操作指令对被测DDR进行读写测试的方案,可实现对DDR JEDEC定义的各种时序参数的准确测量,进而可使得对被测DDR的控制更加精确和灵活,同时利于兼容各种类型DDR的测试,测试应用范围更广泛。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于ddr测试,具体涉及一种ddr测试系统及方法。


技术介绍

1、ddr(double data rage sdram,双倍速率同步动态随机存储器),是ddr sdram(synchronous dynamic random-access memory,同步动态随机存取内存)的一种,以低功耗和小体积著称,专门用于移动式电子产品。为验证ddr的性能和稳定性,以确保ddr产品质量,需要进行ddr测试。

2、但是,在使用现有技术过程中,专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题:

3、现有技术中,ddr3、ddr4和lpddr4的使用较多,ddr5和lpddr5的使用比较少,使得目前市场上ddr测试的规格等级比较低,大多数只是支持ddr、ddr2、ddr3和ddr4的测试,而支持测试ddr5和lpddr5的相关设备比较少,或者是没有。

4、此外,目前进行ddr测量时,通常采用如图1所示的现有技术实现,其中,内存控制器直接基于主控模块的读写操作指令,直接通过ddr物理层对被测ddr进行读写测试,由于ddr命令及各种时序参本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种DDR测试系统,其特征在于:包括依次通信连接的主控模块、指令译码控制模块、DDR控制模块和DDR物理层;其中,

2.根据权利要求1所述的一种DDR测试系统,其特征在于:所述DDR测试指令包括配置指令、命令操作指令、地址运算操作指令和/或循环指令。

3.根据权利要求1所述的一种DDR测试系统,其特征在于:通过编码的方式生成DDR测试指令,包括:

4.根据权利要求1所述的一种DDR测试系统,其特征在于:所述DDR测试系统还包括测试信号生成模块,所述测试信号生成模块的输入端与所述指令译码控制模块通信连接,所述测试信号生成模块的输出端与所述DDR控制模...

【技术特征摘要】

1.一种ddr测试系统,其特征在于:包括依次通信连接的主控模块、指令译码控制模块、ddr控制模块和ddr物理层;其中,

2.根据权利要求1所述的一种ddr测试系统,其特征在于:所述ddr测试指令包括配置指令、命令操作指令、地址运算操作指令和/或循环指令。

3.根据权利要求1所述的一种ddr测试系统,其特征在于:通过编码的方式生成ddr测试指令,包括:

4.根据权利要求1所述的一种ddr测试系统,其特征在于:所述ddr测试系统还包括测试信号生成模块,所述测试信号生成模块的输入端与所述指令译码控制模块通信连接,所述测试信号生成模块的输出端与所述ddr控制模块通信连接;其中,

5.根据权利要求4所...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨俊林赖俊生
申请(专利权)人:皇虎测试科技深圳有限公司
类型:发明
国别省市:

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