【技术实现步骤摘要】
本申请涉及光学仪器,特别涉及一种光谱标定方法及系统、数据测量方法及系统、设备及介质。
技术介绍
1、光谱测量技术是一种分析物质的方法,通过测量物质与电磁辐射的相互作用来获取物质的相关信息。
2、相关技术中,通常使用光谱探测器的光谱响应特性获取待测量的光谱数据。上述光谱响应特性可以使用光谱响应矩阵表示,上述光谱响应矩阵的条件数较多,使用光谱探测器计算得到的光谱数据存在较大的误差。
3、因此,如何通过光谱标定得到条件数较低的光谱响应矩阵,提高测量精度是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。
技术实现思路
1、本申请的目的是提供一种光谱标定方法、一种光谱标定方法系统、一种光谱数据测量方法、一种光谱数据测量系统、一种电子设备及一种存储介质,能够通过光谱标定得到条件数较低的光谱响应矩阵,提高测量精度。
2、为解决上述技术问题,本申请提供一种光谱标定方法,包括:
3、设置snspi成像器的当前偏置电流值;
4、设置激光器的能量值,以使所述激光
...【技术保护点】
1.一种光谱标定方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述光谱标定方法,其特征在于,所述设置SNSPI成像器的当前偏置电流值,包括:
3.根据权利要求2所述光谱标定方法,其特征在于,根据所述饱和电流值设置所述SNSPI成像器的当前偏置电流值,包括:
4.根据权利要求3所述光谱标定方法,其特征在于,根据所述光子响应率构建所述SNSPI成像器的光谱响应矩阵,包括:
5.根据权利要求1所述光谱标定方法,其特征在于,所述设置激光器的能量值,以使所述激光器对所述SNSPI成像器的光子输出速率达到预设值,包括:
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...【技术特征摘要】
1.一种光谱标定方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述光谱标定方法,其特征在于,所述设置snspi成像器的当前偏置电流值,包括:
3.根据权利要求2所述光谱标定方法,其特征在于,根据所述饱和电流值设置所述snspi成像器的当前偏置电流值,包括:
4.根据权利要求3所述光谱标定方法,其特征在于,根据所述光子响应率构建所述snspi成像器的光谱响应矩阵,包括:
5.根据权利要求1所述光谱标定方法,其特征在于,所述设置激光器的能量值,以使所述激光器对所述snspi成像器的光子输出速率达到预设值,包括:
6.根据权利要求1所述光谱标定方法,其特征在于,利用所述激光器依次按照待标定光谱数据的每一波长向所述snspi成像器发射激光,得到所述snspi成像器中像元的电脉冲时间差,并根据所述电脉冲时间差计算所述像元对所述待标定光谱数据中每一波长的光子响应率,包括:
7.根据权利要求6所述光谱标定方...
【专利技术属性】
技术研发人员:李志健,赵清源,万超,刘浩,王华兵,吴培亨,
申请(专利权)人:网络通信与安全紫金山实验室,
类型:发明
国别省市:
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