【技术实现步骤摘要】
本技术属于光电探测，具体涉及一种用于黑体校准的红外测试装置。
技术介绍
1、随着二维材料的快速发展和广泛应用，对其性能和特性的准确测试成为关键需求。然而，目前存在一个挑战，即传统的黑体校准方法无法直接应用于二维材料的红外测试。传统黑体无法有效地与二维材料接触，由于二维材料的薄度和柔软性，黑体对其进行测试时难以确保接触稳定性和测量准确性。
2、为了克服这一问题，需要开发一种创新的红外测试装置，可用于黑体校准二维材料。该装置需要解决二维材料与传统黑体之间的接触和测试难题，同时保证测试结果的准确性和可靠性。
3、本技术提出了一种可用于黑体校准的红外测试装置，专门针对二维材料进行设计。该装置结合了显微镜、导轨和带有斩波器的点源黑体等元件，以实现对二维材料的高精度定位和观察。通过导轨的移动，显微镜和点源黑体可以在载样台上对二维材料进行位置切换，使样品能够通过扎探针进行测试时，通过显微镜进行观察。在测试过程中，显微镜被移开，点源黑体移至样品正上方进行红外测试。
4、通过本技术的红外测试装置，可以克服传统黑体校准方法在二维材料测试中的限制。适用于二维材料的红外测试需求。该装置不仅能够保证测试结果的准确性，还具有较低的成本和操作简单等优点。有望在材料科学、光电子领域以及相关研究和应用中发挥重要作用。
技术实现思路
1、针对目前黑体校准方法无法直接应用于二维材料的红外测试的问题，本技术提供一种红外测试装置，旨在实现测试结果准确、成本低、操作简单的黑体校准方法。p>
2、本技术提供的用于黑体校准的红外测试装置，包括光学平台、载样台、探针装置、显微镜、导轨、斩波器、点源黑体、屏蔽罩；其中，所述屏蔽罩覆盖在整个光学平台上，并将其余部件笼罩在屏蔽罩内；载样台和探针装置设置于光学平台上；载样台用于承载待测样品，探针装置布置于载样台旁侧；所述导轨布置于载样台的正上方；所述显微镜、点源黑体设置于导轨上，可沿导轨移动；所述斩波器布置于点源黑体下端处，可随点源黑体移动。
3、进一步地：
4、所述光学平台包括但不局限于振动隔离光学平台、光学转动平台等。
5、所述载样台是在x、y方向可移动的。
6、所述探针装置是在x、y、z三个方向均可移动的，且探针装置的数量可以为若干个，例如为2-4个。
7、所述显微镜是包括但不局限于普通光学显微镜，为其他任何可用于观察微小物体的光学仪器均可。
8、所述黑体是带有可旋转斩波器的点源黑体。
9、所述样品可以为任意材料样品，尤其是对任何二维材料均适用。
10、通过导轨使显微镜和带有斩波器的点源黑体能够进行位置切换，从而实现对位于载样台上的样品的测试；在测试过程中，使用显微镜观察样品，保证测试的准确性，然后将显微镜移开，将黑体移动到样品正上方进行测试，提供稳定且可靠的测试环境。
11、上述测试装置中，进行红外光电测试操作流程为：
12、（1）使用显微镜观察样品，在样品合适位置下探针；
13、（2）通过导轨将显微镜移开，将带有斩波器的点源黑体移到样品正上方；
14、（3）调节黑体及斩波器，以给样品合适的探测信号；
15、（4） 通过电流锁相放大器、电流前置运算放大器以及半导体测试仪对信号进行处理分析，进而得出测试结果。
16、针对目前二维材料红外测试中黑体校准方法的局限性，本专利技术提供一种高效、精确的解决方案。其能够实现任意光电材料在红外波段的光电测试，并具备测试结果准确、成本低、操作简单的优势。该装置的应用前景广阔，特别可用于光电探测
中。
【技术保护点】
1.一种用于黑体校准的红外测试装置，其特征在于，包括光学平台、载样台、探针装置、显微镜、导轨、斩波器、点源黑体、屏蔽罩；其中，所述屏蔽罩覆盖在整个光学平台上，并将其余部件笼罩在屏蔽罩内；载样台和探针装置设置于光学平台上；载样台用于承载待测样品，探针装置布置于载样台旁侧；所述导轨布置于载样台的正上方；所述显微镜、点源黑体设置于导轨上，可沿导轨移动；所述斩波器布置于点源黑体下端处，可随点源黑体移动。
2.根据权利要求1所述的红外测试装置，其特征在于，所述载样台是在X、Y方向可移动；所述探针装置在X、Y、Z三个方向均可移动的，探针装置的数量为2-4个。
3.根据权利要求1所述的红外测试装置，其特征在于，所述光学平台为振动隔离光学平台或光学转动平台。
4.根据权利要求1所述的红外测试装置，其特征在于，所述样品为二维材料。
【技术特征摘要】
1.一种用于黑体校准的红外测试装置，其特征在于，包括光学平台、载样台、探针装置、显微镜、导轨、斩波器、点源黑体、屏蔽罩；其中，所述屏蔽罩覆盖在整个光学平台上，并将其余部件笼罩在屏蔽罩内；载样台和探针装置设置于光学平台上；载样台用于承载待测样品，探针装置布置于载样台旁侧；所述导轨布置于载样台的正上方；所述显微镜、点源黑体设置于导轨上，可沿导轨移动；所述斩波器布置于点源黑体下端处，...
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