本发明专利技术提供一种抑制纹波的S参数测试方法、电子设备及存储介质，包括：基于预设扫描功率和预设扫描点数，控制矢量网络分析仪在被测件的测试频率范围内对被测件进行校准和扫频测试，确定被测件的S参数；在S参数存在纹波的情况下，缩小测试频率范围；将缩小后的测试频率范围作为新的被测件的测试频率范围，重复执行上述步骤；直至确定出不存在纹波的S参数为被测件抑制纹波后的目标S参数。本发明专利技术通过调整测试频率范围的方式抑制S参数因受限于测试频率范围而导致出现的纹波，整个校准测试过程中，无需改变被测件的长度，从而，在不增大测量成本和测试复杂度的前提下，有效提高了电磁测量领域中S参数的参数曲线测量的准确性和稳定性。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电磁测量，尤其涉及一种抑制纹波的s参数测试方法、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、电磁测量是确定材料电磁性能的重要手段，并且随着科学技术的发展，雷达导航、航空航天、导弹制导、电子技术和新型材料等不同领域对于材料电磁测量的准确性和稳定性的要求也更高。由于电磁测量过程中，s参数作为电磁测量的重要参数，经常会出现纹波现象，也即s参数的曲线出现谐振、波动和突变等情况，降低了测量结果的准确性和稳定性。因此，如何对电磁测量过程中出现的s参数纹波进行抑制，保证测量结果的准确性和稳定性就显得尤为重要。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种抑制纹波的s参数测试方法、电子设备及存储介质，用以解决现有电磁测量过程中出现s参数纹波的缺陷，通过调整测试频率范围的方式抑制s参数因受限于测试频率范围而导致出现的纹波，整个校准测试过程中，无需改变被测件的长度，从而，在不增大测量成本和测试复杂度的前提下，有效提高了电磁测量领域中s参数的参数曲线测量的准确性和稳定性。
2、本专利技术提供一种抑制纹波的s参数测试方法，应用于参数测试系统，所述参数测试系统包括矢量网络分析仪、同轴线缆和被测件，所述同轴线缆的两端分别连接所述矢量网络分析仪和所述被测件；所述方法包括：
3、基于预设扫描功率和预设扫描点数，控制所述矢量网络分析仪在所述被测件的测试频率范围内对所述被测件进行校准和扫频测试，确定所述被测件的s参数；
4、在所述s参数存在纹波的情况下，缩小所述测试频率范围；
5、将缩小后的测试频率范围作为新的所述被测件的测试频率范围，重复执行上述步骤；直至确定出不存在纹波的s参数为所述被测件抑制纹波后的目标s参数。
6、根据本专利技术提供的一种抑制纹波的s参数测试方法，所述方法还包括：
7、在所述被测件为首次进行s参数测试的情况下，以所述被测件的长度大于所述被测件在最高测试频率下的预设工作波长为目标，确定所述最高测试频率；
8、将所述矢量网络分析仪的最低扫描频率确定为最低测试频率；
9、基于所述最低测试频率和所述最高测试频率，确定所述被测件的测试频率范围。
10、根据本专利技术提供的一种抑制纹波的s参数测试方法，所述在所述s参数存在纹波的情况下，缩小所述测试频率范围，包括：
11、在确定所述s参数存在纹波的情况下，减小所述测试频率范围中的最高测试频率，和/或，增大所述测试频率范围中的最低测试频率；以缩小所述测试频率范围；并且，缩小后的测试频率范围属于缩小前的所述测试频率范围。
12、根据本专利技术提供的一种抑制纹波的s参数测试方法，所述减小所述测试频率范围中的最高测试频率，包括：
13、固定所述被测件的长度，减小所述测试频率范围中的最高测试频率，以使所述被测件在减小后的最高测试频率下的h倍工作波长大于所述被测件的长度；h≤0.5。
14、根据本专利技术提供的一种抑制纹波的s参数测试方法，所述增大所述测试频率范围中的最低测试频率，包括：
15、固定所述被测件的长度，增大所述测试频率范围中的最低测试频率，以使所述被测件在增大后的最低测试频率下的l倍工作波长小于所述被测件的长度；l≥0.005，h＞l。
16、根据本专利技术提供的一种抑制纹波的s参数测试方法，所述方法还包括：
17、在将所述s参数的参数曲线与预设无纹波参数曲线进行匹配，确定所述s参数的参数曲线与所述预设无纹波参数曲线不匹配的情况下，确定所述s参数存在纹波。
18、根据本专利技术提供的一种抑制纹波的s参数测试方法，所述方法还包括：
19、在垂直入射进所述被测件的入射波通过所述被测件进行多次反射与多次透射的情况下，确定所述被测件中所有反射波的功率与所述入射波的功率的第一比值，以及所述被测件中所有透射波的功率与所述入射波的功率的第二比值；
20、在所述第一比值的幅值与0之间的差值最小，和/或，所述第二比值的幅值与1之间的差值最小的情况下，确定所述s参数存在纹波。
21、根据本专利技术提供的一种抑制纹波的s参数测试方法，所述第一比值和所述第二比值的确定过程包括：
22、基于所述被测件的反射系数、所述被测件的长度、所述被测件的有效介电常数和所述被测件的有效磁导率，以及所述入射波在所述被测件中的传播常数，确定所述第一比值和所述第二比值；
23、其中，所述有效介电常数和所述有效磁导率均是与单一介质填充或者至少两种介质填充的所述被测件相同电磁性能的介质的介电常数和磁导率。
24、本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述抑制纹波的s参数测试方法。
25、本专利技术还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述抑制纹波的s参数测试方法。
26、本专利技术提供的抑制纹波的s参数测试方法、电子设备及存储介质，其中抑制纹波的s参数测试方法，电子设备对于控制矢量网络分析仪在被测件的测试频率范围内对被测件校准和扫频测试后所得到的s参数，当确定s参数存在纹波时，通过固定被测件的长度而改变测试频率范围，基于调整后的测试频率范围重复校准和扫频测试，直至确定出被测件抑制纹波后的目标s参数。这样，可以通过调整测试频率范围的方式抑制s参数因受限于测试频率范围而导致出现的纹波，整个校准测试过程中，无需改变被测件的长度，从而，在不增大测量成本和测试复杂度的前提下，有效提高了电磁测量领域中s参数的参数曲线测量的准确性和稳定性。
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【技术保护点】
1.一种抑制纹波的S参数测试方法，其特征在于，应用于参数测试系统，所述参数测试系统包括矢量网络分析仪、同轴线缆和被测件，所述同轴线缆的两端分别连接所述矢量网络分析仪和所述被测件；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的抑制纹波的S参数测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的抑制纹波的S参数测试方法，其特征在于，所述在所述S参数存在纹波的情况下，缩小所述测试频率范围，包括：
4.根据权利要求3所述的抑制纹波的S参数测试方法，其特征在于，所述减小所述测试频率范围中的最高测试频率，包括：
5.根据权利要求4所述的抑制纹波的S参数测试方法，其特征在于，所述增大所述测试频率范围中的最低测试频率，包括：
6.根据权利要求1至5任一项所述的抑制纹波的S参数测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.根据权利要求1至5任一项所述的抑制纹波的S参数测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
8.根据权利要求7所述的抑制纹波的S参数测试方法，其特征在于，所述第一比值和所述第二比值的确定过程包括：</p>9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至8任一项所述抑制纹波的S参数测试方法。
10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8任一项所述抑制纹波的S参数测试方法。
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【技术特征摘要】
1.一种抑制纹波的s参数测试方法，其特征在于，应用于参数测试系统，所述参数测试系统包括矢量网络分析仪、同轴线缆和被测件，所述同轴线缆的两端分别连接所述矢量网络分析仪和所述被测件；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的抑制纹波的s参数测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的抑制纹波的s参数测试方法，其特征在于，所述在所述s参数存在纹波的情况下，缩小所述测试频率范围，包括：
4.根据权利要求3所述的抑制纹波的s参数测试方法，其特征在于，所述减小所述测试频率范围中的最高测试频率，包括：
5.根据权利要求4所述的抑制纹波的s参数测试方法，其特征在于，所述增大所述测试频率范围中的最低测试频率，包括：
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【专利技术属性】
技术研发人员：唐章宏，吴智澳，王群，王碧瑶，施展，张小栋，
申请(专利权)人：北京工业大学，
类型：发明
国别省市：
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