【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子设备检测，特别涉及一种电磁兼容测试设备。
技术介绍
1、电子设备在工作时，一方面，电子设备会向外界辐射电磁波，如果电磁波的强度较大，会对周围其它电子设备造成干扰，使周围其它电子设备无法正常工作；另一方面，电子设备在工作的时候受到附近的电磁场源的电磁波影响，如果该电子设备的抗电磁波干扰能力以及工作稳定性不高，则该电子设备容易出现故障，因此，需要对电子设备进行电磁兼容测试。然而，由于电子设备在工作的时候其辐射和/或接收的波束方向具有多变性，故而需要一种可以多方位地对待测设备进行电磁波兼容测试的测试设备。
技术实现思路
1、本专利技术实施方式提供一种电磁兼容测试设备。
2、本专利技术实施方式的电磁兼容测试设备包括：
3、测试腔体，内设有放置腔用于放置待测设备；
4、天线组件，安装在所述测试腔体，所述天线组件包括呈阵列分布的多个天线；
5、控制组件，连接所述天线组件，所述控制组件用于调整所述天线组件接收和辐射电磁波的波束方向。
6、上述实施方式的电磁兼容测试设备中，控制组件用于控制天线组件的所适配的波束方向，以使该电磁兼容测试设备可以对待测设备进行多方位甚至360度全方位的电磁波测试。
7、在某些实施方式中，所述多个天线被配置为具有不同的尺寸。
8、在某些实施方式中，所述多个天线的形状包括至少两种。
9、在某些实施方式中，所述天线包括倒f天线、锥型天线和螺旋型天线中的至少一种。
10、在某些实施方式中，所述天线间隔设置有两个；或
11、所述天线呈阵列分布设置有四个；或
12、所述天线呈阵列分布设置有六个。
13、在某些实施方式中，所述天线组件安装在所述测试腔体的顶部。
14、在某些实施方式中，所述控制组件用于调整微波通道的相位差来调整所述天线组件接收和辐射电磁波的波束方向。
15、在某些实施方式中，所述电磁兼容测试设备包括位于所述测试腔体的上方的电气室，所述控制组件位于所述电气室内部。
16、在某些实施方式中，所述电磁兼容测试设备包括与所述控制组件电连接的参数调控面板，所述控制组件用于根据所述参数调控面板调整所述天线组件所适配的波束方向。
17、在某些实施方式中，所述参数调控面板设于所述电气室的前侧面。
18、本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
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1.一种电磁兼容测试设备，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述多个天线被配置为具有不同的尺寸。
3.根据权利要求1所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述多个天线的形状包括至少两种。
4.根据权利要求1所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述天线包括倒F天线、锥型天线和螺旋型天线中的至少一种。
5.根据权利要求1所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述天线间隔设置有两个；或
6.根据权利要求1所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述天线组件安装在所述测试腔体的顶部。
7.根据权利要求1所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述控制组件用于调整微波通道的相位差来调整所述天线组件接收和辐射电磁波的波束方向。
8.根据权利要求1所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述电磁兼容测试设备包括位于所述测试腔体的上方的电气室，所述控制组件位于所述电气室内部。
9.根据权利要求8所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述电磁兼容测试设备包括与所述控制组件电连接的参
10.根据权利要求9所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述参数调控面板设于所述电气室的前侧面。
...【技术特征摘要】
1.一种电磁兼容测试设备，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述多个天线被配置为具有不同的尺寸。
3.根据权利要求1所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述多个天线的形状包括至少两种。
4.根据权利要求1所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述天线包括倒f天线、锥型天线和螺旋型天线中的至少一种。
5.根据权利要求1所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述天线间隔设置有两个；或
6.根据权利要求1所述的电磁兼容测试设备，其特征在于，所述天线组件安装在所述测试腔体的顶部。
7.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：方友平，
申请(专利权)人：广东美的厨房电器制造有限公司，
类型：发明
国别省市：
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