缺陷改判方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种缺陷改判方法、装置、设备及存储介质，应用在缺陷检测技术领域，包括显示缺陷改判展示界面，并确定所述缺陷改判展示界面中的待改判的目标缺陷图像；在监听到改判指令触发后，根据所述待改判的目标缺陷图像的当前缺陷类型生成缺陷展示列表界面；响应于接收到的缺陷确认指令，将所述目标缺陷图像的当前缺陷类型修改为所述缺陷展示列表界面中确定的目标缺陷类型。本申请具有的技术效果是：区分缺陷的状态并显示具体的缺陷类型，提高缺陷检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及缺陷检测，尤其是涉及一种缺陷改判方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

1、印制电路板(pcb)上包含有多个独立的单元，独立的单元也称为颗粒。对pcb上颗粒的良率监控主要包括首检系统和复检系统，首检系统用于采集待检测pcb样件的外观图片，并基于机器视觉技术检出pcb上的缺陷并生成缺陷图片，复检系统用于对首检系统生成的缺陷图片进行人工复判，从而确定报废(ng)的颗粒。

2、现有的复检系统主要是根据缺陷图片来判断对应的颗粒是否需要报废，或者是对缺陷图片中的缺陷进行人工改判，如某一个缺陷图片中的脏污在复检时消失，则需要将该缺陷图片改判为非缺陷图片。然而，在进行人工复判时，现有的复检系统并不会对缺陷的状态进行区分，例如，将缺陷状态标记为可以修复的状态或是直接报废的状态，这会使得用户需要根据缺陷类型再进行判断缺陷颗粒是否需要报废，从而会导致检测效率降低。

技术实现思路

1、为了有助于解决现有的复检系统不会对缺陷的状态进行区分，使得用户需要根据缺陷类型再进行判断缺陷颗粒是否需要报废，导致检测效率降低本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种缺陷改判方法，其特征在于：所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述确定所述缺陷改判展示界面中的待改判的目标缺陷图像包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述缺陷类型包括第一层级分类和第二层级分类，所述第一层级分类为所述第二层级分类的上级，所述缺陷类型的所述第一层级分类中包括OK、NG、修复和报废选项；

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：在所述根据所述待改判的目标缺陷图像的当前缺陷类型生成缺陷展示列表界面之后，还包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：在所述将所述目标缺陷图像的当前缺...

【技术特征摘要】

1.一种缺陷改判方法，其特征在于：所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述确定所述缺陷改判展示界面中的待改判的目标缺陷图像包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述缺陷类型包括第一层级分类和第二层级分类，所述第一层级分类为所述第二层级分类的上级，所述缺陷类型的所述第一层级分类中包括ok、ng、修复和报废选项；

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：在所述根据所述待改判的目标缺陷图像的当前缺陷类型生成缺陷展示列表界面之后，还包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：在所述将所述目...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯晓峰，朱磊，张弛，吴琪，
申请(专利权)人：上海感图网络科技有限公司，
类型：发明
国别省市：