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测量光脉冲载波包络绝对相位的光电离装置制造方法及图纸

技术编号:4031712 阅读:211 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种测量光脉冲载波包络绝对相位的光电离装置,该装置包括进气系统、真空腔、泵组和信号采集卡,真空腔与泵组相连,包括探测腔和反应腔,反应腔位于探测腔中心处,将光束聚焦到反应腔内,气体在光场的作用下被电离,光电离电子反向经反应腔两侧小孔射出,探测腔连有两个微通道板探测器,射出的光电离电子分别飞向各自的微通道板探测器,在微通道板探测器上形成脉冲电流,用信号采集卡记录上述脉冲电流信号,从而计算出超短激光脉冲的载波包络相位。本发明专利技术利用光电离的反方向对称性可测得载波包络相位,结构紧凑、灵敏度和精确度高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于激光
,具体涉及一种测量超短激光脉冲的载波包络绝对相位 的装置。
技术介绍
锁模技术出现后,脉冲激光成为了激光器的一个主要种类。超短脉冲的潜在应用 有化学反应控制,高速电子测量,光通信,生物医学,材料加工,时间计量。近年来,激光脉冲 一直向光谱更宽,脉宽更短发展。对于超短脉冲,特别是少于两个光学周期的脉冲,光场的 时间变化与光脉冲载波包络相位紧密相关,因此,在依赖于场强的强激光与物质相互作用, 阿秒脉冲产生,等领域中,载波包络绝对相位的信息有利于研究电子运动的相位效应。目 前,基频倍频自参考法利用红边带倍频与蓝边带差频,可以用来测量和锁定载波包络的频 率偏差,信号反馈到控制振荡器抽运光功率后,可以稳定光脉冲的载波包络相位。此外,单 脉冲非线性光谱干涉可以反映放大脉冲与脉冲之间的相位变化。用于测量短脉冲的自参考 电场重建法可以给出频谱成分的相对相位。但是这些方法都没有给出光脉冲的载波包络绝 对相位。而利用光电离电子的不对称性可以判断超短脉冲场的不对称性,从而确定其载波 包络绝对相位。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种装置,可利用光电离的反方向对称性测量载波包本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量光脉冲载波包络绝对相位的光电离装置,其特征在于,包括进气系统、真空腔、泵组和信号采集卡,真空腔与泵组相连,包括探测腔(3)和反应腔(4),反应腔(4)位于探测腔(3)中心处,将光束聚焦到反应腔(4)内,气体在光场的作用下被电离,光电离电子反向经反应腔(4)两侧小孔射出,探测腔(3)连有两个微通道板探测器(6),射出的光电离电子分别飞向各自的微通道板探测器(6),在微通道板探测器(6)上形成脉冲电流,用信号采集卡(8)记录上述脉冲电流信号,从而计算出超短激光脉冲的载波包络相位。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:邓勇开刘运全龚旗煌
申请(专利权)人:北京大学
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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