【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于边界扫描测试,具体涉及一种适用于边界扫描任意链的测试系统及方法。
技术介绍
1、边界扫描测试是一种用于对现代复杂集成电路的数字逻辑进行测试和诊断的方法;随着集成电路设计日益复杂且规模不断增大,对于传统的边界扫描测试而言。一方面,由于硬件资源过多,导致浪费资源,又或者是硬件资源有限,导致边界扫描测试往往无法覆盖整个电路边界。另一方面,配置多个扫描链通常需要手动操作或者切换多个链路,容易造成数据出错且耗时,而且,当测试对象发生变化或需求更改时,重新配置jtag测试口的电平等配置项也是一项繁琐的任务。
2、也就是说,由于边界扫描测试的资源限制和配置的复杂性,待测对象的收发连接关系以及可测的电源、地等连接关系在传统边界扫描的方法下,会导致测试效率低下、兼容性不强,覆盖率不高等技术缺陷问题,若无法及时发现和解决集成电路中的问题,会导致产品开发周期延长。
3、在现有的技术中,控制器往往拥有多个核心的控制口,而待测板上已有的固定链之间并不是独立的关系,固定链边界扫描芯片之间会有普通io的连接、信号交互io、使能i
...【技术保护点】
1.一种适用于边界扫描任意链的测试系统,其特征在于,所述系统包括用于管理控制边界扫描任意链测试的控制口单元;所述控制口单元通过所述系统设置的开关单元和所述测试口单元连接;所述测试口单元用于为边界扫描待测试链提供端口对接;所述控制口单元和所述测试口单元之间还设置有用于对固定链路进行电平转换的电平选择单元;
2.根据权利要求1所述的一种适用于边界扫描任意链的测试系统,其特征在于,所述系统中还设置有用于对边界扫描任意链进行逻辑分析并安排测试顺序的逻辑分析模块;以及用于实时控制所述开关单元中链开关闭合或断开的链开关控制模块。
3.根据权利要求1所述的一
...【技术特征摘要】
1.一种适用于边界扫描任意链的测试系统,其特征在于,所述系统包括用于管理控制边界扫描任意链测试的控制口单元;所述控制口单元通过所述系统设置的开关单元和所述测试口单元连接;所述测试口单元用于为边界扫描待测试链提供端口对接;所述控制口单元和所述测试口单元之间还设置有用于对固定链路进行电平转换的电平选择单元;
2.根据权利要求1所述的一种适用于边界扫描任意链的测试系统,其特征在于,所述系统中还设置有用于对边界扫描任意链进行逻辑分析并安排测试顺序的逻辑分析模块;以及用于实时控制所述开关单元中链开关闭合或断开的链开关控制模块。
3.根据权利要求1所述的一种适用于边界扫描任意链的测试系统,其特征在于,所述控制口单元和所述测试口单元中分别设置有引脚端;所述引脚端包括tdi、tms、tck、tdo引脚;
4.根据权利要求1或3所述的一种适用于边界扫描任意链的测试系统,其特征在于,所述控制口单元中设置有jtag控制口;所述jtag控制口的数量为1...
【专利技术属性】
技术研发人员:梅燃燃,袁敏康,王威,孙德滔,程志勇,杨丹,袁承范,杨进林,梅浩,吴洪升,罗海波,蔡西旭,
申请(专利权)人:深圳市微特精密科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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