System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 高压测量探头和制备方法技术_技高网

高压测量探头和制备方法技术

技术编号:40276767 阅读:13 留言:0更新日期:2024-02-02 23:04
本发明专利技术涉及一种高压测量探头和制备方法,该方法包括:采用目标金属箔与目标材料制成目标材料绝缘膜;将目标材料绝缘膜贴敷于同轴金属筒的内筒;安装电缆连接座于同轴金属筒的外筒;基于待测脉冲信号的脉宽确定碳芯电阻的阻值,并将碳芯电阻置于电缆连接座内;采用同轴电缆与电缆连接座相连,并采用同轴类型的匹配头与同轴电缆连接,获得高压测量探头。能够解决宽脉冲测量困难的问题,同时采用聚酰亚胺金属绝缘膜作为低压臂能有效减小低压臂引入电感,解决了杂散参数对探头响应时间的影响及测量波形、电场分布畸变的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及纳秒高压脉冲测量,特别是涉及一种高压测量探头和制备方法


技术介绍

1、在脉冲功率
中,高压脉冲电压的测量是一个关键问题。对电压测量的常用手段包括电阻分压器、电容分压器以及阻容分压器。由于电容分压器具有响应快、负载效应小、脉宽较宽等优点,一般采用电容分压器进行高压脉冲信号的测量。

2、电容分压器分立式电容分压器的接线易引入杂散电感,因此采用耦合式电容分压器可减小杂散电感对测量结果影响,而耦合式电容分压器的低压臂电容很难实现较大,会导致其测量脉冲信号的脉宽受到限制。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对测量脉冲信号的脉宽受到限制问题,提供一种能够测量高压脉冲信号的高压测量探头和制备方法。

2、第一方面,提供一种高压测量探头的制备方法,该方法包括:

3、采用目标金属箔与目标材料制成目标材料绝缘膜;

4、将目标材料绝缘膜贴敷于同轴金属筒的内筒;

5、安装电缆连接座于同轴金属筒的外筒;

6、基于待测脉冲信号的脉宽确定碳芯电阻的阻值,并将碳芯电阻置于电缆连接座内;

7、采用同轴电缆与电缆连接座相连,并采用同轴类型的匹配头与同轴电缆连接,获得高压测量探头。

8、在其中一个实施例中,将目标材料绝缘膜贴敷于同轴金属筒的内筒之前还包括:

9、基于待测脉冲信号的峰值和脉宽确定目标材料绝缘膜面积。

10、在其中一个实施例中,采用目标金属箔与目标材料制成目标材料绝缘膜包括:

11、将第一铜箔、第二铜箔与目标材料膜叠加,制成目标材料绝缘膜;其中,目标材料膜各边的长度相较于第一铜箔和第二铜箔的长度多出目标数值。

12、在其中一个实施例中,制成目标材料绝缘膜之前还包括:

13、在第一铜箔上腐蚀出目标半径的圆孔。

14、在其中一个实施例中,安装电缆连接座于同轴金属筒的外筒包括:

15、在同轴金属筒的外筒上安装电缆连接座,电缆连接座的芯线与碳芯电阻连接。

16、在其中一个实施例中,并采用同轴类型的匹配头与同轴电缆连接之后还包括:

17、匹配头包括第一端和第二端,第一端与同轴电缆连接,第二端与示波器连接。

18、第二方面,提供一种高压测量探头,该高压测量探头包括:

19、碳芯电阻,用于增加待测脉冲信号的脉宽;

20、目标材料绝缘膜,用作电容分压器的低压臂电容;

21、电缆连接座,用于连接碳芯电阻和目标材料绝缘膜;

22、匹配头,用作测量探头;

23、同轴金属筒,用于安置目标材料绝缘膜和电缆连接座。

24、在其中一个实施例中,高压测量探头还包括示波器,示波器与匹配头连接。

25、在其中一个实施例中,高压测量探头还包括同轴电缆,用于连接电缆连接座和匹配头。

26、在其中一个实施例中,目标材料绝缘膜面积的影响因素包括待测脉冲信号的峰值和脉宽。

27、上述高压测量探头和制备方法,通过采用目标金属箔与目标材料制成目标材料绝缘膜;将目标材料绝缘膜贴敷于同轴金属筒的内筒;安装电缆连接座于同轴金属筒的外筒;基于待测脉冲信号的脉宽确定碳芯电阻的阻值,并将碳芯电阻置于电缆连接座内;采用同轴电缆与电缆连接座相连,并采用同轴类型的匹配头与同轴电缆连接,获得高压测量探头。该方法利用碳芯电阻高功率、寄生电感小,响应快的特点,将其串接于电容分压器的低压臂输出端,采用该方法测量同轴结构电气设备和装置上高压电极的高压脉冲信号,脉冲电压测量峰值可达几百kv量级。高压测量探头包括碳芯电阻,用于增加待测脉冲信号的脉宽;目标材料绝缘膜,用作电容分压器的低压臂电容;电缆连接座,用于连接碳芯电阻和目标材料绝缘膜;匹配头,用作测量探头;同轴金属筒,用于安置目标材料绝缘膜和电缆连接座。通过将电缆输入端口前串接一个寄生电感小的高功率碳芯电阻达到补偿电容分压器的低频响应的效果,解决宽脉冲测量困难的问题,同时采用聚酰亚胺金属绝缘膜作为低压臂,能有效减小低压臂引入电感的影响,解决杂散参数对高压测量探头响应时间的影响及测量波形、电场分布畸变的问题。

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【技术保护点】

1.一种高压测量探头的制备方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述目标材料绝缘膜贴敷于同轴金属筒的内筒之前还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采用目标金属箔与目标材料制成目标材料绝缘膜包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述制成目标材料绝缘膜之前还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述安装电缆连接座于所述同轴金属筒的外筒包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述并采用同轴类型的匹配头与所述同轴电缆连接之后还包括:

7.一种高压测量探头,其特征在于,所述高压测量探头包括:

8.根据权利要求7所述的高压测量探头,其特征在于,所述高压测量探头还包括示波器,所述示波器与所述匹配头连接。

9.根据权利要求7所述的高压测量探头,其特征在于,所述高压测量探头还包括同轴电缆,用于连接所述电缆连接座和匹配头。

10.根据权利要求7所述的高压测量探头,其特征在于,所述目标材料绝缘膜面积的影响因素包括待测脉冲信号的峰值和脉宽。

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【技术特征摘要】

1.一种高压测量探头的制备方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述目标材料绝缘膜贴敷于同轴金属筒的内筒之前还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采用目标金属箔与目标材料制成目标材料绝缘膜包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述制成目标材料绝缘膜之前还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述安装电缆连接座于所述同轴金属筒的外筒包括:

6.根据权利要求1所述的方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄炜昭辛拓陈龙余广译谢欢欢徐曙邹俊君
申请(专利权)人:深圳供电局有限公司
类型:发明
国别省市:

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