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基于SRAM的模拟动态视觉传感器阵列的方法技术

技术编号:40266953 阅读:11 留言:0更新日期:2024-02-02 22:55
本发明专利技术提供基于SRAM的模拟动态视觉传感器阵列的方法,包括:获取用于模拟动态视觉传感器阵列的基础电路;利用SRAM对基础电路进行重构,生成重构电路;基于重构电路,根据动态视觉传感器阵列结构内容项与SRAM结构内容项的对应关系,执行模拟操作。本发明专利技术可解决在可编程门阵列器件上无法布局布线问题,可减少比特流生成的时间,可实现模拟动态视觉传感器阵列的工作延时,使动态视觉传感器的可编程门阵列验证结果可以更加接近芯片的真实工作状态。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及动态视觉传感器,尤其涉及基于sram的模拟动态视觉传感器阵列的方法。


技术介绍

1、动态视觉传感器(dynamic vision sensor,dvs)借鉴了高等生物视觉系统,其像素结构模仿了由视锥、on与off型双极细胞和on与off型神经节细胞组成的一条视觉通路,可以独立感受光强变化并产生输出。dvs像素阵列由一个个独立感光像素组成,每一个像素都在独立判断自身是否被激发,若被激发则产生一个on事件或off事件,未激发则不产生任何输出。

2、动态视觉传感器的像素通过二维的方式构成了像素阵列。同一行像素驱动同一根行请求信号rreq<n>(n表示行号),一行中任意一个像素被激发后rreq<n>信号会在的时间后被拉高。阵列中一列内所有dvs像素共同驱动列事件信号con<m>与coff<m>(m表示列号)。dvs像素的con与coff输出是由行应答信号rack信号控制的,因此列事件信号con<m>与coff<m>实际上只由处于被应答了的行上的dvs像素驱动,由rack信号被拉高至con与coff信号上事件信息稳定之间的延时被记作track。阵列控制器完成一行像素事件信息的采集后通过rrst信号完成该行像素的复位,像素复位所需的时间被记作trrst。trreq、track与trrst是动态视觉传感器阵列的工作延时参数,其具体数值可由对具体的动态视觉传感器阵列进行仿真所获得。

3、在芯片验证中,通过可编程门阵列(可编程门阵列)平台对芯片进行验证是一个必要的步骤,同时,可编程门阵列也是原型验证重要的媒介,动态视觉传感器像素激发的不确定性使得传感器中数字处理电路的逻辑隐患很难在模拟仿真中触发,因此可编程门阵列验证是动态视觉传感器验证环节中不可或缺的一环。

4、申请号为cn202210985376.7的文件公开了一种使用可编程门阵列模拟动态视觉传感器阵列的方法,该方法包括:基于第一数字电路对动态视觉传感器像素进行模拟;基于动态视觉传感器像素通过阵列布局构成动态视觉传感器阵列;基于动态视觉传感器阵列、数字电路和芯片接口构成动态视觉传感器系统;基于第二数字电路对动态视觉传感器系统进行模拟。本专利技术首先使用数字电路对dvs像素进行了模拟,接着通过数字电路对dvs像素共享行请求总线与事件状态总线的结构进行了模拟,最后描述了基于这种传感器阵列模拟方式的可编程门阵列原型验证系统结构。解决了可编程门阵列无法模拟动态视觉传感器阵列的问题,使得整个动态视觉传感器芯片可以在可编程门阵列上进行验证以及原型系统的开发;但是这一方法存在以下两个问题:

5、(1)海量的逻辑单元与逻辑单元之间复杂的连接方式使得该电路很难在可编程门阵列器件上完成布局布线。在使用vivado2021.1在vcu118开发板上对图2所示的用以模拟dvs阵列的可综合电路结构(简称“可综合dvs阵列”)进行部署过程中,该方法仅适用于对64×64及其以下规模的dvs阵列进行模拟。使用vivado2021.1对128×128大小的可综合dvs阵列进行综合需要约20个小时,布局布线所消耗的时间是综合时间的数倍以上,而对512×512大小的可综合dvs阵列进行可编程门阵列映射则是一个更加不可能完成的工作。在阵列大小为512×512时,可综合dvs阵列中所含的d触发器数量约为512k(512×512×2)且信号走线复杂,这阻碍了vivado工具进行可编程门阵列映射;(2)由于现有方法中对输出接口电平值的计算逻辑为组合电路,因此可综合dvs阵列没法真实模拟动态视觉传感器阵列的工作延时,这使得动态视觉传感器的可编程门阵列验证结果偏离芯片的真实工作状态。

6、因此,有必要提供基于sram的模拟动态视觉传感器阵列的方法。


技术实现思路

1、本专利技术提供了基于sram的模拟动态视觉传感器阵列的方法,可解决在可编程门阵列器件上无法布局布线问题,可减少比特流生成的时间,可实现模拟动态视觉传感器阵列的工作延时,使得动态视觉传感器的可编程门阵列验证结果可以更加接近芯片的真实工作状态。

2、本专利技术提供了基于sram的模拟动态视觉传感器阵列的方法,包括:

3、s1:获取用于模拟动态视觉传感器阵列的基础电路;

4、s2:利用sram对基础电路进行重构,生成重构电路;

5、s3:基于重构电路,根据动态视觉传感器阵列结构内容项与sram结构内容项的对应关系,执行模拟操作。

6、进一步地,s2包括:

7、s201:获取基础电路中的若干个d触发器的连接结构;

8、s202:根据连接结构,利用sram替换掉基础电路中的d触发器,生成重构电路。

9、进一步地,s202还包括对重构电路进行测试,并根据测试结果生成监测模型,用于重构电路运行过程中的监测;具体步骤为:

10、s2021:根据预设的测试电路对重构电路进行预设的工作运行指标的测试,生成测试数据;

11、s2022:根据测试数据,获取若干个工作运行指标的阈值或阈值范围;

12、s2023:根据测试数据、阈值和阈值范围,生成工作运行监测预警模型;

13、s2024:结合预设的重构电路工作运行监测电路,将工作运行监测预警模型用于重构电路工作运行过程中的监测预警。

14、进一步地,s3包括:

15、s301:基于动态视觉传感器阵列结构内容项与sram结构内容项,获取动态视觉传感器阵列结构内容项与sram结构内容项的对应关系;动态视觉传感器阵列结构内容项包括事件锁存器、行请求信号、行应答信号、列事件信号、对某一行事件进行应答、被应答的像素驱动列事件信号、对某一行事件进行复位和某一个像素产生事件;sram结构内容项包括存储单元、字线、位线、对某一行存储单元进行驱动、被驱动的存储单元驱动位线、对某一行存储单元写“0”和对某一个存储单元写“1”;

16、s302:基于对应关系,生成模拟操作内容;

17、s303:对模拟操作内容进行模拟操作。

18、进一步地,s303包括:

19、s3031:利用存储单元模拟事件锁存器对事件信息的存储;

20、s3032:利用字线模拟行应答信号的输出;

21、s3033:利用位线模拟列事件信号的输出。

22、进一步地,s303还包括:

23、s3034:利用sram的a端口对动态视觉传感器阵列进行第一模拟操作;第一模拟操作包括:对某一行事件进行应答、被应答的像素驱动列事件信号、对某一行事件进行复位;

24、s3035:利用sram的b端口对动态视觉传感器阵列的某一个像素产生事件进行第二模拟操作。

25、进一步地,s3034包括:

26、s3034-1:利用sram中的行应答地址编码器检测行的读时钟的变化,若检测到第一目标行本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于SRAM的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于SRAM的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,S2包括:

3.根据权利要求2所述的基于SRAM的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,S202还包括对重构电路进行测试,并根据测试结果生成监测模型,用于重构电路运行过程中的监测;具体步骤为:

4.根据权利要求1所述的基于SRAM的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,S3包括:

5.根据权利要求4所述的基于SRAM的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,S303包括:

6.根据权利要求4所述的基于SRAM的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,S303还包括:

7.根据权利要求6所述的基于SRAM的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,S3034包括:

8.据权利要求6所述的基于SRAM的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,S3034还包括:

9.据权利要求6所述的基于SRAM的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,S3035包括:

10.据权利要求1所述的基于SRAM的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,还包括S4,构建模拟控制管理系统,对模拟动态视觉传感器阵列的过程进行控制管理,具体步骤为:

...

【技术特征摘要】

1.基于sram的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于sram的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,s2包括:

3.根据权利要求2所述的基于sram的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,s202还包括对重构电路进行测试,并根据测试结果生成监测模型,用于重构电路运行过程中的监测;具体步骤为:

4.根据权利要求1所述的基于sram的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,s3包括:

5.根据权利要求4所述的基于sram的模拟动态视觉传感器阵列的方法,其特征在于,s303包括:

6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:蔡宇杰李文宏
申请(专利权)人:上海宇勘科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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