【技术实现步骤摘要】
本专利技术的一个方式涉及一种电池评价系统、电池评价方法、材料检索方法、材料检索系统、程序以及记录介质。本专利技术的一个方式涉及一种二次电池的评价方法、二次电池的测量方法。本专利技术的一个方式不局限于上述。本说明书等所公开的专利技术的涉及一种物体、方法或制造方法。此外，本专利技术的一个方式涉及一种工序(process)、机器(machine)、产品(manufacture)或者组合物(composition of matter)。
技术介绍
1、近年来，在各种
中，无机材料及有机材料等各种材料的开发非常活跃。作为材料特性评价方法之一，已知有利用x射线衍射(xrd：x-ray diffraction)法的分析方法(也称为“xrd分析”)。xrd分析中有x射线粉末衍射法等，可以以无损的方式进行结晶性及取向性的评价、材料的鉴别或推测等。尤其是，x射线粉末衍射法广泛地用作多晶体的分析方法。
2、在xrd分析中，将一定的波长的x射线以改变入射角度的方式照射到样品，测量反射的x射线的强度，而得到物质固有的衍射图案(也称为“2θ/θ测...
【技术保护点】
1.一种电池评价系统，包括：
2.根据权利要求1所述的电池评价系统，
3.根据权利要求1所述的电池评价系统，
4.根据权利要求1所述的电池评价系统，还包括：
5.根据权利要求1所述的电池评价系统，
6.根据权利要求1所述的电池评价系统，
7.根据权利要求6所述的电池评价系统，
8.根据权利要求1所述的电池评价系统，
9.根据权利要求6所述的电池评价系统，
10.根据权利要求1所述的电池评价系统，
11.根据权利要求1所述的电池评价系统，
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【技术特征摘要】
1.一种电池评价系统，包括：
2.根据权利要求1所述的电池评价系统，
3.根据权利要求1所述的电池评价系统，
4.根据权利要求1所述的电池评价系统，还包括：
5.根据权利要求1所述的电池评价系统，
6.根据权利要求1所述的电池评价系统，
7.根据权利要求6所述的电池评价系统，
8.根据权利要求1所述的电池评价系统，
9.根据权利要求6所述的电池评价系统，
10.根据权利要求1所述的电池评价系统，
11.根据权利要求1所述的电池评价系...
【专利技术属性】
技术研发人员：种村和幸，三上真弓，东和树，片桐治树，向尾恭一，
申请(专利权)人：株式会社半导体能源研究所，
类型：发明
国别省市：
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