【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片验证，特别涉及一种芯片验证中断言验证管理的方法、装置、系统和介质。
技术介绍
1、芯片验证就是采用相应的验证语言，验证工具和验证方法，在芯片生产之前验证芯片设计是否符合芯片定义的需求规格。目前，芯片验证主要分为模块级验证和系统级验证。
2、芯片在进行rtl（register transfer level，寄存器传输级）设计的时候，一般地需要验证工程师进行模块级随机化验证，当模块级验证代码覆盖率和功能覆盖率达到100%后，才会进行系统级仿真验证。
3、在系统级验证中，各个模块之间的连接时序尤为重要，尤其随着芯片规模的不断变大，系统级仿真的时序检查需要编写的断言同样不断增加。
4、具体的，断言（system verilog assertion，sva）通常被称为序列监视器或者序列检验器，是对设计应当如何执行特定行为的描述，是一种嵌入设计检查。如果检查的属性（property）不是我们期望的表现，那么在我们期望事件序列出现异常情况，发生故障时，会产生警告或者错误提示。
5、然而，对于大规模断言而言，不同工程师的水准不同，会造成大规模断言质量参差不齐的现象。
6、因此，如何在芯片验证中对断言进行验证管理，以有效避免不同工程师编写接口时序的断言疏漏，提高断言编写质量，是本领域需要解决的技术问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，提供该
技术实现思路
部分以便以简要的形式介绍构思，这些构思将在后面的具体实施方式部分被详细描述。该
2、本申请的目的在于提供一种芯片验证中断言验证管理的方法、装置、系统和介质，可以提高断言的编写质量，避免造成大规模断言质量参差不齐的现象。
3、为实现上述目的，本申请有如下技术方案：
4、第一方面，本申请实施例提供了一种芯片验证中断言验证管理的方法，包括：
5、根据待检查功能模块的关键词，在预设断言库中进行检索得到所述待检查功能模块对应的断言，作为待验证断言；
6、将所述待验证断言对应的时序和所述待检查功能模块的时序进行比对；
7、当所述待验证断言对应的时序和所述待检查功能模块的时序一致时，将所述待检查功能模块的预设置功能点注入错误数据；
8、利用所述待验证断言对所述待检查功能模块进行检查，当所述待验证断言检查到所述错误数据时，则将所述待验证断言标记为正确断言。
9、在一种可能的实现方式中，还包括：
10、当所述待验证断言未检查到所述错误数据时，则显示所述待检查功能模块的版本和所述待验证断言的版本。
11、在一种可能的实现方式中，在所述将所述待验证断言标记为正确断言之后，还包括：
12、建立所述正确断言和所述待检查功能模块的路径对应关系；
13、根据所述路径对应关系生成所述正确断言的例化文件。
14、在一种可能的实现方式中，所述将所述待验证断言对应的时序和所述待检查功能模块的时序进行比对，包括：
15、比对所述待验证断言对应的时序内容和所述待检查功能模块的时序内容是否一致；
16、比对所述待验证断言对应的时序检查项目和所述待检查功能模块的时序检查项目是否一致。
17、第二方面，本申请实施例提供了一种芯片验证中断言验证管理的装置，包括：
18、检索单元，用于根据待检查功能模块的关键词，在预设断言库中进行检索得到所述待检查功能模块对应的断言，作为待验证断言；
19、比对单元，用于将所述待验证断言对应的时序和所述待检查功能模块的时序进行比对；
20、注入单元，用于当所述待验证断言对应的时序和所述待检查功能模块的时序一致时，将所述待检查功能模块的预设置功能点注入错误数据；
21、检查单元，用于利用所述待验证断言对所述待检查功能模块进行检查，当所述待验证断言检查到所述错误数据时，则将所述待验证断言标记为正确断言。
22、在一种可能的实现方式中，还包括：
23、显示单元，用于当所述待验证断言未检查到所述错误数据时，则显示所述待检查功能模块的版本和所述待验证断言的版本。
24、在一种可能的实现方式中，还包括：
25、建立单元，用于建立所述正确断言和所述待检查功能模块的路径对应关系；
26、生成单元，用于根据所述路径对应关系生成所述正确断言的例化文件。
27、在一种可能的实现方式中，所述比对单元，具体用于：
28、比对所述待验证断言对应的时序内容和所述待检查功能模块的时序内容是否一致；
29、比对所述待验证断言对应的时序检查项目和所述待检查功能模块的时序检查项目是否一致。
30、第三方面，本申请实施例提供了一种芯片验证中断言验证管理的系统，包括：
31、存储器，用于存储计算机程序；
32、处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述所述芯片验证中断言验证管理的方法的步骤。
33、第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读介质，所述计算机可读介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理执行时实现如上述所述芯片验证中断言验证管理的方法的步骤。
34、与现有技术相比，本申请实施例具有以下有益效果：
35、本申请实施例提供了一种芯片验证中断言验证管理的方法、装置、系统和介质，该方法包括：根据待检查功能模块的关键词，在预设断言库中进行检索得到待检查功能模块对应的断言，作为待验证断言；将待验证断言对应的时序和待检查功能模块的时序进行比对；当待验证断言对应的时序和待检查功能模块的时序一致时，将待检查功能模块的预设置功能点注入错误数据；利用待验证断言对待检查功能模块进行检查，当待验证断言检查到错误数据时，则将待验证断言标记为正确断言。本申请通过对预设断言库中的断言进行检查，可以提高断言的编写质量，筛选出质量高的待验证断言作为正确断言，可以统一断言质量标准，避免造成大规模断言质量参差不齐的现象。
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1.一种芯片验证中断言验证管理的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将所述待验证断言标记为正确断言之后，还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述待验证断言对应的时序和所述待检查功能模块的时序进行比对，包括：
5.一种芯片验证中断言验证管理的装置，其特征在于，包括：
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括：
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括：
8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述比对单元，具体用于：
9.一种芯片验证中断言验证管理的系统，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读介质，其特征在于，所述计算机可读介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理执行时实现如权利要求1-4任意一项所述芯片验证中断言验证管理的方法的步骤。
【技术特征摘要】
1.一种芯片验证中断言验证管理的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将所述待验证断言标记为正确断言之后，还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述待验证断言对应的时序和所述待检查功能模块的时序进行比对，包括：
5.一种芯片验证中断言验证管理的装置，其特征在于，包括：
6.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：邢杰，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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