本发明专利技术主要涉及部件尺寸测量技术领域。为了解决目前对于微小器件的外观尺寸测量主要以卡尺测量或二次元测量为主，操作不便，且误差因素多，依靠人工对测量的精密度进行把控，效率不高的问题；本发明专利技术提供一种连接器弹高尺寸测量方法、装置及计算机可读存储介质，通过建立特征提取模型提取连接器弹片特征和基准部件特征，根据获取的连接器弹片特征和基准部件特征计算连接器的弹高尺寸。能够有效地避免在连接器弹高尺寸测量过程中出现不确定误差，影响测量结果，同时能够极大的提高测量效率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术主要涉及电子元件测量，尤其是涉及一种连接器弹高尺寸测量方法、装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
1、随着科技的发展进步，许多微小零部件的制作要求越来越精密，在实际的生产过程中对外观的质量要求也越来越高，特别是在外观尺寸方面，微小的尺寸差异就可能造成重要的损失。传统的外观尺寸测量以卡尺测量、二次元测量为主，但是这两种方式均存在操作不方便、效率低下等问题，其操作的手法不一致也会导致测量不准确。
2、连接器是电子行业用量较多的通用电子元器件。在各类电子系统中，连接器是连接器件与组件、组件与单机、单机与单机、系统与系统必不可少的基础元件。为使连接器的接口与数码产品的接口连接，连接器内设置的导电端子一般具有连接端和数码产品接口连接的弹高，所述弹高用于弹性卡接与数码产品的接口，使得其连接更加紧凑；连接器的弹高尺寸测量精准度极大的影响着各类装置的工作效果。
技术实现思路
1、本专利技术所要解决的技术问题
2、提供一种连接器弹高尺寸测量方法、装置及计算机可读存储介质，解决目前对于连接器的弹高尺寸测量主要以卡尺测量或二次元测量为主，操作不便，且误差因素多，依靠人工对测量的精密度进行把控，效率不高的问题。
3、本专利技术解决上述问题所采用的技术方案
4、一种连接器弹高尺寸测量方法，包括，
5、获取多组不同连接器图像数据和连接器部件标注信息；
6、根据获取的连接器图像数据和连接器部件标注信息训练特征提取模型；
>7、用经过训练的特征提取模型提取待检测连接器的弹片特征和基准部件特征；8、根据获取的连接器弹片特征和基准部件特征计算连接器的弹高尺寸。
9、进一步的，获取连接器的mask图像，根据连接器的mask图像建立特征提取模型。
10、进一步的，所述根据获取的连接器图像数据和连接器部件标注信息训练特征提取模型具体包括：
11、对获取的连接器部件的mask图像进行连通域分析，将经过连通域分析后的mask图像的每个通道进行欧几里得转换，得到转换后的mask图像；
12、将获取的连接器图像输入预定义的图像分割网络，得到预测的mask图像；
13、计算预测mask图像和欧几里得转换的mask图像的损失值，并根据所述损失值训练预定义的图像分割网络至收敛状态，获得特征提取模型。
14、进一步的，所述特征提取模型包括n个输出通道，弹片所属类别对应的通道输出弹片特征，基准部件所属类别对应的通道输出基准部件特征。
15、进一步的，根据获取的连接器弹片特征和基准部件特征计算连接器的弹高尺寸具体包括，
16、根据设定的几何约束在弹片特征上选取对应位置弹片特征点；
17、根据设定的几何约束在基准部件特征上选取对应位置基准部件特征点；
18、计算弹片特征点到基准部件特征点的距离，得到连接器的弹高尺寸。
19、进一步的，将待检测连接器图像输入特征提取模型前对待检测连接器图像进行预处理，所述预处理包括对待检测连接器图像进行均值计算后进行方差计算。
20、进一步的，使用标注工具对连接器的各个部件进行像素级的边缘标注，获取连接器部件的标注信息。
21、基于所述的一种连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，本专利技术还提供一种连接器弹高尺寸测量装置，具体包括：
22、数据获取模块：用于获取目标连接器的多组图像数据和标注信息；
23、训练模块：用于根据获取的连接器图像数据和标注信息和预定义的图像分割网络，训练得到特征提取模型；
24、特征提取模块：用于根据特征提取模型提取待检测连接器的弹片特征和基准部件特征；
25、计算模块：用于根据获取的连接器弹片特征和基准部件特征计算连接器弹高尺寸。
26、进一步的，所述数据获取模块为ccd相机。
27、本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有程序代码，所述程序代码用于实现所述的连接器弹高尺寸测量方法。
28、本专利技术的有益效果
29、本专利技术所提供一种连接器弹高尺寸测量方法，通过建立特征提取模型提取连接器弹片特征和基准部件特征，根据获取的连接器弹片特征和基准部件特征计算连接器的弹高尺寸。能够有效地避免测量的连接器弹高尺寸出现不确定误差，同时能够极大地高连接器弹高尺寸测量效率。
30、本专利技术中的所提供的一种连接器弹高尺寸测量装置中的数据获取模块采用ccd相机，可以根据连接器的具体情况进行参数设置，能够针对各种类型的连接器进行弹高尺寸测量，提高测量装置的适用性。
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【技术保护点】
1.连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，包括，
2.根据权利要求1所述的连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，获取连接器的mask图像，根据连接器的mask图像建立特征提取模型。
3.根据权利要求2所述的连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，所述根据获取的连接器图像数据和连接器部件标注信息训练特征提取模型具体包括：
4.根据权利要求3所述的连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，所述特征提取模型包括N个输出通道，弹片所属类别对应的通道输出弹片特征，基准部件所属类别对应的通道输出基准部件特征。
5.根据权利要求1所述的连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，根据获取的连接器弹片特征和基准部件特征计算连接器的弹高尺寸具体包括，
6.根据权利要求1所述的连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，将待检测连接器图像输入特征提取模型前对待检测连接器图像进行预处理，所述预处理包括对待检测连接器图像进行均值计算后进行方差计算。
7.根据权利要求2所述的连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，使用标注工具对连接器的各个部件进行像素级的边缘标注，获取连接器部件的标注信息。
8.连接器弹高尺寸测量装置，用于实现权利要求1-7任意一项所述的连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，包括：
9.根据权利要求8所述的连接器弹高尺寸测量装置，其特征在于，所述数据获取模块为CCD相机。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有程序代码，所述程序代码用于实现权利要求1-7任意一项所述的连接器弹高尺寸测量方法。
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【技术特征摘要】
1.连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，包括，
2.根据权利要求1所述的连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，获取连接器的mask图像，根据连接器的mask图像建立特征提取模型。
3.根据权利要求2所述的连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，所述根据获取的连接器图像数据和连接器部件标注信息训练特征提取模型具体包括：
4.根据权利要求3所述的连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，所述特征提取模型包括n个输出通道，弹片所属类别对应的通道输出弹片特征，基准部件所属类别对应的通道输出基准部件特征。
5.根据权利要求1所述的连接器弹高尺寸测量方法，其特征在于，根据获取的连接器弹片特征和基准部件特征计算连接器的弹高尺寸具体包括，
6.根据权利要求1所述的连...
【专利技术属性】
技术研发人员：许亮，张欢欢，彭世勇，刘梅，刘明华，展华益，
申请(专利权)人：四川启睿克科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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