System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种可用于冲击试验的薄壁结构制造技术_技高网

一种可用于冲击试验的薄壁结构制造技术

技术编号:40212113 阅读:9 留言:0更新日期:2024-02-02 22:21
本发明专利技术公开了一种可用于冲击试验的薄壁结构,底座与半圆柱壳体可拆卸式连接;基座与所述底座可拆卸式连接;半圆柱壳体由无缝圆管沿直径切割而成,在边缘对称焊接端板,在端板上开设螺栓孔,与底座可拆卸式连接;通过底座与基座固定,在固定前调节根据半圆柱壳体进行侧向冲击实验要求调节底座的位置,然后夹持固定即可进行侧向冲击载荷试验,灵活调整试样的冲击,便于圆弧形试样对中,并且能够保证侧向冲击实验过程中薄壁圆柱壳体侧向约束的可靠性,避免因侧向约束不牢固造成实验结果与预期不符合,继而影响实验效果。且本发明专利技术的薄壁结构加工难度低、操作简便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于冲击动力学,具体涉及一种可用于冲击试验的薄壁结构


技术介绍

1、结构在冲击载荷下的动力学响应一直以来是冲击动力学领域的研究重点。工程实践中,管道、压力容器、钢结构、放射性物品运输容器等装备常用圆柱形金属壳体进行承力。现有的方法中,主要对圆柱形薄壁结构进行轴向冲击,得到其轴向载荷下的结构响应和变形模式,但对于侧向冲击载荷下的研究甚少。由于薄壁圆管在半径方向刚度低,事故条件下的侧向冲击对于薄壁圆管容易产生更大危害性。但与对圆柱形薄壁结构进行轴向冲击实验相比,圆管形试样的侧向无法夹持,不能使用轴向固定方法进行约束,且未考虑内部可能增加夹层和填充物,无法满足侧向冲击的实验要求。


技术实现思路

1、针对现有技术所存在的上述技术问题,本专利技术的目的在于提供一种可进行侧向冲击的薄壁结构。

2、为实现上述专利技术目的,本专利技术采用的技术方案如下:一种可用于冲击试验的薄壁结构,包括半圆柱壳体、底座和基座;所述底座与半圆柱壳体可拆卸式连接;所述基座与所述底座可拆卸式连接。

3、进一步地,所述半圆柱壳体由无缝圆管沿直径切割而成;所述半圆柱壳体边缘焊接端板。

4、进一步地,所述端板在半圆柱壳体边缘对称设置,设有多个螺栓孔。

5、进一步地,所述底座上设有与所述螺栓孔配套的开孔,与所述端板可拆卸式连接。

6、进一步地,所述基座为夹持结构,底座夹持于所述基座中。

7、进一步地,所述底座为方形钢板,厚度不小于10mm。p>

8、采用本专利技术的技术方案带来的有益效果是,一种可用于冲击试验的薄壁结构,底座与半圆柱壳体可拆卸式连接;基座与所述底座可拆卸式连接;半圆柱壳体由无缝圆管沿直径切割而成,在边缘对称焊接端板,在端板上开设螺栓孔,与底座可拆卸式连接;通过底座与基座固定,在固定前调节根据半圆柱壳体进行侧向冲击实验要求调节底座的位置,然后夹持固定即可进行侧向冲击载荷试验,可灵活调整薄壁结构的冲击点,便于圆弧形试样对中,并且能够保证侧向冲击实验过程中薄壁圆柱壳体侧向约束的可靠性,避免因侧向约束不牢固造成实验结果与预期不符合,继而影响实验效果。为研究圆柱形试样在侧向冲击载荷下的结构响应和变形模式提供了数据支持。且本专利技术的薄壁结构加工难度低、操作简便。

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【技术保护点】

1.一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:包括半圆柱壳体(1)、底座(4)和基座(5);所述底座(4)与半圆柱壳体(1)可拆卸式连接;所述基座(5)与所述底座(4)可拆卸式连接。

2.根据权利要求1所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:所述半圆柱壳体(1)由无缝圆管沿直径切割而成;所述半圆柱壳体(1)边缘焊接端板2。

3.根据权利要求1所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:端板(2)对称焊接在半圆柱壳体(1)的边缘,焊接2块,为方形钢板。

4.根据权利要求3所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:所述端板(2)上设有多个螺栓孔(3)。

5.根据权利要求3所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:所述底座(4)上设有与所述螺栓孔(3)配套的开孔,与所述端板(2)可拆卸式连接。

6.根据权利要求1所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:所述基座(5)为夹持结构,底座(4)夹持于所述基座(5)中。

7.根据权利要求1所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:所述基座(5)包括上下两块基座板(51),每块基座板(51)上设有多个均匀分布的孔,底座(4)夹持于两基座板(51)之间。

8.根据权利要求1所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:所述底座(4)为方形钢板,厚度不小于10mm。

9.根据权利要求1所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:所述半圆柱壳体(1)内填充式样(6)。

10.根据权利要求1所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:所述半圆柱壳体(1)为双层结构,包括外壳(11)和内壳(12)。

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【技术特征摘要】

1.一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:包括半圆柱壳体(1)、底座(4)和基座(5);所述底座(4)与半圆柱壳体(1)可拆卸式连接;所述基座(5)与所述底座(4)可拆卸式连接。

2.根据权利要求1所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:所述半圆柱壳体(1)由无缝圆管沿直径切割而成;所述半圆柱壳体(1)边缘焊接端板2。

3.根据权利要求1所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:端板(2)对称焊接在半圆柱壳体(1)的边缘,焊接2块,为方形钢板。

4.根据权利要求3所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:所述端板(2)上设有多个螺栓孔(3)。

5.根据权利要求3所述的一种可用于冲击试验的薄壁结构,其特征是:所述底座(4)上设有与所述螺栓孔(3)配套的开孔,与所述端板(...

【专利技术属性】
技术研发人员:张煜航庄大杰孙树堂孙洪超李国强张建岗陈磊连一仁王智鹏王鹏毅王长武孙谦郝嘉欣
申请(专利权)人:中国辐射防护研究院
类型:发明
国别省市:

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