【技术实现步骤摘要】
本公开涉及显示，特别涉及一种显示模组的测试电路及测试方法。
技术介绍
1、在显示模组出厂前，通常会采用电子测试(electrical detection，et)设备对显示模组进行点灯测试，即点亮显示模组，以检测显示模组是否可以正常显示。
2、目前，显示模组一般包括多个像素，et设备分别与测试端和像素耦接，并用于向像素传输测试端提供的测试信号以点亮像素，实现点灯测试。
3、但是，目前仅能基于一组测试信号针对一种颜色的像素进行点灯测试，而无法测试不同颜色的像素之间是否发生短路，测试灵活性较差。
技术实现思路
1、本公开实施例提供了一种显示模组的测试电路及测试方法，可以解决相关技术中仅能基于一组测试信号针对一种颜色的像素进行点灯测试，而无法测试不同颜色的像素之间是否发生短路，测试灵活性较差的问题。
2、所述技术方案如下：
3、一方面，提供了一种显示模组的测试电路，所述显示模组包括：多种不同颜色的像素；所述测试电路包括：
4、测试焊盘，设置有测试端，所述测试端提供的测试信号用于点亮所述像素；
5、测试开关电路，分别与开关控制端和所述测试端耦接，且还用于与所述多种不同颜色像素耦接；所述测试开关电路被配置为响应于所述开关控制端提供的开关控制信号，控制所述测试端与所述多种不同颜色像素的通断；
6、并且，在同一时段，所述测试开关电路被配置为控制所述测试端与所述多种不同颜色像素中一种目标颜色的像素导通，且控制所述测试
7、可选的，所述开关控制端包括：与所述多种不同颜色像素一一对应的多个开关控制端；
8、所述测试开关电路分别与所述多个开关控制端、所述测试端和所述多种不同颜色像素耦接；针对每种颜色的像素，所述测试开关电路被配置为响应于对应的开关控制端提供的开关控制信号，控制所述测试端与所述像素的通断。
9、可选的，所述测试开关电路包括：与所述多种不同颜色像素一一对应的多个开关单元；
10、所述多个开关单元分别与所述多个开关控制端和所述多种不同颜色像素一一对应耦接，且还与所述测试端耦接；每个所述开关单元被配置为响应于对应的开关控制端提供的开关控制信号，控制所述测试端与对应的像素的通断。
11、可选的，所述开关单元包括；开关；
12、所述开关的控制端与所述开关控制端耦接，所述开关的输入端与所述测试端耦接，所述开关的输出端与所述像素耦接。
13、可选的，所述开关包括：开关晶体管；
14、所述开关晶体管的栅极作为所述开关的控制端与所述开关控制端耦接，所述开关晶体管的第一极作为所述开关的输入端与所述测试端耦接，所述开关晶体管的第二极作为所述开关的输出端与所述像素耦接。
15、可选的，所述开关晶体管包括：p型晶体管。
16、可选的，所述多种不同颜色的像素与驱动电源线耦接，并基于所述驱动电源线提供的驱动电源信号发光，且所述驱动电源线呈网状；
17、所述测试开关电路通过所述驱动电源线与所述多种不同颜色的像素耦接。
18、可选的，所述测试焊盘还设置有所述开关控制端。
19、另一方面，提供了一种显示模组，所述显示模组包括：多种不同颜色的像素；并且，所述显示模组具有依次邻接的显示区、非显示区和焊盘区；
20、其中，所述像素位于所述显示区；如上述一方面所述的测试电路包括的测试开关电路和测试焊盘分别位于所述非显示区和所述焊盘区。
21、又一方面，提供了一种显示模组的测试方法，所述显示模组包括：多种不同颜色的像素；所述测试方法应用于如上述一方面所述的测试电路中；所述方法包括：
22、向开关控制端提供开关控制信号；
23、测试开关电路响应于所述开关控制信号，控制测试端与所述多种不同颜色像素的通断，所述测试端提供的测试信号用于点亮所述像素；
24、并且，在同一时段，所述测试电路控制所述测试端与所述多种不同颜色像素中一种目标颜色的像素导通，且控制所述测试端与所述多种不同颜色像素中除所述目标颜色外的其他颜色的像素断开耦接。
25、综上所述，本公开提供的技术方案带来的有益效果至少可以包括：
26、提供了一种显示模组的测试电路及测试方法。该测试电路包括测试开关电路。该测试开关电路可以与开关控制端、测试端和显示模组中多种不同颜色的像素耦接，并可以用于在开关控制端的控制下，控制测试端与像素的通断，且在同一时段，可以控制测试端与一种目标颜色的像素导通，且测试端提供的测试信号可以用于点亮像素。如此，可以通过检测显示模组在显示该目标颜色的画面时是否还出现其他颜色的图案来测试不同颜色的像素之间是否发生短路，测试灵活性较好。
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1.一种显示模组的测试电路，其特征在于，所述显示模组包括：多种不同颜色的像素；所述测试电路包括：
2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述开关控制端包括：与所述多种不同颜色像素一一对应的多个开关控制端；
3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述测试开关电路包括：与所述多种不同颜色像素一一对应的多个开关单元；
4.根据权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述开关单元包括；开关；
5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述开关包括：开关晶体管；
6.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述开关晶体管包括：P型晶体管。
7.根据权利要求1至6任一所述的测试电路，其特征在于，所述多种不同颜色的像素与驱动电源线耦接，并基于所述驱动电源线提供的驱动电源信号发光，且所述驱动电源线呈网状；
8.根据权利要求1至6任一所述的测试电路，其特征在于，所述测试焊盘还设置有所述开关控制端。
9.一种显示模组，其特征在于，所述显示模组包括：多种不同颜色的像素；并且，所述显示模组
10.一种显示模组的测试方法，其特征在于，所述显示模组包括：多种不同颜色的像素；所述测试方法应用于如权利要求1至8任一所述的测试电路中；所述方法包括：
...【技术特征摘要】
1.一种显示模组的测试电路，其特征在于，所述显示模组包括：多种不同颜色的像素；所述测试电路包括：
2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述开关控制端包括：与所述多种不同颜色像素一一对应的多个开关控制端；
3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述测试开关电路包括：与所述多种不同颜色像素一一对应的多个开关单元；
4.根据权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述开关单元包括；开关；
5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述开关包括：开关晶体管；
6.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述开关晶体管包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：周茂林，叶新，马永龙，杨波，陈智洋，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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