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硬盘背板接口的测试电路及测试设备制造技术

技术编号:40195709 阅读:8 留言:0更新日期:2024-01-26 23:58
本申请实施例涉及接口测试技术领域,公开了一种硬盘背板接口的测试电路及测试设备,该测试电路包括:第一接口单元,用于与硬盘背板的U.3接口连接;第二接口单元,为M.2接口,用于与适配M.2接口的硬盘连接,第二接口单元与第一接口单元电连接;控制单元,与第一接口单元电连接,用于在第一接口单元与硬盘背板的U.3接口连接且第二接口单元与硬盘连接时,通过第一接口单元向U.3接口的输入设备判断引脚输入电平信号,以基于硬盘背板与硬盘之间通过第一接口单元和第二接口单元的通信情况,对硬盘背板进行测试。通过上述方式,本申请实施例降低了U.3接口的测试成本。

【技术实现步骤摘要】

本申请实施例涉及接口测试,具体涉及一种硬盘背板接口的测试电路及测试设备


技术介绍

1、目前市面上越来越多的服务器配备u.3接口,u.3接口是在u.2接口的基础上发展而来,其设备端接口支持nvme硬盘、sas硬盘和sata硬盘等,且不同的硬盘只需在u.3接口的设备端接口上连接相同的四组引脚,便可在同一插槽下互换使用。

2、服务器在完成生产组装后,出厂前都需要对各种接口进行严格测试。针对u.3接口的测试,主要是将适配u.3接口的硬盘接入u.3接口进行读写等功能测试。然而,适配u.3接口的硬盘成本较高,会导致测试的成本较高,且长期采用此硬盘直接对u.3接口进行测试,测试时的多次拔插容易导致硬盘损坏,从而进一步增加测试成本。

3、因此,如何降低u.3接口的测试成本成了一个亟待解决的技术问题。


技术实现思路

1、鉴于上述问题,本申请实施例提供了一种硬盘背板接口的测试电路及测试设备,用于解决现有技术中存在的u.3接口的测试成本高的问题。

2、根据本申请实施例的一个方面,提供了一种硬盘背板接口的测试电路,该测试电路包括:第一接口单元,用于与硬盘背板的u.3接口连接;第二接口单元,为m.2接口,用于与适配m.2接口的硬盘连接,第二接口单元与第一接口单元电连接;控制单元,与第一接口单元电连接,用于在第一接口单元与硬盘背板的u.3接口连接且第二接口单元与硬盘连接时,通过第一接口单元向u.3接口的输入设备判断引脚输入电平信号,以基于硬盘背板与硬盘之间通过第一接口单元和第二接口单元的通信情况,对硬盘背板进行测试。

3、在一种可选的方式中,第二接口单元包括第一子接口单元和第二子接口单元,第一子接口单元用于与sas/sata硬盘连接,第二子接口单元用于与nvme硬盘连接;测试电路还包括模式切换开关和信号切换开关,模式切换开关和信号切换开关均与控制单元电连接,信号切换开关电连接于第一接口单元和第二接口单元之间;控制单元用于在模式切换开关处于第一状态时,通过第一接口单元向输入设备判断引脚中的第一引脚和第二引脚均输入低电平信号,并控制信号切换开关导通第一接口单元和与sas/sata硬盘连接的第一子接口单元之间的通信线路,以基于硬盘背板与sas/sata硬盘之间通过第一接口单元和第一子接口单元的通信情况,对硬盘背板连接sas/sata硬盘进行测试;控制单元还用于在模式切换开关处于第二状态时,通过第一接口单元向输入设备判断引脚的第一引脚输入低电平信号,向第二引脚输入高电平信号,并控制信号切换开关导通第一接口单元和与nvme硬盘连接的第二子接口单元之间的通信线路,以基于硬盘背板与nvme硬盘之间通过第一接口单元和第二子接口单元的通信情况,对硬盘背板连接nvme硬盘进行测试。

4、在一种可选的方式中,第一接口单元具有一组第一通信引脚和三组第二通信引脚,一组第一通信引脚和三组第二通信引脚用于与u.3接口上的四组第三通信引脚连接;信号切换开关具有一个固定端和两个切换端,其中三组第二通信引脚均与第二子接口单元连接,第一通信引脚与固定端连接,两个切换端分别与第一子接口单元和第二子接口单元连接;控制单元用于在模式切换开关处于第一状态时,控制信号切换开关导通固定端和与第一子接口单元连接的切换端之间的线路;控制单元还用于在模式切换开关处于第二状态时,控制信号切换开关导通固定端和第二子接口单元连接的切换端之间的线路。

5、在一种可选的方式中,第二接口单元用于与适配m.2接口的sas/sata硬盘连接;当第二接口单元与sas/sata硬盘连接时,控制单元用于通过第一接口单元向输入设备判断引脚中的第一引脚和第二引脚均输入低电平信号,以基于硬盘背板与sas/sata硬盘之间通过第一接口单元和第二接口单元的通信情况,对硬盘背板连接sas/sata硬盘进行测试;或,第二接口单元用于与适配m.2接口的nvme硬盘连接;当第二接口单元与nvme硬盘连接时,控制单元还用于通过第一接口单元向输入设备判断引脚中的第一引脚输入低电平信号,向第二引脚输入高电平信号,以基于硬盘背板与nvme硬盘之间通过第一接口单元和第二接口单元的通信情况,对硬盘背板连接nvme硬盘进行测试。

6、在一种可选的方式中,测试电路还包括电源负载单元和显示单元,电源负载单元与第一接口单元电连接,电源负载单元和显示单元均与控制单元电连接;电源负载单元用于通过第一接口单元接收u.3接口的电源输出引脚输入的电流;控制单元用于在电源负载单元接收电流时,检测电源负载单元的电压值,显示单元用于显示电压值。

7、在一种可选的方式中,电源负载单元包括运算放大器、mos管和精密电阻,mos管的源极用于通过第一接口单元连接于u.3接口的电源输出引脚,mos管的漏极连接于精密电阻的一端,精密电阻的另一端接地;运算放大器的正向输入端与控制单元连接,运算放大器的反向输入端连接于精密电阻与mos管的漏极之间,运算放大器的输出端与mos管的栅极连接;控制单元用于向运算放大器的正向输入端输入高电平信号,并检测mos管的源极侧的电压值,以对硬盘背板进行测试。

8、在一种可选的方式中,控制单元用于向运算放大器的正向输入端输入恒定的高电平信号,并检测mos管的源极侧的电压值,以对硬盘背板进行高负荷工作状态测试;控制单元还用于向运算放大器的正向输入端输入波动的高低电平信号,并检测mos管的源极侧的电压值,以对硬盘背板进行持续读写状态测试。

9、在一种可选的方式中,电源负载单元的数量为多个,至少部分电源负载单元用于通过第一接口单元连接于u.3接口的5v电源输出引脚,其余至少部分电源负载单元用于通过第一接口单元连接于u.3接口的12v电源输出引脚;测试电路还包括电源切换开关,电源切换开关与控制单元电连接,控制单元用于在电源切换开关处于第三状态时,控制5v电源输出引脚和与其连接的电源负载单元导通,以对硬盘背板的5v电源进行测试,控制单元用于在电源切换开关处于第四状态时,控制12v电源输出引脚和与其连接的电源负载单元导通,以对硬盘背板的12v电源进行测试。

10、在一种可选的方式中,测试电路还包括温度传感器,温度传感器与控制单元电连接,温度传感器用于采集测试电路的温度,并将采集到的温度发送给控制单元,控制单元用于将采集到的温度发送给显示单元进行显示。

11、根据本申请实施例的另一方面,提供了一种硬盘背板接口的测试设备,该测试设备包括如上述任意实施例中的测试电路和适配m.2接口的硬盘,测试电路的第二接口单元与硬盘连接。

12、本申请实施例通过使用测试电路作为转换件,将测试电路的一端与u.3接口的硬盘背板连接,另一端与适配m.2接口的硬盘连接,使得适配m.2接口的硬盘可用于u.3接口的测试,从而降低测试成本;且测试时,只需要从硬盘背板上拔插测试电路上用于与u.3接口连接的接口即可,无需反复拔插硬盘,从而有效避免了硬盘因反复多次从测试主板上拔插致使硬盘损坏的情况。

13、上述说明仅是本申请实施例技术方本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种硬盘背板接口的测试电路,其特征在于,所述测试电路包括:

2.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第二接口单元包括第一子接口单元和第二子接口单元,所述第一子接口单元用于与SAS/SATA硬盘连接,所述第二子接口单元用于与NVME硬盘连接;

3.根据权利要求2所述的测试电路,其特征在于,所述第一接口单元具有一组第一通信引脚和三组第二通信引脚,一组所述第一通信引脚和三组所述第二通信引脚用于与所述U.3接口上的四组第三通信引脚连接;

4.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第二接口单元用于与适配M.2接口的SAS/SATA硬盘连接;当所述第二接口单元与SAS/SATA硬盘连接时,所述控制单元用于通过所述第一接口单元向所述输入设备判断引脚中的第一引脚和第二引脚均输入低电平信号,以基于所述硬盘背板与所述SAS/SATA硬盘之间通过所述第一接口单元和所述第二接口单元的通信情况,对所述硬盘背板连接SAS/SATA硬盘进行测试;或,

5.根据权利要求1-4中任一项所述的测试电路,其特征在于,所述测试电路还包括电源负载单元和显示单元,所述电源负载单元与所述第一接口单元电连接,所述电源负载单元和所述显示单元均与所述控制单元电连接;

6.根据权利要求5所述的测试电路,其特征在于,所述电源负载单元包括运算放大器、mos管和精密电阻,所述mos管的源极用于通过所述第一接口单元连接于所述U.3接口的所述电源输出引脚,所述mos管的漏极连接于所述精密电阻的一端,所述精密电阻的另一端接地;

7.根据权利要求6所述的测试电路,其特征在于,所述控制单元用于向所述运算放大器的正向输入端输入恒定的高电平信号,并检测所述mos管的源极侧的电压值,以对所述硬盘背板进行高负荷工作状态测试;

8.根据权利要求7所述的测试电路,其特征在于,所述电源负载单元的数量为多个,至少部分所述电源负载单元用于通过所述第一接口单元连接于所述U.3接口的5V电源输出引脚,其余至少部分所述电源负载单元用于通过所述第一接口单元连接于所述U.3接口的12V电源输出引脚;

9.根据权利要求5所述的测试电路,其特征在于,所述测试电路还包括温度传感器,所述温度传感器与所述控制单元电连接,所述温度传感器用于采集所述测试电路的温度,并将采集到的温度发送给所述控制单元,所述控制单元用于将所述采集到的温度发送给所述显示单元进行显示。

10.一种硬盘背板接口的测试设备,其特征在于,所述测试设备包括如权利要求1-9中任意一项所述的测试电路和适配M.2接口的硬盘,所述测试电路的所述第二接口单元与所述硬盘连接。

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【技术特征摘要】

1.一种硬盘背板接口的测试电路,其特征在于,所述测试电路包括:

2.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第二接口单元包括第一子接口单元和第二子接口单元,所述第一子接口单元用于与sas/sata硬盘连接,所述第二子接口单元用于与nvme硬盘连接;

3.根据权利要求2所述的测试电路,其特征在于,所述第一接口单元具有一组第一通信引脚和三组第二通信引脚,一组所述第一通信引脚和三组所述第二通信引脚用于与所述u.3接口上的四组第三通信引脚连接;

4.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第二接口单元用于与适配m.2接口的sas/sata硬盘连接;当所述第二接口单元与sas/sata硬盘连接时,所述控制单元用于通过所述第一接口单元向所述输入设备判断引脚中的第一引脚和第二引脚均输入低电平信号,以基于所述硬盘背板与所述sas/sata硬盘之间通过所述第一接口单元和所述第二接口单元的通信情况,对所述硬盘背板连接sas/sata硬盘进行测试;或,

5.根据权利要求1-4中任一项所述的测试电路,其特征在于,所述测试电路还包括电源负载单元和显示单元,所述电源负载单元与所述第一接口单元电连接,所述电源负载单元和所述显示单元均与所述控制单元电连接;

6.根据权利要求5所述的测试电路...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹龙李锦成韦彪党光跃
申请(专利权)人:深圳市亿万克数据设备科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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