光纤试验方法和光纤收卷装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供光纤试验方法和光纤收卷装置，可以在光纤的试验中适当再现与光缆内同样的侧压和微小弯曲的状态。所述光纤试验方法以绕线管(12)上缠绕的第2层的光纤(51－2)为被试验对象。而且，由第3层的光纤(51－3)向第2层的光纤(51－2)施加侧压。所述侧压通过在绕线管上缠绕第3层的光纤(51－3)时的张力来调整。即，由于从其他光纤向被试验对象的光纤施加侧压，所以能再现与光缆内同样的侧压和微小弯曲的状态。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及用于试验光纤的光学特性的光纤试验方法及其试验中使用的光纤收卷装置。

技术介绍

1、以往公开有将光纤芯线捆扎成小直径高密度化的光纤线缆(例如参照专利文献1)。所述光纤线缆通过将光纤芯线高密度捆扎而线缆化。由此，成为细且轻的结构，提高了处理性，有助于构筑经济性的光纤网。实现这种光缆时，光纤的设计需要避免因线缆化而导致光损耗增加。

2、已知通常光纤被施加一定以上的侧压时会产生由光纤的微小弯曲引起的光损耗所谓微弯曲损耗的增加。公开有几种用于试验这种侧压导致的微弯曲损耗特性的方法。所述试验方法中，图1的(a)是说明金属丝网法(wire mesh)的图，图1的(b)是说明砂纸法(sand paper)的图。

3、图1的(a)的金属丝网法是通过在预先缠绕于圆筒状的绕线管10上的金属丝网20上缠绕测定对象的光纤50来进行光损耗测定的方法。另外，图1中的(x)表示垂直于绕线管的轴向的面的断面(断面中绕线管的表面的一部分)，图1中的(y)表示包含绕线管的轴的平面的断面(断面中绕线管的表面的一部分)。

4、图1的(b)的砂纸法是本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光纤试验方法，其特征在于，

2.根据权利要求1所述的光纤试验方法，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的光纤试验方法，其特征在于，所述光纤为在各层中不同的3根光纤。

4.一种光纤收卷装置，其特征在于包括：

5.根据权利要求4所述的光纤收卷装置，其特征在于，

6.根据权利要求4或5所述的光纤收卷装置，其特征在于，

7.根据权利要求4至6中任意一项所述的光纤收卷装置，其特征在于，

8.根据权利要求7所述的光纤收卷装置，其特征在于，

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种光纤试验方法，其特征在于，

2.根据权利要求1所述的光纤试验方法，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的光纤试验方法，其特征在于，所述光纤为在各层中不同的3根光纤。

4.一种光纤收卷装置，其特征在于包括：

...

【专利技术属性】
技术研发人员：山田裕介，菊池雅，樱井信，铁谷成且，谷冈裕明，
申请(专利权)人：日本电信电话株式会社，
类型：发明
国别省市：