大规模FPGA电路验证方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种大规模FPGA电路验证方法、装置及存储介质，涉及数字集成电路领域，所述方法包括：基于多个所述模块级电路的层级关系，从多个所述模块级电路中获取目标模块级电路，所述目标模块级电路的层级高于指定层级；获取所述目标模块级电路的描述结果，所述描述结果包括所述目标模块级电路的电路功能描述网表和电路连接描述网表；对所述目标模块级电路使用所述电路功能描述网表进行仿真验证。因此，通过对高于指定层级的目标模块级电路进行模块描述，减小了获取的电路功能描述网表的规模，从而，在使用目标模块级电路的电路功能描述网表对电路进行仿真验证时，就可以减小编译深度，从而达到节约仿真时间，提高验证效率的效果。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及数字集成电路领域，特别是涉及芯片验证领域，更具体地，涉及一种大规模fpga电路验证方法、装置及存储介质。

技术介绍

1、现场可编程逻辑门阵列(field-programmable gate array,fpga)器件，是作为专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)领域中的一种半定制电路而出现的，其基本结构包括可编程输入输出单元，可配置逻辑块，数字时钟管理模块，嵌入式块随机存取存储器，布线资源，内嵌专用硬核，底层内嵌功能单元。

2、随着信息科技的发展，fpga芯片能够应用的领域随之扩大，应用性能指标也随之提高，这意味着fpga芯片需要更大的电路规模、更多的可编程资源和更优化的系统集成度。然而，fpga电路规模的扩大，也带来了模块数量、模块连接复杂度和网表规模的增加，这使得在芯片验证过程中仿真时间变长，验证效率下降。

技术实现思路

1、本申请提出了一种大规模fpga电路验证方法、装置及存储介质，以改善上述缺陷。

2、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种大规模FPGA电路验证方法，其特征在于，应用于芯片，所述芯片包括多个模块级电路，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述对所述目标模块级电路使用所述电路功能描述网表进行仿真验证之前，所述方法还包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述电路功能描述网表和电路连接描述网表进行对比验证，获取验证结果，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述对所述电路功能描述网表和电路连接描述网表进行对比验证，获取验证结果之后，所述方法还包括：

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述芯片还包...

【技术特征摘要】

1.一种大规模fpga电路验证方法，其特征在于，应用于芯片，所述芯片包括多个模块级电路，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述对所述目标模块级电路使用所述电路功能描述网表进行仿真验证之前，所述方法还包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述电路功能描述网表和电路连接描述网表进行对比验证，获取验证结果，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述对所述电路功能描述网表和电路连接描述网表进行对比验证，获取验证结果之后，所述方法还包括：

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述芯片还包括特殊输入端口和普通输入端口，所述激励包括特殊激励和随机激励，所述特殊激励施加在所述特殊输入端口上，所述随机激励施加在所述普通输入端口上。

【专利技术属性】
技术研发人员：陈逸韬，张勇，温长清，
申请(专利权)人：深圳市紫光同创电子有限公司，
类型：发明
国别省市：