采用正交光功率比值的单波长型微波测频方案制造技术

本发明专利技术公开了一种采用正交光功率比值的单波长型微波测频方案。在此方案中，微波信号经载波抑制单边带调制模块加载到一个连续激光光源的输出光信号上，仅生成单个一阶光边带；此光边带同时输入到由同一个高双折射元件构建的两个梳状滤波器中。经滤波、检测和对比之后，分别获得与微波频率成余弦函数关系和正弦函数关系的两个光功率比值，即正交光功率比值。结合两个正交光功率比值可以在梳状滤波响应的整个自由频谱区内解调出唯一的频率值。本发明专利技术以单个光源、单个高双折射元件构建了采用正交光功率比值的微波测频方案，以精简的装置在整个自由频谱区内实现测频，并在设计组合结构型测频装置中有着广泛的应用前景。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及微波光子学、微波检测领域，尤其是光子型微波测频技术。
技术介绍
随着微波光子学的兴起，以光子技术生成、传输、处理微波信号逐渐成为研究热 点。以光子技术型微波测频为例，其在宽带瞬时性能、低损耗、抗电磁干扰方面有着明显的 优势。就目前的研究进展分析，基于光功率检测的测频方案具有较大的竞争优势，因其仅需 要低速的光电探测器。这一类型方案大部分采用信道滤波器、光域混频效应、以及光梳状滤 波器来获取频率信息。以采用光梳状滤波器型方案为研究和分析对象光梳状滤波器依照滤波响应 将微波频率信息映射成光功率，进而从光功率比值中解调出频率值，诸如(1). H. Chi, X. Zou, and J. Yao, "An approach to themeasurement of microwave frequency based on optical powermonitoring，，，IEEE Photonics Technology Letters，vol. 20, no. 14， pp. 1249-1251，2008 ； (2).X. Zou, H. Chi，and J. Yao,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种采用正交光功率比值的单波长型微波测频方案，基于主要由一个激光光源、一个载波抑制单边带调制模块、一个梳状滤波器模块、以及一个频率解调模块构成的频率测量装置；待测微波信号施加到载波抑制单边带调制模块中对所述光源的输出光信号进行外调制，生成单个一阶光边带；所述的单个光边带同时输入到梳状滤波器模块的两个梳状滤波器中，得到两个正交光功率比值；结合所述的两个正交光功率比值进行频率解调，在梳状滤波响应的整个自由频谱区内检测出唯一确定的频率值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邹喜华，潘炜，罗斌，闫连山，
申请(专利权)人：西南交通大学，
类型：发明
国别省市：90[中国|成都]