System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 磁光缺陷可视化系统技术方案_技高网

磁光缺陷可视化系统技术方案

技术编号:40187105 阅读:14 留言:0更新日期:2024-01-26 23:51
一种磁光成像设备,适用于与成像装置(如智能手机、平板电脑或管道镜)一起使用,用于使用磁光效应可视化检测部件表面或次表面中的缺陷。磁光成像设备包括外壳,该外壳具有用于与成像装置连接的接口,使得成像装置的相机和光源可以实现磁光可视化。外壳包括光学元件,该光学元件包括一个或多个过滤器、偏振器、磁光或石榴石薄膜,以及分析器。外壳还包括用于在部件中感应磁场的柔性线圈或电端子。磁光成像设备可以包括一个或多个适形材料的半透明或透明体,以使磁光薄膜和柔性线圈与部件的非平面表面相适应。

【技术实现步骤摘要】

这些教导总体上涉及用于检测诸如飞机部件等材料中的缺陷和不连续性(例如裂纹)的设备、系统和方法,并且更具体地涉及使用具有成像装置的磁光可视化来可视化缺陷。


技术介绍

1、在许多应用中,必须检测黑色金属或有色金属材料中的近表面裂纹、空隙、不连续性、裂缝和缺陷,以确保材料的结构完整性。例如,包括许多航空和航天运载器的部件的材料完整性对于它们的正常操作至关重要,特别是对于承受高应力的部件,例如涡轮和风扇叶片。

2、许多非破坏性测试技术用于检测材料中的裂纹、裂缝、缺陷等。例如,荧光渗透检测(fpi)可用于可视化与材料表面连通的缺陷。然而,fpi无法检测到材料表面缺少开口的材料中的内部缺陷。

3、需要用于可视化材料中的缺陷的简单、灵活和有效的系统。


技术实现思路

【技术保护点】

1.一种使用磁光效应可视化部件中的缺陷的设备,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,进一步包括一个或多个反射表面或折射单元,所述一个或多个反射表面或折射单元用于将由所述磁光薄膜反射的所述偏振光引导到附接的成像装置的所述相机。

3.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,其中,所述透明或半透明适形体包括由可变形膜封装的流体。

4.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,进一步包括电流源,所述电流源可操作地连接到所述柔性线圈和所述电端子中的至少一个以用于向其施加电流。

5.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,进一步包括电连接,所述电连接用于将所述柔性线圈和所述电端子中的至少一个连接到所述成像装置的电接口。

6.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,其中,所述近端接口被配置为可操作地连接到所述成像装置,其中,所述成像装置选自由智能手机、平板电脑和管道镜组成的组。

7.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,其中,所述外壳的所述远端包括非适形的且被配置为允许所述偏振光从中穿过的远侧定向面,并且其中,所述透明或半透明适形体可操作地连接到所述远侧定向面。

8.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,其中,所述透明或半透明适形体是凝胶状材料。

9.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,其中,所述柔性线圈具有片状配置,并且所述透明或半透明适形体适于使所述柔性线圈和所述磁光薄膜与所述部件的非平面表面相适应。

10.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,进一步包括成像装置,所述成像装置可移除地连接到所述外壳的所述近端接口,所述成像装置包括所述光源和所述相机。

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【技术特征摘要】

1.一种使用磁光效应可视化部件中的缺陷的设备,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,进一步包括一个或多个反射表面或折射单元,所述一个或多个反射表面或折射单元用于将由所述磁光薄膜反射的所述偏振光引导到附接的成像装置的所述相机。

3.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,其中,所述透明或半透明适形体包括由可变形膜封装的流体。

4.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,进一步包括电流源,所述电流源可操作地连接到所述柔性线圈和所述电端子中的至少一个以用于向其施加电流。

5.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,进一步包括电连接,所述电连接用于将所述柔性线圈和所述电端子中的至少一个连接到所述成像装置的电接口。

6.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,其中,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:马诺·库马尔·科伊提塔·米塔尔维克拉姆·梅拉普迪阿帕尔那·查克拉帕尼·塞拉·瓦德萨提亚·莫翰·瓦米思·安达拉姆
申请(专利权)人:通用电气公司
类型:发明
国别省市:

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