一种基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法技术

技术编号:40163111 阅读:32 留言:0更新日期:2024-01-26 23:36
本发明专利技术公开了一种基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法,包括:人工设定时间长度;收集待测软件早期的测试数据,获得各测试周期内该时间长度x的软件缺陷数量;利用指数分布的概率密度函数计算各测试周期内产生软件缺陷的概率,并分析软件缺陷变化趋势,再结合软件缺陷的优先级,对软件开发问题进行评估;进入回归测试阶段。通过直接计算各测试周期的时间长度内产生的软件缺陷数量,并计算软件缺陷产生概率及下降趋势的方法,无需受数据类不平衡和高度复杂化的特征问题的影响,更加具有普适性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种软件缺陷预测方法,尤其涉及一种基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法


技术介绍

1、软件缺陷预测在软件领域一直极为活跃,其对软件质量分析、减少开发时间、降低开发成本等方面具有重要的价值。软件缺陷预测技术是指按照软件的基本属性规模、复杂性、开发方法和过程,以及已知缺陷来预测潜在但还未被发现的缺陷。软件缺陷预测技术能够帮助测试人员掌握软件失效模式、了解质量状态,并决定软件是否交予用户使用。

2、软件缺陷是关乎软件质量水平的核心问题。如何在软件开发的生命周期中发现软件缺陷成了要解决的重要问题,如何能尽早的发现软件缺陷,从而处理软件缺陷,就能从根源上避免软件故障的发生,保障软件的质量。

3、目前的新型软件系统,具有行为突现、高维交互、高度复杂的特征,正是由于这些特征的存在,导致现有技术中,目前的软件缺陷预测面临着以下两个问题:数据类不平衡问题和高度复杂化的特征问题。因此,面对复杂特征和类不平衡问题上,传统的软件缺陷预测技术已经不能适应当前软件系统的需求。


技术实现思路>

1、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法,其特征在于:所述步骤S2中测试数据来自早期测试过程中的缺陷管理工具jira,在jira中查询并统计软件缺陷数量。

3.根据权利要求2所述的基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法,其特征在于:所述步骤S2中,统计所述软件缺陷数量后,从软件缺陷数量中获取峰值并计算变化趋势。

4.根据权利要求1所述的基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法,其特征在于:所述步骤S3中将时间长度x与各测试周期内该时间长度x内软件缺陷数量带入...

【技术特征摘要】

1.一种基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法,其特征在于:所述步骤s2中测试数据来自早期测试过程中的缺陷管理工具jira,在jira中查询并统计软件缺陷数量。

3.根据权利要求2所述的基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法,其特征在于:所述步骤s2中,统计所述软件缺陷数量后,从软件缺陷数量中获取峰值并计算变化趋势。

4.根据权利要求1所述的基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法,其特征在于:所述步骤s3中将时间长度x与各测试周期内该时间长度x内软件缺陷数量带入指数分布的概率密度函数中,得出各测试周期内该时间长度的概率密度f(x);计算时间长度x与各测试周期内该时间长度的概率密度f(x)的乘积,得到面积s即在各测试周期内该时间长度x产生软件缺陷的概率。

5.根据权利要求1所述的基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法,其特征在于:所述步骤s4中指数分布研究软件缺陷确实图中曲线尾部呈凸函数,则软件缺陷变化趋势为上升趋势,软件缺陷数量不呈收敛状态。

6.根据权利要求5所述的基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法,其特征在于:所述指数分布研究软件缺陷趋势图...

【专利技术属性】
技术研发人员:程立亮
申请(专利权)人:长春嘉诚信息技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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