System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 基于KMnO4-Al2O3体系的Mn氧化物增效的4H-SiC化学机械抛光液制造技术_技高网

基于KMnO4-Al2O3体系的Mn氧化物增效的4H-SiC化学机械抛光液制造技术

技术编号:40162290 阅读:9 留言:0更新日期:2024-01-26 23:35
本发明专利技术为一种基于KMnO<subgt;4</subgt;‑Al<subgt;2</subgt;O<subgt;3</subgt;体系的Mn氧化物增效4H‑SiC化学机械抛光液。所述抛光液包括氧化剂KMnO<subgt;4</subgt;、Al<subgt;2</subgt;O<subgt;3</subgt;磨料颗粒、Mn氧化物、pH调节剂和去离子水;其中,氧化剂KMnO<subgt;4</subgt;的浓度为0.01~0.1mol/L,Al<subgt;2</subgt;O<subgt;3</subgt;磨料颗粒的浓度为0.01wt.%~10wt.%,Al<subgt;2</subgt;O<subgt;3</subgt;磨料颗粒的粒径为100nm~500nm,Mn氧化物的浓度为0.01wt.%~1wt.%,所述4H‑SiC抛光液pH值为7~11。所述Mn氧化物为MnO<subgt;2</subgt;、Mn<subgt;2</subgt;O<subgt;3</subgt;、Mn<subgt;3</subgt;O<subgt;4</subgt;中的一种或几种。本发明专利技术解决了传统碳化硅抛光液对4H‑SiC晶圆表面材料去除速率低、抛光后表面质量差、对设备腐蚀严重的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于碳化硅抛光液领域,具体涉及一种基于kmno4-al2o3体系的mn氧化物增效4h-sic化学机械抛光液及其制备方法


技术介绍

1、作为集成电路产业的物质基础,碳化硅凭借着其较宽的禁带宽度(3.26ev)、较高的导热系数(4.9w·cm-1·℃-1)、较大的击穿电场(3*106/v*cm)和较快的电子饱和漂移速度(2.7*107cm/s)等优越的材料特性,在耐高温、耐高压、耐高频、低能量损耗的半导体器件领域均有较大优势,被广泛应用于智能电网、轨道交通、光伏发电、5g通信、新能源汽车等领域。cmp作为半导体加工工艺中的一种抛光技术,它通过化学腐蚀和机械研磨的协同作用,实现晶圆全局平坦化的效果,在碳化硅器件的制造中有着非常重要的影响。

2、作为一种典型的硬脆性材料,单晶碳化硅材料有着极高的硬度和极强的化学惰性,为了达到半导体器件的制造标准和满足工业生产的实际需求,对碳化硅衬底的加工效率和加工后的表面质量提出了极高的要求。liang等人(doi:10.16553/j.cnki.issn1000-985x.2015.07.005)使用强氧化剂kmno4对4h-sic晶圆进行化学机械抛光,研究发现,适当浓度的高锰酸钾对4h-sic晶圆的si面和c面的抛光效果均有改善,在ph 3的条件下,当kmno4的浓度为0.3wt%时,4h-sic晶圆抛光后si面粗糙度ra为0.0946nm,达到了原子级表面平整度,但4h-sic晶圆的si面的去除速率仅为0.5um/h。wang wei lei等人(doi:10.1149/2162-8777/ac9f66)研究发现,在ph 2.5的条件下,向kmno4-al2o3加入硝酸铁作为催化剂可以使4h-sic晶圆的材料去除速率提高到1.148μm/h,表面粗糙度ra从0.123nm降低到0.110nm,但在强酸性条件下,使用kmno4-al2o3体系对4h-sic晶圆进行抛光,将对抛光设备产生显著侵蚀作用,严重影响其使用寿命。


技术实现思路

1、本专利技术针对当前技术中存在的不足,提供一种基于kmno4-al2o3体系的mn氧化物增效4h-sic化学机械抛光液及其制备方法,具体的,在弱碱性条件下,向kmno4-al2o3体系中以单一或者复配的方式添加mn氧化物,使材料去除速率达到1.2um/h以上,表面粗糙度sq达到0.3nm以下,以解决传统碳化硅抛光液对4h-sic晶圆表面材料去除速率低、抛光后表面质量差、对设备腐蚀严重的问题。

2、为实现上述目的,本专利技术采用的技术方案为:

3、一种基于kmno4-al2o3体系的mn氧化物增效4h-sic化学机械抛光液,所述4h-sic抛光液包括氧化剂kmno4、al2o3磨料颗粒、mn氧化物、ph调节剂和去离子水;

4、其中,氧化剂kmno4的浓度为0.01~0.1mol/l,al2o3磨料颗粒的浓度为0.01wt.%~10wt.%,al2o3磨料颗粒的粒径为100nm~500nm,mn氧化物的浓度为0.01wt.%~1wt.%,所述4h-sic抛光液ph值为7~11。

5、所述mn氧化物为mno2、mn2o3、mn3o4中的一种或几种;

6、优选的,所述氧化剂kmno4的摩尔浓度为0.025mol/l。

7、优选的,所述al2o3磨料颗粒含量为2wt.%。

8、优选的,所述al2o3磨料颗粒的粒径为300nm。

9、优选的,mn氧化物的含量为0.3wt.%。

10、优选的,所述4h-sic抛光液ph为8。

11、优选的,所述ph调节剂为hno3或koh,本专利技术对ph调节剂无特殊限定,能够保证4h-sic抛光液的ph达到上述要求即可。

12、所述基于kmno4-al2o3体系的mn氧化物增效4h-sic化学机械抛光液的制备方法,包括如下步骤:

13、称取固定含量的氧化剂kmno4、al2o3磨料颗粒和mn氧化物,使之均匀分散在固定含量的去离子水中,使用hno3或koh调节ph值至7~11,得到所述4h-sic抛光液。

14、所述的基于kmno4-al2o3体系的mn氧化物增效4h-sic化学机械抛光液的应用,用于抛光功率电子器件、光电子器件或射频微波器件制造中所需的4h-sic衬底材料。

15、所述的基于kmno4-al2o3体系的mn氧化物增效4h-sic化学机械抛光液的抛光工艺参数为:抛光机:ssp-500;抛光液流量为10ml/min、抛头转速为50r/min、抛盘转速为:50r/min、压力为:5.2psi、抛光时间:1h、温度:25℃。

16、与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:

17、本专利技术的4h-sic抛光液,充分发挥了氧化剂kmno4的强氧化性和磨料al2o3的高磨削能力,同时,充分利用了mn氧化物对氧化剂kmno4的活化特性以及对氧化还原反应的催化特性,进一步提高了4h-sic晶圆的材料去除速率并改善了抛光后4h-sic晶圆的表面质量。具体的,在ph 8的条件下,当mno2和mn3o4以3:1的复配比添加到kmno4-al2o3体系中时,4h-sic晶圆的抛光效果达到最佳,相对于不加添加剂的kmno4-al2o3体系来说,4h-sic晶圆的抛光速率提高了33%,且表面粗糙度sq降到0.3nm以下。提高了加工效率,降低了成本,同时,晶圆表面质量的改善进一步提升了成品率。本专利技术的4h-sic抛光液,充分利用弱碱性条件下氧化剂kmno4腐蚀能力相对温和的特点,减缓了氧化剂kmno4对设备的侵蚀作用,延长了设备的使用寿命,降低了维护和更换设备的成本。

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【技术保护点】

1.一种基于KMnO4-Al2O3体系的Mn氧化物增效4H-SiC化学机械抛光液,其特征为所述抛光液包括氧化剂KMnO4、Al2O3磨料颗粒、Mn氧化物和去离子水,pH值为7~11;

2.如权利要求1所述的基于KMnO4-Al2O3体系的Mn氧化物增效4H-SiC化学机械抛光液,其特征为所述Mn氧化物为MnO2、Mn2O3、Mn3O4中的一种或几种。

3.如权利要求1所述的基于KMnO4-Al2O3体系的Mn氧化物增效4H-SiC化学机械抛光液,其特征为所述氧化剂KMnO4的摩尔浓度为0.025mol/L;所述Al2O3磨料颗粒含量为2wt.%;所述Al2O3磨料颗粒的粒径为300nm;Mn氧化物的含量为0.3wt.%;所述4H-SiC抛光液pH为8。

4.如权利要求1所述的基于KMnO4-Al2O3体系的Mn氧化物增效4H-SiC化学机械抛光液,其特征为所述pH调节剂为HNO3或KOH。

5.如权利要求1所述基于KMnO4-Al2O3体系的Mn氧化物增效4H-SiC化学机械抛光液的制备方法,其特征为包括如下步骤:

6.如权利要求1所述的基于KMnO4-Al2O3体系的Mn氧化物增效4H-SiC化学机械抛光液的应用,其特征为用于抛光功率电子器件、光电子器件或射频微波器件制造中所需的4H-SiC衬底材料。

7.如权利要求1所述的基于KMnO4-Al2O3体系的Mn氧化物增效4H-SiC化学机械抛光液的抛光工艺参数,其特征为:抛光机:SSP-500;抛光液流量为10ml/min、抛头转速为50r/min、抛盘转速为:50r/min;压力为:5.2psi;抛光时间:1h;温度:25℃。

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【技术特征摘要】

1.一种基于kmno4-al2o3体系的mn氧化物增效4h-sic化学机械抛光液,其特征为所述抛光液包括氧化剂kmno4、al2o3磨料颗粒、mn氧化物和去离子水,ph值为7~11;

2.如权利要求1所述的基于kmno4-al2o3体系的mn氧化物增效4h-sic化学机械抛光液,其特征为所述mn氧化物为mno2、mn2o3、mn3o4中的一种或几种。

3.如权利要求1所述的基于kmno4-al2o3体系的mn氧化物增效4h-sic化学机械抛光液,其特征为所述氧化剂kmno4的摩尔浓度为0.025mol/l;所述al2o3磨料颗粒含量为2wt.%;所述al2o3磨料颗粒的粒径为300nm;mn氧化物的含量为0.3wt.%;所述4h-sic抛光液ph为8。

4.如权利要求1所述的基于kmno4-a...

【专利技术属性】
技术研发人员:崔德兴张保国刘敏咸文豪
申请(专利权)人:河北工业大学
类型:发明
国别省市:

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